[發(fā)明專利]一種高速差分信號電平調(diào)節(jié)及校準(zhǔn)方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011542575.8
• 申請日: 2020-12-24
• 公開（公告）號: CN112769435A
• 公開（公告）日: 2021-05-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王歡;靳偉平;夏杰;李凱;袁邦;王享
• 申請（專利權(quán)）人: 西安翔騰微電子科技有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 西安匠成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61255
• 代理人: 趙亞飛

本發(fā)明涉及一種高速差分信號電平調(diào)節(jié)及校準(zhǔn)方法。本發(fā)明的方法包括以下步驟：1)搭建硬件測試平臺,硬件測試平臺包括1394物理層芯片、變壓器、差分運(yùn)放和連接器，1394物理層芯片通過變壓器與連接器連接，差分運(yùn)放接入變壓器和連接器之間，連接器接不同的測試電路；2)1394信號輸入給差分運(yùn)放差分輸入端，DAC電路輸出電平控制信號給差分運(yùn)放，控制調(diào)節(jié)1394信號放大或衰減；3)對放大或衰減的1394信號進(jìn)行測量；4)根據(jù)步驟3)的測量值，來推算控制信號與1394信號的理論關(guān)系；5)通過反向推算，將理論值與測量值進(jìn)行對比，匯總出控制信號與1394信號電平的關(guān)系式，根據(jù)不同的測試電路，進(jìn)行選點(diǎn)測試，確定不同的測試電路在關(guān)系式中的平均系數(shù)；6)根據(jù)步驟5)的結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)的校準(zhǔn)。本發(fā)明減少校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的測量，提高控制信號對1394信號電平的更精準(zhǔn)的控制，可行性、可操作性高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及航空、航海和工業(yè)控制等領(lǐng)域，尤其涉及一種高速差分信號電平調(diào)節(jié)及校準(zhǔn)方法。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的高速差分信號電平調(diào)節(jié)及校準(zhǔn)方法，采用增加外圍器件的方法，其可行性和可操作性差。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明為解決背景技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題，而提供高速差分信號電平調(diào)節(jié)及校準(zhǔn)方法，減少校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的測量，提高控制信號對1394信號電平的更精準(zhǔn)的控制，可行性、可操作性高。

本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：本發(fā)明為一種高速差分信號電平調(diào)節(jié)及校準(zhǔn)方法，其特殊之處在于：該方法包括以下步驟：

1)搭建硬件測試平臺,硬件測試平臺包括1394物理層芯片、變壓器、差分運(yùn)放和連接器，1394物理層芯片通過變壓器與連接器連接，差分運(yùn)放接入變壓器和連接器之間，連接器接不同的測試電路；

2)1394信號輸入給差分運(yùn)放差分輸入端，DAC電路輸出電平控制信號給差分運(yùn)放，控制調(diào)節(jié)1394信號放大或衰減；

3)對放大或衰減的1394信號進(jìn)行測量；

4)根據(jù)步驟3)的測量值，來推算控制信號與1394信號的理論關(guān)系；

5)通過反向推算，將理論值與測量值進(jìn)行對比，匯總出控制信號與1394信號電平的關(guān)系式，根據(jù)不同的測試電路，進(jìn)行選點(diǎn)測試，確定不同的測試電路在關(guān)系式中的平均系數(shù)；

6)根據(jù)步驟5)的結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)的校準(zhǔn)。

優(yōu)選的，步驟3)中對放大或衰減的1394信號的測量是通過拆分示波器測量。

優(yōu)選的，步驟4)中通過選取有效的1394信號電平的數(shù)據(jù)分析，推算出控制信號與1394信號電平的理論關(guān)系與20倍的log相關(guān)，控制信號與1394信號電平增益的系數(shù)成正比例關(guān)系。

優(yōu)選的，步驟5)具體為理論測量運(yùn)算：

X0＝(DAC0-DAC3)/(20*log10(V0/V3))

X1＝(DAC1-DAC3)/(20*log10(V1/V3))

X2＝(DAC2-DAC3)/(20*log10(V2/V3))

X4＝(DAC4-DAC3)/(20*log10(V4/V3))

獲取平均系數(shù):

X＝(X0+X1+X2+X4)/4

Y1＝(X0+X1)/2

Y2＝(X1+X2)/2

Y4＝(X2+X4)/2

DAC0～DAC4,為選取的DAC電路的測試點(diǎn)的選定值；其中，DAC3選取的為放大倍數(shù)為接近1的參數(shù)值；