[發明專利]測試用例排序方法及電子設備

在審

• 申請號: 202011552451.8
• 申請日: 2020-12-24
• 公開（公告）號: CN112559374A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: 崔冬
• 申請（專利權）人: 深圳壹賬通智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06N3/12
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 遲珊珊

1.一種測試用例排序方法，其特征在于，所述測試用例排序方法包括：

獲取測試用例集，對所述測試用例集中的測試用例按隨機順序進行排列得到第一規模測試用例序列，將所述第一規模測試用例序列作為初代測試用例序列種群；

對所述初代測試用例序列種群中的每個測試用例序列進行二進制編碼；

使用選擇函數對經過二進制編碼的所述初代測試用例序列種群進行評價得到測試用例序列的評價值，根據每個測試用例序列的評價值對所述初代測試用例序列種群進行無回放隨機選擇，并使用單點交叉算子和/或序號變異算子對無回放隨機選擇得到的測試用例序列進行計算得到第一代子代測試用例序列種群，合并所述第一代子代測試用例序列種群與所述初代測試用例序列種群得到第二規模的第一代測試用例序列合并種群；

對所述第一代測試用例序列合并種群進行非支配排序，計算所述第一代測試用例序列合并種群的擁擠度，并根據所述擁擠度使用擁擠度比較算子對所述第一代測試用例序列合并種群進行計算得到第一規模的第一代測試用例序列種群，并令迭代次數g＝1；

對所述第一代測試用例序列種群執行預設操作直至g等于預設閾值，將第g代測試用例序列種群作為最優解集，輸出所述最優解集。

2.如權利要求1所述的測試用例排序方法，其特征在于，所述執行預設操作包括：

使用選擇函數對第g代測試用例序列種群進行評價得到測試用例序列的評價值，根據每個測試用例序列的評價值對所述第g代測試用例序列種群進行無回放隨機選擇，并使用單點交叉算子和/或改進變異算子對無回放隨機選擇得到的測試用例序列進行計算得到第g+1代子代測試用例序列種群；

合并所述第g代測試用例序列種群和所述第g+1代子代測試用例序列種群得到第二規模的第g+1代測試用例序列合并種群；

對所述第g+1代測試用例序列合并種群進行非支配排序；

計算所述第g+1代測試用例序列合并種群的擁擠度；

根據所述第g+1代測試用例序列合并種群的擁擠度使用擁擠度比較算子得到第一規模的第g+1代測試用例序列種群，令迭代次數g＝g+1。

3.如權利要求1所述的測試用例排序方法，其特征在于，所述根據每個測試用例序列的評價值對所述初代測試用例序列種群進行無回放隨機選擇，并使用單點交叉算子和/或序號變異算子對無回放隨機選擇得到的測試用例序列進行計算得到第一代子代測試用例序列種群包括：

創建步驟，創建所述第一代子代測試用例序列種群；

隨機選擇步驟，根據每個測試用例序列的評價值對所述初代測試用例序列種群進行無回放隨機選擇得到初始資源池；

交叉變異步驟，使用所述單點交叉算子和/或所述序號變異算子對所述初始資源池中的測試用例序列進行交叉和變異，將經過交叉和變異的所述測試用例序列加入所述子代測試用例序列種群；

種群生成步驟，重復所述隨機選擇步驟與所述交叉變異步驟，直至所述子代測試用例序列種群規模為所述第一規模。

4.如權利要求3所述的測試用例排序方法，其特征在于，使用所述序號變異算子對所述初始資源池中的測試用例序列進行變異包括：

隨機選擇所述初始資源池中至少一個測試用例序列，對于所述至少一個測試用例序列中的每個測試用例序列，隨機選擇所述測試用例序列上的兩個基因位，交換兩個所述基因位對應的測試用例。