[發(fā)明專利]可編程芯片程序檢測(cè)、存儲(chǔ)方法和可編程芯片

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011525708.0
• 申請(qǐng)日: 2020-12-22
• 公開（公告）號(hào): CN112597450A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙命華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市道通科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F21/12
• 分類號(hào): G06F21/12;G06F21/60;G06F21/64
• 代理公司: 北京市浩天知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11276
• 代理人: 王廣濤

本發(fā)明實(shí)施例涉及可編程芯片檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種可編程芯片程序檢測(cè)、存儲(chǔ)方法和可編程芯片。所述存儲(chǔ)方法根據(jù)所述可編程芯片的序列號(hào)生成第一校驗(yàn)值；將所述第一校驗(yàn)值存儲(chǔ)于所述可編程芯片的第一程序存儲(chǔ)區(qū)；根據(jù)所述可編程芯片的程序存儲(chǔ)區(qū)存儲(chǔ)的程序代碼和所述第一校驗(yàn)值，生成第三校驗(yàn)值；將所述第三校驗(yàn)值存儲(chǔ)于所述可編程芯片的第二程序存儲(chǔ)區(qū)，從而解決了可編程芯片程序存儲(chǔ)的安全性問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實(shí)施例涉及可編程芯片檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種可編程芯片程序檢測(cè)、存儲(chǔ)方法和可編程芯片。

背景技術(shù)

可編程芯片也叫可編程控制器，是一種專門為在工業(yè)環(huán)境下應(yīng)用而設(shè)計(jì)的數(shù)字運(yùn)算操作的電子裝置。它采用可以編制程序的存儲(chǔ)器，用來在其內(nèi)部存儲(chǔ)執(zhí)行邏輯運(yùn)算、順序運(yùn)算、計(jì)時(shí)、計(jì)數(shù)和算術(shù)運(yùn)算等操作的指令，并能通過數(shù)字式或模擬式的輸入和輸出，控制各種類型的機(jī)械或生產(chǎn)過程。

本申請(qǐng)發(fā)明人在研究中發(fā)現(xiàn)，對(duì)于可編程芯片，可以將程序儲(chǔ)存器中的數(shù)據(jù)復(fù)制到另一個(gè)芯片的程序儲(chǔ)存器中，可以復(fù)制原芯片的功能。程序儲(chǔ)存器中的固件由一條條的最終需要執(zhí)行指令組成，無法進(jìn)行加密，一般芯片都有保護(hù)裝置，可以防止外部讀取程序儲(chǔ)存器的操作，但是可以通過某些特殊的方式將固件取出來，會(huì)造成可編程芯片中存儲(chǔ)的程序被非法修改或者讀取。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述問題，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種可編程芯片程序檢測(cè)、存儲(chǔ)方法和可編程芯片，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題。

本申請(qǐng)實(shí)施例提供的可編程芯片程序存儲(chǔ)方法，包括：

根據(jù)所述可編程芯片的序列號(hào)生成第一校驗(yàn)值；

將所述第一校驗(yàn)值存儲(chǔ)于所述可編程芯片的第一程序存儲(chǔ)區(qū)；

根據(jù)所述可編程芯片的程序存儲(chǔ)區(qū)存儲(chǔ)的程序代碼和所述第一校驗(yàn)值，生成第三校驗(yàn)值；

將所述第三校驗(yàn)值存儲(chǔ)于所述可編程芯片的第二程序存儲(chǔ)區(qū)。

進(jìn)一步的，所述根據(jù)可編程芯片的序列號(hào)生成第一校驗(yàn)值，包括：

采用預(yù)設(shè)的加密算法對(duì)所述可編程芯片的序列號(hào)進(jìn)行加密生成第一校驗(yàn)值。

進(jìn)一步的，所述將第一校驗(yàn)值存儲(chǔ)于所述可編程芯片的第一程序存儲(chǔ)區(qū)，包括：

根據(jù)所述預(yù)設(shè)的加密算法和第一校驗(yàn)值生成第一存儲(chǔ)地址，根據(jù)所述第一存儲(chǔ)地址將所述第一校驗(yàn)值存儲(chǔ)于第一程序存儲(chǔ)區(qū)。

進(jìn)一步的，所述根據(jù)所述可編程芯片的程序存儲(chǔ)區(qū)存儲(chǔ)的程序代碼和所述第一校驗(yàn)值，生成第三校驗(yàn)值，包括：

將所述可編程芯片的程序存儲(chǔ)區(qū)存儲(chǔ)的程序代碼分成N段，所述N為大于1的正整數(shù)；

采用預(yù)設(shè)的校驗(yàn)算法分別對(duì)所述N段程序代碼和所述第一校驗(yàn)值進(jìn)行校驗(yàn)，生成第三校驗(yàn)值。

進(jìn)一步的，所述將第三校驗(yàn)值存儲(chǔ)于所述可編程芯片的第二程序存儲(chǔ)區(qū)，包括：

根據(jù)所述預(yù)設(shè)的校驗(yàn)算法和第三校驗(yàn)值生成第二存儲(chǔ)地址，根據(jù)所述第二存儲(chǔ)地址將所述第三校驗(yàn)值存儲(chǔ)于第二程序存儲(chǔ)區(qū)。

本申請(qǐng)實(shí)施例還提出了一種可編程芯片程序檢測(cè)方法，包括：

從所述可編程芯片的程序存儲(chǔ)區(qū)獲取預(yù)先存儲(chǔ)的所述可編程芯片的第一校驗(yàn)值；

將所述可編程芯片的序列號(hào)與所述預(yù)先存儲(chǔ)的所述可編程芯片的第一校驗(yàn)值進(jìn)行匹配，若匹配，則根據(jù)所述預(yù)先存儲(chǔ)的可編程芯片的第一校驗(yàn)值和所述可編程芯片的程序存儲(chǔ)區(qū)存儲(chǔ)的程序代碼生成第二校驗(yàn)值；

從所述程序存儲(chǔ)區(qū)獲取預(yù)先存儲(chǔ)的第三校驗(yàn)值；

將所述預(yù)先存儲(chǔ)的第三校驗(yàn)值與所述第二校驗(yàn)值進(jìn)行匹配，若相匹配，則所述可編程芯片檢測(cè)正常。