[發(fā)明專利]前端測(cè)試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011528258.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112631910A | 公開(公告)日: | 2021-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 史金偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 平安普惠企業(yè)管理有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 深圳市世聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44385 | 代理人: | 汪琳琳 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市前海深港合作區(qū)前*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 前端 測(cè)試 方法 裝置 計(jì)算機(jī) 設(shè)備 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種前端測(cè)試方法,其特征在于,包括下述步驟:
接收測(cè)試指令生成數(shù)據(jù)請(qǐng)求,所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求中包含待測(cè)接口及入?yún)ⅲ?/p>
根據(jù)所述待測(cè)接口讀取預(yù)設(shè)的mock環(huán)境標(biāo)識(shí),當(dāng)所述標(biāo)識(shí)為第一標(biāo)識(shí)時(shí),讀取所述mock環(huán)境地址;所述mock環(huán)境為預(yù)設(shè)的存儲(chǔ)接口模擬數(shù)據(jù)的服務(wù)器,其中接口模擬數(shù)據(jù)與入?yún)㈩A(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系;
根據(jù)所述mock環(huán)境地址,將所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求發(fā)送至所述mock環(huán)境;
接收所述mock環(huán)境響應(yīng)所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求返回的與所述入?yún)?duì)應(yīng)的接口模擬數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的前端測(cè)試方法,其特征在于,在所述接收測(cè)試指令生成數(shù)據(jù)請(qǐng)求,所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求中包含接口及入?yún)⒌牟襟E中還包括:
根據(jù)預(yù)設(shè)的待測(cè)接口序列和預(yù)設(shè)的入?yún)⑿蛄校S機(jī)生成數(shù)據(jù)請(qǐng)求。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的前端測(cè)試方法,其特征在于,在所述根據(jù)所述待測(cè)接口讀取預(yù)設(shè)的mock環(huán)境標(biāo)識(shí),當(dāng)所述標(biāo)識(shí)為第一標(biāo)識(shí)時(shí),讀取所述mock環(huán)境地址;所述mock環(huán)境為預(yù)設(shè)的存儲(chǔ)接口模擬數(shù)據(jù)的服務(wù)器,其中接口模擬數(shù)據(jù)與入?yún)㈩A(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系的步驟之前還包括:
根據(jù)所述待測(cè)接口讀取預(yù)設(shè)的后端服務(wù)器的對(duì)應(yīng)接口的狀態(tài),當(dāng)所述對(duì)應(yīng)接口為第一狀態(tài)時(shí),將所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求發(fā)送至所述后端服務(wù)器;
接收所述后端服務(wù)器響應(yīng)所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求返回的響應(yīng)數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的前端測(cè)試方法,其特征在于,在所述根據(jù)所述待測(cè)接口讀取預(yù)設(shè)的后端服務(wù)器的對(duì)應(yīng)接口的狀態(tài),當(dāng)所述對(duì)應(yīng)接口為第一狀態(tài)時(shí),將所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求發(fā)送至所述后端服務(wù)器的步驟之后包括:
當(dāng)所述對(duì)應(yīng)接口為第二狀態(tài)時(shí),將所述mock環(huán)境標(biāo)識(shí)設(shè)為第一標(biāo)識(shí)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的前端測(cè)試方法,其特征在于,在所述接收所述mock環(huán)境響應(yīng)所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求返回的與所述入?yún)?duì)應(yīng)的接口模擬數(shù)據(jù)的步驟之后還包括:
根據(jù)所述接口模擬數(shù)據(jù)展示前端頁面。
6.一種前端測(cè)試裝置,其特征在于,包括:
生成模塊,用于接收測(cè)試指令生成數(shù)據(jù)請(qǐng)求,所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求中包含待測(cè)接口及入?yún)ⅲ?/p>
讀取模塊,用于根據(jù)所述待測(cè)接口讀取預(yù)設(shè)的mock環(huán)境標(biāo)識(shí),當(dāng)所述標(biāo)識(shí)為第一標(biāo)識(shí)時(shí),讀取所述mock環(huán)境地址;所述mock環(huán)境為預(yù)設(shè)的存儲(chǔ)接口模擬數(shù)據(jù)的服務(wù)器,其中接口模擬數(shù)據(jù)與入?yún)㈩A(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系;
第一發(fā)送模塊,用于根據(jù)所述mock環(huán)境地址,將所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求發(fā)送至所述mock環(huán)境;
第一接收模塊,用于接收所述mock環(huán)境響應(yīng)所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求返回的與所述入?yún)?duì)應(yīng)的接口模擬數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的前端測(cè)試裝置,其特征在于,所述生成模塊包括:
第一生成子模塊,用于根據(jù)預(yù)設(shè)的待測(cè)接口序列和預(yù)設(shè)的入?yún)⑿蛄校S機(jī)生成數(shù)據(jù)請(qǐng)求。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的前端測(cè)試裝置,其特征在于,還包括:
第二發(fā)送模塊,用于根據(jù)所述待測(cè)接口讀取預(yù)設(shè)的后端服務(wù)器的對(duì)應(yīng)接口的狀態(tài),當(dāng)所述對(duì)應(yīng)接口為第一狀態(tài)時(shí),將所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求發(fā)送至所述后端服務(wù)器;
第二接收模塊,用于接收所述后端服務(wù)器響應(yīng)所述數(shù)據(jù)請(qǐng)求返回的響應(yīng)數(shù)據(jù)。
9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,包括存儲(chǔ)器和處理器,所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可讀指令,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)可讀指令時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的前端測(cè)試方法的步驟。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可讀指令,所述計(jì)算機(jī)可讀指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的前端測(cè)試方法的步驟。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
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