[發(fā)明專利]基于電偶極旋轉(zhuǎn)散射光探測的納米微粒識(shí)別裝置和方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011542755.6 | 申請日: | 2020-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN112730334A | 公開(公告)日: | 2021-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李翠紅;蔣靜;傅振海;馬園園;高曉文;胡慧珠 | 申請(專利權(quán))人: | 之江實(shí)驗(yàn)室;浙江大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/47 | 分類號: | G01N21/47 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200 | 代理人: | 賈玉霞 |
| 地址: | 310023 浙江省杭州市余*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 電偶極 旋轉(zhuǎn) 散射 探測 納米 微粒 識(shí)別 裝置 方法 | ||
1.一種基于電偶極旋轉(zhuǎn)的散射光探測識(shí)別納米微粒的裝置,其特征在于,該裝置包括第一激光器(1)、第二激光器(2)、偏振調(diào)節(jié)器(3)、平面鏡(4)、合束器(5)、真空腔(6)、物鏡(7)、光電探測器(9)、物鏡(10)、濾波片(11);
所述第一激光器(1)出射捕獲激光,經(jīng)過所述偏振調(diào)節(jié)器(3)后進(jìn)入合束器(5);所述第二激光器(2)出射探測激光,經(jīng)過所述平面鏡(4)反射后也進(jìn)入所述合束器(5),捕獲激光和探測激光經(jīng)過所述合束器(5)合束后進(jìn)入位于所述真空腔(6)內(nèi)部的物鏡(7),由所述物鏡(7)匯聚形成光阱捕獲納米微粒(8);所述納米微粒(8)光照后的散射光經(jīng)濾波片(11)濾除激光器第一激光器(1)引發(fā)的散射光,僅收集第二激光器(2)激發(fā)的散射光,經(jīng)過透鏡組(10)匯聚后被光電探測器(9)探測。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電偶極旋轉(zhuǎn)的散射光探測識(shí)別納米微粒的裝置,其特征在于,所述第一激光器(1)的功率與第二激光器(2)的功率的比值大于10。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電偶極旋轉(zhuǎn)的散射光探測識(shí)別納米微粒的裝置,其特征在于,所述偏振調(diào)節(jié)器(3)優(yōu)選二分之一玻片,且通過調(diào)節(jié)二分之一玻片調(diào)節(jié)所述捕獲激光的偏振方向。
4.一種基于電偶極旋轉(zhuǎn)的散射光探測識(shí)別納米微粒的方法,其特征在于,該方法具體包括如下步驟:
(1)捕獲激光和探測激光匯聚后照射進(jìn)入真空腔內(nèi),形成光阱,懸浮待測目標(biāo)納米微粒;
(2)調(diào)節(jié)所述捕獲激光的偏振方向,使納米微粒在光阱中旋轉(zhuǎn),所述納米微粒光照后的散射光經(jīng)過濾除捕獲激光后,在固定位置處收集所述探測激光激發(fā)的散射光光強(qiáng)變化;
(3)根據(jù)納米微粒散射模型和系統(tǒng)的光學(xué)傳輸效率,若改變偏振方向,微粒的散射光強(qiáng)度變化率的誤差不超過10%,則認(rèn)定微粒為單球形,通過瑞利散射模型計(jì)算微粒的有效直徑;若改變偏振方向,微粒散射光具有漲落超過10%的散射光強(qiáng)度變化,則微粒為非球形,根據(jù)散射光漲落變化的周期特性反演微粒的形貌和尺寸。
所述捕獲激光與探測激光的光強(qiáng)之比不小于10。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于電偶極旋轉(zhuǎn)的散射光探測識(shí)別納米微粒的方法,其特征在于,當(dāng)被測納米微粒為二氧化硅微粒時(shí),第一激光器波長為1064nm,第二激光器波長為532nm。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





