[發明專利]宏檢查方法、裝置、電子設備和計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202011533134.1
• 申請日: 2020-12-22
• 公開（公告）號: CN112631852B
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 沈旭;王芳
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/263
• 分類號: G06F11/263;G06F11/22
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 蔣姍

本申請提供了一種宏檢查方法、裝置、電子設備和計算機可讀存儲介質，其中，該方法包括：獲取第一宏列表，該第一宏列表中包括多項待檢查宏的宏信息；對原始宏定義報告進行遍歷，以得到第二宏列表，該原始宏定義報告為對芯片設計進行處理得到的報告；將所述第一宏列表與所述第二宏列表進行匹配，以得到所述第一宏列表的驗證結果；根據所述驗證結果生成對應的檢查報告。通過本申請實施例中的宏檢查方法，能夠實現自動對宏的檢查，提高宏檢查的效率。

技術領域

本申請涉及芯片設計技術領域，具體而言，涉及一種宏檢查方法、裝置、電子設備和計算機可讀存儲介質。

背景技術

由于對芯片的要求越來越多，導致在設計階段需要為系統級芯片配置的功能也就越來越多，為了驗證芯片設計的各個功能的正確性，通常會構建不同的驗證環境對芯片設計的功能進行驗證。通過在驗證環境中對芯片設計進行編譯并進行仿真以實現對芯片設計的驗證，而對芯片設計的編譯會受到預定義的宏的控制，驗證環境會根據宏的定義選擇性地對芯片設計進行編譯，如果宏定義出錯，則編譯后的芯片設計可能會存在較大的誤差，從而影響芯片的驗證的準確率。

因此，在芯片設計的驗證之前，還需要對預定義的宏進行檢查。目前的檢查方式一般通過人工檢查宏的實際使用的代碼，人工檢查方式效率低。

發明內容

本申請的目的在于提供一種宏檢查方法、裝置、電子設備和計算機可讀存儲介質，以解決人工檢查方式效率低。

第一方面，本發明提供一種宏檢查方法，包括：

獲取第一宏列表，所述第一宏列表中包括多項待檢查宏的宏信息；

對原始宏定義報告進行遍歷，以得到第二宏列表，所述原始宏定義報告為對目標芯片設計進行處理得到的報告；

將所述第一宏列表與所述第二宏列表進行匹配，以得到所述第一宏列表的驗證結果；

根據所述驗證結果生成對應的檢查報告。

在可選的實施方式中，所述將所述第一宏列表與所述第二宏列表進行匹配，以得到所述第一宏列表的驗證結果，包括：

將所述第一宏列表中的目標宏信息與所述第二宏列表進行匹配，以確定所述第二宏列表中是否存在與所述目標宏信息匹配成功的宏信息，所述目標宏信息為所述第一宏列表中的任意一項宏信息；

當所述第二宏列表中存在與所述目標宏信息匹配的宏信息，則表征所述目標宏信息驗證通過；

當所述第二宏列表中各項宏信息未與所述目標宏信息匹配成功，則表征所述目標宏信息驗證未通過。

在上述實施方式中，通過將宏信息進行逐一對比，以識別出原始宏定義報告對應的第二宏列表是否存在需要驗證的宏，可以使驗證更加精細，也可以使驗證的結果也就更加準確。

在可選的實施方式中，每項宏信息包括至少一項屬性元素，所述至少一項屬性元素包括：存在屬性；所述存在屬性用于標識對應的宏是否為需要的宏；所述將所述第一宏列表中的目標宏信息與所述第二宏列表進行匹配，以確定所述第二宏列表中是否存在與所述目標宏信息匹配成功的宏信息，包括：

當所述目標宏信息的存在屬性為第一標識時，在所述第二宏列表中進行查找，以確定所述第二宏列表中是否存在所述目標宏信息對應的目標宏，若所述第二宏列表中存在所述目標宏，則表征所述目標宏信息驗證通過，若所述第二宏列表中不存在所述目標宏，則表征所述目標宏信息驗證未通過；

當所述目標宏信息的存在屬性為第二標識時，在所述第二宏列表中進行查找，以確定所述第二宏列表中是否存在所述目標宏信息對應的目標宏，若所述第二宏列表中不存在所述目標宏，則表征所述目標宏信息驗證通過，若所述第二宏列表中存在所述目標宏，則表征所述目標宏信息驗證未通過。