[發(fā)明專利]一種柔性掃描機械臂系統(tǒng)及柔性掃描方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011539480.0 | 申請日: | 2020-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN112729251A | 公開(公告)日: | 2021-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王衛(wèi)軍;謝天;吳勇強;劉京龍;馬朝陽;王子榮;何春來;楊小峰;周國鋒 | 申請(專利權(quán))人: | 上海微電機研究所(中國電子科技集團公司第二十一研究所);北京立峰中和科技有限公司 |
| 主分類號: | G01C11/02 | 分類號: | G01C11/02 |
| 代理公司: | 北京五洲洋和知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11387 | 代理人: | 劉春成 |
| 地址: | 200233*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 柔性 掃描 機械 系統(tǒng) 方法 | ||
本申請?zhí)峁┝艘环N柔性掃描機械臂系統(tǒng)及柔性掃描方法。該系統(tǒng)包括:機械臂、轉(zhuǎn)臺、主機和掃描探頭,主機分別與機械臂、轉(zhuǎn)臺、掃描探頭通訊連接,掃描探頭安裝于機械臂上,轉(zhuǎn)臺用于安裝待掃描工件,能夠帶動待掃描工件一起移動至預(yù)定位置,并根據(jù)主機的姿態(tài)調(diào)整指令,對待掃描工件的姿態(tài)進(jìn)行調(diào)整;機械臂能夠根據(jù)主機發(fā)送的軌跡數(shù)據(jù)運動,對掃描探頭的姿態(tài)進(jìn)行調(diào)整;響應(yīng)于機械臂運動至預(yù)設(shè)檢測點位,掃描探頭根據(jù)接收到的主機發(fā)送的掃描信號,對待掃描工件進(jìn)行掃描;響應(yīng)于掃描設(shè)備在機械臂的預(yù)設(shè)停留時間內(nèi)接收到待掃描工件的反饋信號,機械臂根據(jù)軌跡數(shù)據(jù)運動至下一個預(yù)設(shè)檢測點位,以由掃描探頭對待掃描工件進(jìn)行再次掃描。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及機器人技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種柔性掃描機械臂系統(tǒng)及柔性掃描方法。
背景技術(shù)
天線是無線通訊設(shè)備的重要組成部分,其質(zhì)量直接決定了通信產(chǎn)品的性能指標(biāo)。目前,天線測量已經(jīng)發(fā)展成為一門重要的學(xué)科,主要研究天線系統(tǒng)參數(shù)的測量和測試方法。其中,近場測量技術(shù)已經(jīng)發(fā)展成為天線輻射特性的重要測量方法。
根據(jù)采樣表面的形狀,可以把近場測量分為平面近場測量、柱面近場測量和球面近場測量。平面近場測量時,天線固定不動,探頭在采樣架的帶動下在距離被測天線口面三到五個波長的平面上進(jìn)行采樣;柱面采樣適用于中等增益、扇形波束天線,探頭在采樣架的帶動下在滿足輻射近場范圍且機械運動允許的距離內(nèi)上下采樣;球面采樣用于低增益、寬波束天線的測量,探頭沿著半圓形導(dǎo)軌做俯仰運動。
傳統(tǒng)的近場測量由于人工攜帶信號發(fā)射探頭逐點進(jìn)行測量,費時費力,效率較低。
因此,需要提供一種針對上述現(xiàn)有技術(shù)不足的改進(jìn)技術(shù)方案。
發(fā)明內(nèi)容
本申請的目的在于提供一種柔性掃描機械臂系統(tǒng)及柔性掃描方法,以解決或緩解上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題。
為了實現(xiàn)上述目的,本申請?zhí)峁┤缦录夹g(shù)方案:
本申請?zhí)峁┝艘环N柔性掃描機械臂系統(tǒng),包括:機械臂、轉(zhuǎn)臺、主機和掃描探頭,所述主機分別與所述機械臂、所述轉(zhuǎn)臺、所述掃描探頭通訊連接,所述掃描探頭安裝于所述機械臂上,所述轉(zhuǎn)臺用于安裝待掃描工件,能夠帶動所述待掃描工件一起移動至預(yù)定位置,并根據(jù)所述主機的姿態(tài)調(diào)整指令,對所述待掃描工件的姿態(tài)進(jìn)行調(diào)整;所述機械臂能夠根據(jù)所述主機發(fā)送的軌跡數(shù)據(jù)運動,對所述掃描探頭的姿態(tài)進(jìn)行調(diào)整;響應(yīng)于所述機械臂運動至預(yù)設(shè)檢測點位,所述掃描探頭根據(jù)接收到的所述主機發(fā)送的掃描信號,對所述待掃描工件進(jìn)行掃描;響應(yīng)于所述掃描設(shè)備在所述機械臂的預(yù)設(shè)停留時間內(nèi)接收到所述待掃描工件的反饋信號,所述機械臂根據(jù)所述軌跡數(shù)據(jù)運動至下一個所述預(yù)設(shè)檢測點位,以由所述掃描探頭對所述待掃描工件進(jìn)行再次掃描。
可選地,在本申請的任一實施例中,所述轉(zhuǎn)臺包括:底座和支架;所述支架與所述底座轉(zhuǎn)動連接,能夠沿第一軸線轉(zhuǎn)動;所述支架上轉(zhuǎn)動安裝所述待掃描工件,且所述待掃描工件能夠繞第二軸線在垂直平面內(nèi)轉(zhuǎn)動;其中,所述第一軸線為所述支架與所述底座轉(zhuǎn)動連接處的軸線,所述第二軸線為所述待掃描工件與所述支架轉(zhuǎn)動連接處的軸線,所述第一軸線與所述第二軸線垂直。
可選地,在本申請的任一實施例中,所述支架的橫截面為凵型結(jié)構(gòu),其中,所述凵型結(jié)構(gòu)的底面與所述底座轉(zhuǎn)動連接,對應(yīng)的,所述待掃描工件通過工件安裝部與所述支架轉(zhuǎn)動連接,其中,所述工件安裝部轉(zhuǎn)動安裝于所述凵型結(jié)構(gòu)的兩側(cè)面之間,且能夠繞所述第二軸線轉(zhuǎn)動。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海微電機研究所(中國電子科技集團公司第二十一研究所);北京立峰中和科技有限公司,未經(jīng)上海微電機研究所(中國電子科技集團公司第二十一研究所);北京立峰中和科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011539480.0/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類





