[發明專利]一種斷絲錐或者斷螺釘的清除方法及加注裝置

有效

• 申請號: 202011531040.0
• 申請日: 2020-12-23
• 公開（公告）號: CN112251752B
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 周繼德;劉勇濤
• 申請（專利權）人: 成都裕鳶航空智能制造股份有限公司
• 主分類號: C23F1/44
• 分類號: C23F1/44;C23F1/16;C23F1/08;C23F1/46
• 代理公司: 成都欣圣知識產權代理有限公司 51292
• 代理人: 王海文

1.一種斷絲錐或者斷螺釘的清除方法，其特征在于，所述斷絲錐或者斷螺釘的清除方法包括以下步驟：

步驟S1，根據所述斷絲錐或者所述斷螺釘在高溫合金材料構件的存在情況，對所述高溫合金材料構件進行預處理；

步驟S2，根據所述斷絲錐或者所述斷螺釘在高溫合金材料構件的存在情況，配制包含氫氟酸和過氧化氫的混合液；

步驟S3，將所述混合液注入至所述高溫合金材料構件中存在所述斷絲錐或者所述斷螺釘的位置處，并進行預定時長的反應；

步驟S4，將反應后得到的反應殘余液從所述高溫合金材料構件中抽取，并對所述高溫合金材料構件進行清潔處理：

其中，步驟S1中，至少包括以下流程：

步驟S101，獲取所述斷絲錐或者所述斷螺釘在所述高溫合金材料構件中的存在位置、存在量、和所述斷絲錐或者所述斷螺釘相對于所述高溫合金材料構件的位姿信息中的至少一者，以此作為所述存在情況；

所述步驟S101具體包括:

步驟S1011，獲取所述斷絲錐或者所述斷螺釘于所述高溫合金材料構件中的至少一個雙目圖像或紅外圖像；

步驟S1012，對所述至少一個雙目圖像或紅外圖像進行圖像分析處理，以此獲取所述斷絲錐或者所述斷螺釘在高溫合金材料構件的存在情況，所述存在情況為所述斷絲錐或者所述斷螺釘在高溫合金材料構件的存在位置、所述存在量、和所述斷絲錐或者所述斷螺釘相對于所述高溫合金材料構件的位姿信息中的至少一者；

在所述步驟S2中，根據所述斷絲錐或者所述斷螺釘在高溫合金材料構件的存在情況，配制包含氫氟酸和過氧化氫的混合液具體包括，

步驟S201，獲取所述斷絲錐或者所述斷螺釘在所述高溫合金材料構件中存在量，以此作為所述存在情況；

步驟S202，根據所述存在情況，確定所述混合液中所述氫氟酸和所述過氧化氫的體積比和各自的配制體積；

步驟S203，根據所述氫氟酸和所述過氧化氫的體積比和各自的配制體積，配制形成所述混合液；

在所述步驟S201中，獲取所述斷絲錐或者所述斷螺釘在所述高溫合金材料構件中存在量，以此作為所述存在情況具體包括，

步驟S2011，獲取所述斷絲錐或者所述斷螺釘于所述高溫合金材料構件中的至少一個雙目圖像或紅外圖像；

步驟S2012，對所述至少一個雙目圖像或紅外圖像進行圖像分析處理，以此獲取所述存在量；

在所述步驟S202中，根據所述存在情況，確定所述混合液中所述氫氟酸和所述過氧化氫的體積比和各自的配制體積具體包括，

根據所述存在情況以及氫氟酸原液的濃度和過氧化氫原液的濃度，以此確定所述混合液中所述氫氟酸和所述過氧化氫的體積比和各自的配制體積；

在所述步驟S203中，根據所述氫氟酸和所述過氧化氫的體積比和各自的配制體積，配制形成所述混合液具體包括，

根據所述氫氟酸和所述過氧化氫的體積比和各自的配制體積，將具有預定濃度的氫氟酸原液和過氧化氫原液在常溫常壓條件下進行攪拌混合，以此配制形成所述混合液。

2.根據權利要求1所述的斷絲錐或者斷螺釘的清除方法，其特征在于：

在所述步驟S1中，根據所述斷絲錐或者所述斷螺釘在高溫合金材料構件的存在情況，對所述高溫合金材料構件進行預處理還包括，

步驟S102，根據所述存在情況，對所述高溫合金材料構件中存在有所述斷絲錐或者所述斷螺釘的目標位置處及其附近區域處采用中性液體進行清洗；

步驟S103，對經過所述中性液體清洗后的所述目標位置處及其附近區域進行干燥處理。

3.根據權利要求2所述的斷絲錐或者斷螺釘的清除方法，其特征在于：

在所述步驟S102中，根據所述存在情況，對所述高溫合金材料構件中存在有所述斷絲錐或者所述斷螺釘的目標位置處及其附近區域處采用中性液體進行清洗具體包括，

步驟S1021，根據所述存在情況，確定所述目標位置及其附近區域對應的覆蓋范圍；

步驟S1022，采用去離子水，對所述目標位置及其附近區域對應的覆蓋范圍進行清洗；

或者，

在所述步驟S103中，對經過所述中性液體清洗后的所述目標位置處及其附近區域進行干燥處理具體包括，

對經過所述中性液體清洗后的所述目標位置處及其附近區域進行熱風干燥處理或者微波輻射干燥處理。