[發(fā)明專利]聯(lián)機(jī)x射線測(cè)量設(shè)備和方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011559107.1
• 申請(qǐng)日: 2016-06-10
• 公開（公告）號(hào): CN112763521A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬克·B·基爾舍曼
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 伊利諾斯工具制品有限公司
• 主分類號(hào): G01N23/18
• 分類號(hào): G01N23/18;G01N23/083
• 代理公司: 上海脫穎律師事務(wù)所 31259
• 代理人: 脫穎

一種x射線檢查設(shè)備可以包括x射線源、x射線檢測(cè)器和驅(qū)動(dòng)組件。所述驅(qū)動(dòng)組件可配置為提升部件載體，以使得所述部件載體從進(jìn)給組件脫開并且安裝在所述部件載體上的物體定位在所述x射線源與所述x射線檢測(cè)器之間。所述進(jìn)給組件可以被配置為供送部件載體進(jìn)出x射線檢查設(shè)備。驅(qū)動(dòng)組件可以進(jìn)一步配置為隨后降低部件載體，以使得所述部件載體與所述進(jìn)給組件重新接合。

本申請(qǐng)是申請(qǐng)日為2016年6月10日、國(guó)際申請(qǐng)?zhí)枮镻CT/US2016/036922、國(guó)家申請(qǐng)?zhí)枮?01680046538.3、發(fā)明名稱為“聯(lián)機(jī)x射線測(cè)量設(shè)備和方法”的發(fā)明專利申請(qǐng)的分案申請(qǐng)。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及物體的x射線檢查。

背景技術(shù)

x射線計(jì)算機(jī)斷層攝影(CT)是一種使用計(jì)算機(jī)處理的x射線來產(chǎn)生物體的斷層圖像的程序。物體的斷層圖像是物體的概念上的二維“切片”的圖像。計(jì)算裝置可以使用物體的斷層圖像來生成物體的三維圖像。x射線CT可用于工業(yè)目的進(jìn)行物體的無損評(píng)估。x射線測(cè)量是一種相關(guān)的技術(shù)，在該技術(shù)中使用x射線來測(cè)量被測(cè)物體的內(nèi)部和外部尺寸。

發(fā)明內(nèi)容

通常，本公開描述了用于在生產(chǎn)環(huán)境或其他類型的環(huán)境中對(duì)部件或其他物體進(jìn)行x射線檢查的x射線檢查設(shè)備、系統(tǒng)和方法。

在一個(gè)實(shí)例中，本公開描述了包括x射線源、x射線檢測(cè)器和驅(qū)動(dòng)組件(即，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu))的x射線檢查設(shè)備。所述驅(qū)動(dòng)組件配置為提升部件載體，以使得所述部件載體從進(jìn)給組件脫開并且安裝在所述部件載體上的物體定位在所述x射線源與所述x射線檢測(cè)器之間。所述進(jìn)給組件被配置為供送所述部件載體進(jìn)出所述x射線檢查設(shè)備。所述驅(qū)動(dòng)組件進(jìn)一步配置為隨后降低所述部件載體，以使得所述部件載體與所述進(jìn)給組件重新接合。

在另一個(gè)實(shí)例中，本公開描述了一種方法，其包括：提升部件載體，以使得所述部件載體從進(jìn)給組件上脫開并且安裝在所述部件載體上的物體定位在x射線源與x射線檢測(cè)器之間，其中所述進(jìn)給組件被配置為供送所述部件載進(jìn)出包括所述x射線源和所述x射線檢測(cè)器的x射線檢查設(shè)備，以及隨后降低所述部件載體，以使得所述部件載體與所述進(jìn)給組件重新接合。

在另一實(shí)例中，本公開描述了一種x射線檢查設(shè)備，其包括：x射線源、x射線檢測(cè)器、機(jī)器人進(jìn)給組件、封閉所述x射線源、所述x射線檢測(cè)器和所述機(jī)器人進(jìn)給組件的放射防護(hù)罩。在該實(shí)例中，所述放射防護(hù)罩限定開口。該設(shè)備還包括配置為選擇性地覆蓋和露出所述開口的門。在該實(shí)例中，所述機(jī)器人進(jìn)給組件被配置為：將部件載體從進(jìn)給組件移動(dòng)通過開口，并且移動(dòng)到所述x射線源與所述x射線檢測(cè)器之間的位置，其中待檢查的物體被安裝在所述部件載體上。所述機(jī)器人進(jìn)給組件配置為隨后將部件載體移動(dòng)返回通過開口到進(jìn)給組件。

在另一個(gè)實(shí)例中，本公開描述了一種方法，該方法包括：由封閉在限定開口的放射防護(hù)罩內(nèi)的機(jī)器人進(jìn)給組件將部件載體從進(jìn)給組件移動(dòng)通過開口并移動(dòng)到封閉在所述放射防護(hù)罩內(nèi)的x射線源與封閉在所述放射防護(hù)罩內(nèi)的x射線檢測(cè)器之間的位置，其中待檢查的物體安裝在所述部件載體上，隨后由機(jī)器人進(jìn)給組件將部件載體移動(dòng)返回通過開口到進(jìn)給組件。

在附圖和下面的描述中闡述了一個(gè)或多個(gè)實(shí)例的細(xì)節(jié)。從說明書、附圖和權(quán)利要求書中，其他特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將是顯而易見的。

附圖說明

圖1是示出可以執(zhí)行本公開的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)的實(shí)例性x射線檢查設(shè)備的框圖。

圖2是示出根據(jù)本公開的技術(shù)的x射線檢查設(shè)備的實(shí)例性外部視圖的示意圖。

圖3示出了根據(jù)本公開的技術(shù)的圖2中的x射線檢查設(shè)備的實(shí)例性剖面圖的示意圖。

圖4是示出根據(jù)本公開的技術(shù)的圖2中的x射線檢查設(shè)備的外部部件的實(shí)例性俯視圖的示意圖。

圖5示出了根據(jù)本公開的技術(shù)的圖2中的x射線檢查設(shè)備的內(nèi)部部件的實(shí)例性俯視圖的示意圖。