[發(fā)明專利]一種用于熱阻矩陣測量的由FPGA控制的多路智能驅(qū)動裝置與方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011531302.3 | 申請日: | 2020-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN112684255B | 公開(公告)日: | 2023-04-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 馮士維;李天旗;白昆;何鑫 | 申請(專利權(quán))人: | 北京工業(yè)大學 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02 |
| 代理公司: | 北京思海天達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 劉萍 |
| 地址: | 100124 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 矩陣 測量 fpga 控制 智能 驅(qū)動 裝置 方法 | ||
1.一種用于熱阻矩陣測量的由FPGA控制的多路智能驅(qū)動裝置,其特征在于,包括:工控電腦,通信與程控模塊,多路硬件電路模塊,熱阻矩陣測量裝置;其中工控電腦包含上位機軟件,實現(xiàn)驅(qū)動電壓大小、正負、開啟時間調(diào)控及多路選通的功能,通信與程控模塊是以FPGA為硬件基礎(chǔ),在FPGA內(nèi)部搭建的自帶通信與程序控制功能的模塊,硬件電路模塊包括隔離電路、數(shù)模轉(zhuǎn)換電路和驅(qū)動電路,配合工控電腦及通信與程控模塊實現(xiàn)輸出電壓大小、正負、開啟時間調(diào)控及多路選通的功能,熱阻矩陣測量裝置為多路矩陣式探針,能夠?qū)崿F(xiàn)多個測試點的加熱與溫度測量;
工控電腦包含上位機軟件,其中上位機軟件界面包含3個按鈕,第一個按鈕負責驅(qū)動電壓大小、正負的設(shè)定,第二個按鈕負責驅(qū)動電壓開啟時間的設(shè)定,第三個按鈕負責矩陣通道的選通,矩陣通道與熱阻矩陣測量裝置一一對應(yīng);
通信與程控模塊是在FPGA內(nèi)部構(gòu)建的可通過工控電腦鍵入不同的數(shù)據(jù)參數(shù)實現(xiàn)電壓開通時間、電壓大小、方向及多路選擇可控的模塊;通信與程控模塊由4部分組成,分別是DAC時序控制信號、驅(qū)動控制信號、計數(shù)器、時鐘發(fā)生器;DAC時序控制信號控制輸出電壓的大小和正負,驅(qū)動控制信號控制多路選通,時鐘發(fā)生器和時鐘計數(shù)器聯(lián)合作用,實現(xiàn)電壓開啟時間的控制;
硬件電路模塊由模擬電源、信號輸入端、DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換電路、隔離電路、驅(qū)動電路五部分組成;電源供電后,經(jīng)過隔離電路將模擬信號和數(shù)字信號隔離開,DAC時序控制信號控制DAC數(shù)模轉(zhuǎn)換電路輸出所需電壓,到達驅(qū)動電路,由驅(qū)動控制信號、計數(shù)器、時鐘發(fā)生器共同控制選通多路電壓的輸出;
熱阻矩陣測量裝置由多個薄層熱阻測試探針并聯(lián)組成,在使用的過程中,利用薄層熱阻測試探針加熱源定點加熱被測樣品,實時采集薄層熱阻測試探針測量源兩端電壓,通過測量源電壓與溫度的關(guān)系得出溫度隨時間變化曲線T-t;通過相應(yīng)算法處理T-t,得出被測樣品的熱阻結(jié)構(gòu);
在進行熱阻測量時包括如下步驟:
S1:根據(jù)被測樣品的不同在工控電腦選擇相應(yīng)的功能,測半導(dǎo)體芯片待測點的熱阻時,根據(jù)熱阻矩陣測量裝置加熱源的位置在工控電腦進行相應(yīng)驅(qū)動開關(guān)配置,選擇開通相應(yīng)通道;對MOSFET或IGBT開關(guān)式器件進行熱阻測量,在工控電腦中根據(jù)被測器件要求驅(qū)動電壓的不同,進行DAC輸出電壓的配置,根據(jù)FPGA時鐘頻率配置相應(yīng)被測器件電壓開啟時間,選擇開通相應(yīng)被測器件通道;
S2:工控電腦發(fā)出命令后,通信與程控模塊使用計數(shù)器對時鐘進行計數(shù),達到工控電腦設(shè)定值后,F(xiàn)PGA驅(qū)動控制信號復(fù)位,驅(qū)動電路輸出電壓回歸初始狀態(tài)。
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