[發明專利]一種電子元器件的檢測方法、裝置、終端設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202011545129.2 | 申請日: | 2020-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN112731030A | 公開(公告)日: | 2021-04-30 |
| 發明(設計)人: | 廖根中 | 申請(專利權)人: | 深圳市優必選科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R1/28 |
| 代理公司: | 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414 | 代理人: | 肖遙 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 電子元器件 檢測 方法 裝置 終端設備 存儲 介質 | ||
1.一種電子元器件的檢測方法,其特征在于,包括:
在接收到檢測指令后,向程控儀器發送檢測信息,其中,所述程控儀器與待檢測的電子元器件相連,所述檢測信息用于指示所述程控儀器向所述電子元器件發送檢測信號,以使得所述電子元器件處于運行狀態;
獲取所述程控儀器中目標通道內的測試數據,實時顯示和保存所述測試數據,其中,所述目標通道為所述程控儀器向所述電子元器件發送信號的通道;
基于所述測試數據,獲得所述電子元器件的檢測結果。
2.如權利要求1所述的電子元器件的檢測方法,其特征在于,在所述程控儀器為程控電壓電源時,所述測試數據為電流數據;
所述獲取所述程控儀器中目標通道內的測試數據,實時顯示和保存所述測試數據,包括:
按預設采樣頻率對所述目標通道內的電流數據進行采樣,得到采樣電流;
實時顯示所述采樣電流,并將所述采樣電流和對應的采樣時間關聯存儲;
根據所述采樣電流,繪制數據曲線,并實時顯示所述數據曲線;
根據采集到的采樣電流,計算所述采樣電流的平均電流;
實時顯示并保存所述平均電流、所述采樣電流中的最大電流和所述采樣電流中的最小電流。
3.如權利要求2所述的電子元器件的檢測方法,其特征在于,所述基于所述測試數據,獲得所述電子元器件的檢測結果,包括:
判斷所述采樣電流中是否存在突變電流,其中,所述突變電流為與相鄰的采樣時間采集的采樣電流的差值在預設范圍內的電流;
若所述采樣電流中存在所述突變電流,則所述檢測結果為所述電子元器件存在異常;
若所述采樣電流中不存在所述突變電流,則所述檢測結果為所述電子元器件正常。
4.如權利要求1所述的電子元器件的檢測方法,其特征在于,所述向程控儀器發送控制信息之前,還包括:
獲取用戶輸入的所述程控儀器的第一信息,其中,所述第一信息包括所述程控儀器的設備型號和/或設備地址;
在接收到儀器發現指令后,獲取已連接的所有候選程控儀器的第二信息,其中,所述第二信息包括所述候選程控儀器的設備型號和/或設備地址;
判斷所述第二信息中是否存在與所述第一信息相匹配的信息;
若所述第二信息中存在與所述第一信息相匹配的信息,則確定成功發現所述第一信息對應的所述程控儀器,并保存所述第一信息;
若所述第二信息中不存在與所述第一信息相匹配的信息,則確定未成功發現所述第一信息對應的所述程控儀器。
5.如權利要求4所述的電子元器件的檢測方法,其特征在于,在確定成功發現所述程控儀器,并保存所述第一信息之后,還包括:
獲取用戶輸入的參數信息;
在接收到控制指令后,基于所述參數信息,生成所述控制信息,其中,所述控制信息用于對所述程控儀器進行參數設置;
向所述程控儀器發送所述控制信息。
6.如權利要求5所述的電子元器件的檢測方法,其特征在于,在所述程控儀器為程控電壓電源時,所述參數信息包括所述程控儀器輸出信號時所用的目標通道、所述目標通道的輸出電壓和所述目標通道的最大電流上限;
所述基于所述參數信息,生成所述控制信息,包括:
判斷所述輸出電壓和所述最大電流上限是否與所述程控儀器相匹配;
在所述輸出電壓和所述最大電流上限與所述程控儀器相匹配時,基于所述參數信息,生成所述控制信息,其中,所述控制信息用于設置所述程控儀器的信號從所述目標通道輸出,所述控制信息還用于對所述程控儀器中的所述目標通道設置輸出電壓和最大電流上限。
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