[發明專利]用于齒圈的異常檢測方法、車輛和存儲介質在審
| 申請號: | 202011529519.0 | 申請日: | 2020-12-22 |
| 公開(公告)號: | CN114659784A | 公開(公告)日: | 2022-06-24 |
| 發明(設計)人: | 汪虹;張宏洲 | 申請(專利權)人: | 比亞迪股份有限公司 |
| 主分類號: | G01M13/021 | 分類號: | G01M13/021 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 張文姣 |
| 地址: | 518118 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 異常 檢測 方法 車輛 存儲 介質 | ||
本申請公開了一種用于齒圈的異常檢測方法。檢測方法包括:獲取齒圈的轉速脈沖信號,根據轉速脈沖信號計算齒圈的偏差,以及根據偏差和偏差標準值確定齒圈是否異常。本申請實施方式的異常檢測方法,可以有效地對集成于產品的齒圈進行異常檢測。進一步地,通過計算每個輪齒的偏差,在一定程度上可實現較高精度的檢測。本申請還公開了一種車輛和計算機存儲介質。
技術領域
本申請涉及工業領域,特別涉及一種用于齒圈的異常檢測方法、車輛和計算機存儲介質。
背景技術
齒圈的相關結構廣泛應用車輛中,齒圈對于車輛的相關控制有著重要的作用。因此,對齒圈的精度也有著較高要求??梢岳斫獾?,齒圈在生產加工過程中會存在一定的生產誤差,而使用過程中也會因為磨損等原因,造成尺寸的變化,因此,需要對齒圈進行核對或檢測,特別是已經安裝在車輛中的齒圈。相關技術中,對齒圈的檢測往往是通過人工、光纖或圖像識別等方法。其中,人工檢測費時費力而且檢測效果不夠好,而非人工檢測方法往往需要相應檢測儀對齒圈進行單獨檢測。因此,如何通過對集成于產品的齒圈進行異常檢測成為亟待解決的問題。
發明內容
有鑒于此,本申請的實施例提供了一種用于齒圈的異常檢測方法、車輛和計算機存儲介質。
本申請提供了一種用于齒圈的異常檢測方法,包括:
獲取所述齒圈的轉速脈沖信號;
根據所述轉速脈沖信號計算所述齒圈的偏差;
根據所述偏差和偏差標準值確定所述齒圈是否異常。
在某些實施方式中,所述根據所述轉速脈沖信號計算所述齒圈的偏差包括:
根據所述轉速脈沖信號確定一個旋轉周期中所述齒圈中每個輪齒的轉速信號;
根據所述轉速信號計算每個輪齒的轉動時間;
根據所述轉動時間計算所述齒圈中每個輪齒的平均轉動時間;
根據所述轉動時間和所述平均轉動時間計算每個輪齒的轉動時間偏差;
根據所述轉動時間計算每個輪齒的第一轉速;
根據所述第一轉速和所述轉動時間偏差計算每個輪齒的偏差角度;
根據所述偏差角度確定所述齒圈的偏差。
在某些實施方式中,所述根據所述轉速信號計算每個輪齒的轉動時間包括:
分別獲取相鄰兩個輪齒的轉速信號的上升沿或相鄰兩個輪齒的轉速信號的下降沿所對應的第一時刻和第二時刻;
根據所述第一時刻和所述第二時刻確定所述轉動時間。
在某些實施方式中,所述根據所述第一轉速和所述轉動時間偏差計算每個輪齒的偏差角度包括:
對所述第一轉速進行預處理以得到第二轉速;
根據所述第二轉速和所述轉動時間偏差計算每個輪齒的偏差角度。
在某些實施方式中,所述對所述第一轉速進行預處理以得到第二轉速包括:
對所述第一轉速進行低通濾波處理以得到第二轉速。
在某些實施方式中,所述異常檢測方法還包括:
對每個輪齒的偏差角度累計求和以得到每個輪齒的偏差角度和值;
根據所述偏差角度和值判斷所述輪齒是否異常。
在某些實施方式中,所述異常檢測方法還包括:
根據所述轉速脈沖信號計算得到多個旋轉周期每個輪齒的多個偏差角度;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于比亞迪股份有限公司,未經比亞迪股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011529519.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種發熱量自動測試系統
- 下一篇:一種編輯文本的方法、電子設備和系統





