[發明專利]一種抗干擾方法、裝置、設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202011551352.8
• 申請日: 2020-12-24
• 公開（公告）號: CN112737614A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 劉運學
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: H04B1/10
• 分類號: H04B1/10
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王學強

1.一種抗干擾方法，其特征在于，包括：

獲取射頻模塊的第一工作頻率值范圍；

確定所述第一工作頻率值范圍中的最小值和最大值；

計算所述最小值與待測頻率值的第一比值，以及所述最大值與所述待測頻率值的第二比值；所述待測頻率值為干擾源的第二工作頻率值范圍中的其中一個頻率值；

判斷所述第一比值與所述第二比值的差異值是否符合預設條件；

若是，則確定所述待測頻率值不干擾所述射頻模塊，并控制所述干擾源以所述待測頻率值工作。

2.根據權利要求1所述的抗干擾方法，其特征在于，若所述差異值為所述第一比值減所述第二比值的差值，則所述判斷所述第一比值與所述第二比值的差異值是否符合預設條件，包括：

判斷所述差異值是否不小于零。

3.根據權利要求1所述的抗干擾方法，其特征在于，若所述差異值為所述第二比值減所述第一比值的差值，則所述判斷所述第一比值與所述第二比值的差異值是否符合預設條件，包括：

判斷所述差異值是否不大于零。

4.根據權利要求1所述的抗干擾方法，其特征在于，還包括：

若所述差異值不符合所述預設條件，則確定所述待測頻率值干擾所述射頻模塊，從所述第二工作頻率值范圍中選擇另一個頻率值作為所述待測頻率值，并執行所述計算所述最小值與待測頻率值的第一比值，以及所述最大值與所述待測頻率值的第二比值的步驟。

5.根據權利要求1至4任一項所述的抗干擾方法，其特征在于，還包括：

從所述第一工作頻率值范圍中選擇第一頻率值；

從所述第二工作頻率值范圍中選擇第二頻率值；

判斷所述第一頻率值是否為所述第二頻率值的整數倍；

若是，則從所述第二工作頻率值范圍中選擇另一個頻率值作為所述第二頻率值，并執行所述判斷所述第一頻率值是否為所述第二頻率值的整數倍的步驟；

若否，則控制所述干擾源以所述第二頻率值工作。

6.根據權利要求5所述的抗干擾方法，其特征在于，還包括：

若所述第一頻率值不是所述第二頻率值的整數倍，則記錄所述第二頻率值至不干擾表，并判斷所述第二工作頻率值范圍內的頻率值是否遍歷完畢；

若是，則將第一頻率值作為所述不干擾表的標簽，并輸出具有所述標簽的所述不干擾表；

若否，則從所述第二工作頻率值范圍中選擇另一個頻率值作為所述第二頻率值，并執行所述判斷所述第一頻率值是否為所述第二頻率值的整數倍的步驟。

7.根據權利要求6所述的抗干擾方法，其特征在于，從所述第一工作頻率值范圍中選擇第一頻率值，包括：

將所述第一工作頻率值范圍中的各個頻率值按照歷史使用次數降序排列，得到目標序列；

選擇所述目標序列中的前N個頻率值中的其中一個作為所述第一頻率值；N為正整數；

或

將所述第一工作頻率值范圍中的各個頻率值按照歷史使用次數升序排列，得到目標序列；

選擇所述目標序列中的后N個頻率值中的其中一個作為所述第一頻率值；N為正整數。

8.一種抗干擾裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取射頻模塊的第一工作頻率值范圍；

確定模塊，用于確定所述第一工作頻率值范圍中的最小值和最大值；

計算模塊，用于計算所述最小值與待測頻率值的第一比值，以及所述最大值與所述待測頻率值的第二比值；所述待測頻率值為干擾源的第二工作頻率值范圍中的其中一個頻率值；

判斷模塊，用于判斷所述第一比值與所述第二比值的差異值是否符合預設條件；

控制模塊，用于若所述差異值符合所述預設條件，則確定所述待測頻率值不干擾所述射頻模塊，并控制所述干擾源以所述待測頻率值工作。

9.一種電子設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序，以實現如權利要求1至7任一項所述的抗干擾方法。

10.一種可讀存儲介質，其特征在于，用于保存計算機程序，其中，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至7任一項所述的抗干擾方法。