[發明專利]量子糾纏態分配方法、裝置、設備、存儲介質及產品有效
| 申請號: | 202011541649.6 | 申請日: | 2020-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN112529202B | 公開(公告)日: | 2021-09-24 |
| 發明(設計)人: | 王鑫;趙炫強;宋旨欣 | 申請(專利權)人: | 北京百度網訊科技有限公司 |
| 主分類號: | G06N10/00 | 分類號: | G06N10/00 |
| 代理公司: | 北京市鑄成律師事務所 11313 | 代理人: | 金愛靜;王姍姍 |
| 地址: | 100085 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 量子 糾纏 分配 方法 裝置 設備 存儲 介質 產品 | ||
1.一種量子糾纏態分配方法,包括:
確定待進行糾纏資源分配的至少兩個目標量子比特,其中,所述至少兩個目標量子比特中第一目標量子比特位于第一節點,所述至少兩個目標量子比特中第二目標量子比特位于第二節點;
確定與所述第一節點和所述第二節點相關聯的至少一個中間節點,其中,所述中間節點包含有至少兩個中間量子比特,所有所述中間節點所包含的全部所述中間量子比特中存在第一中間量子比特和第二中間量子比特,所述第一中間量子比特與所述第一目標量子比特之間產生有糾纏資源,所述第二中間量子比特與所述第二目標量子比特之間產生有糾纏資源;
獲取所述中間節點所對應的中間參數化量子電路,并作用到所述中間節點所對應的中間量子比特上,對所述中間節點中作用所述中間參數化量子電路后的至少部分中間量子比特進行測量,得到中間測量結果,其中,所述中間測量結果至少表征有作用所述中間節點對應的所述中間參數化量子電路后的所述第一中間量子比特和所述第二中間量子比特的狀態信息;
從所述第一節點對應的第一參數化量子電路中選取出與所述中間測量結果相匹配的目標第一參數化量子電路,并至少作用到所述第一節點對應的所述第一目標量子比特上;以及從所述第二節點對應的第二參數化量子電路中選取出與所述中間測量結果相匹配的目標第二參數化量子電路,并至少作用到所述第二節點對應的所述第二目標量子比特上;
至少獲取作用所述目標第一參數化量子電路后的所述第一目標量子比特,與作用所述目標第二參數化量子電路后的所述第二目標量子比特所得到的輸出量子態,以基于所述輸出量子態實現在所述至少兩個目標量子比特之間的量子糾纏態分配。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,待進行糾纏資源分配的目標量子比特還包括至少一個第三目標量子比特,所述第三目標量子比特位于所述中間節點;
所述對所述中間節點中作用所述中間參數化量子電路后的至少部分中間量子比特進行測量,包括:
對所述中間節點中作用所述中間參數化量子電路后的,除所述第三目標量子比特之外的其他至少部分中間量子比特進行測量。
3.根據權利要求2所述的方法,其中,所述至少獲取作用所述目標第一參數化量子電路后的所述第一目標量子比特,與作用所述目標第二參數化量子電路后的所述第二目標量子比特所得到的輸出量子態,包括:
至少獲取作用所述目標第一參數化量子電路后的所述第一目標量子比特,與作用所述目標第二參數化量子電路后的所述第二目標量子比特,以及與在所述中間節點中作用所述中間節點所使用的中間參數化量子電路后的所述至少一個第三目標量子比特所得到的輸出量子態。
4.根據權利要求1或3所述的方法,還包括:
獲取目標量子態;
基于所述輸出量子態與所述目標量子態之間的保真度,對所述中間節點所使用的中間參數化量子電路,以及所述第一節點所使用的目標第一參數化量子電路,以及所述第二節點所使用的目標第二參數化量子電路中的參數進行調整,以調整所述輸出量子態,并使調整所述輸出量子態后得到的所述保真度滿足預設條件,以得到目標輸出量子態,所述目標輸出量子態與所述目標量子態之間的保真度滿足所述預設條件。
5.根據權利要求1或3所述的方法,還包括:
獲取目標量子態;
基于所述輸出量子態與所述目標量子態之間的保真度,得到損失函數;
對所述中間節點所使用的中間參數化量子電路,以及所述第一節點所使用的目標第一參數化量子電路,以及所述第二節點所使用的目標第二參數化量子電路中的參數進行調整,以最小化所述損失函數;
將所述損失函數處于最小值化后的輸出量子態作為目標輸出量子態,所述目標輸出量子態與所述目標量子態之間的保真度滿足預設條件。
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