[發(fā)明專利]漏洞匹配方法、裝置、計算機設(shè)備和可讀存儲介質(zhì)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011521687.5 | 申請日: | 2020-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN112528294A | 公開(公告)日: | 2021-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張淵猛;王占一;齊向東;吳云坤 | 申請(專利權(quán))人: | 網(wǎng)神信息技術(shù)(北京)股份有限公司;奇安信科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F21/57 | 分類號: | G06F21/57;G06K9/62;G06N3/04;H04L29/06 |
| 代理公司: | 北京英特普羅知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11015 | 代理人: | 程超 |
| 地址: | 100097 北京市西*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 漏洞 匹配 方法 裝置 計算機 設(shè)備 可讀 存儲 介質(zhì) | ||
1.一種漏洞匹配方法,其特征在于,包括:
獲取待匹配的兩個漏洞的漏洞信息;
根據(jù)所述漏洞信息計算所述兩個漏洞在多個維度上的相似度;
根據(jù)所述在多個所述維度上的相似度計算所述兩個漏洞的綜合相似度;以及
根據(jù)所述綜合相似度判斷所述兩個漏洞是否匹配。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的漏洞匹配方法,其特征在于,在計算所述兩個漏洞在多個維度上的相似度時,通過以下部分或全部步驟進行計算:
根據(jù)所述漏洞信息的描述信息和預(yù)設(shè)的機器學(xué)習(xí)模型,計算所述兩個漏洞的語義相似度;
根據(jù)所述描述信息中相同產(chǎn)品名的數(shù)量,計算所述兩個漏洞的描述相似度;
根據(jù)所述描述信息中的版本號,計算所述兩個漏洞的版本相似度;
根據(jù)所述漏洞信息的參考信息中URL信息的關(guān)聯(lián)程度,計算所述兩個漏洞的URL相似度;
根據(jù)所述漏洞信息的標(biāo)題信息中相同產(chǎn)品名的數(shù)量,計算所述兩個漏洞的標(biāo)題相似度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的漏洞匹配方法,其特征在于,所述機器學(xué)習(xí)模型包括矩陣計算層、卷積池化層和全連接層,其中,所述卷積池化層包括若干組卷積層和池化層,計算所述兩個漏洞的語義相似度的步驟包括:
計算所述描述信息中詞語對應(yīng)的詞向量;
通過所述矩陣計算層,計算所述兩個漏洞中一個漏洞的詞向量,依次與另一個漏洞所有詞向量的向量相似值,以得到相似性矩陣;
通過所述卷積池化層,對所述相似矩陣依次進行卷積操作和最大池化操作,以得到特征圖;以及
將所述特征圖輸入至所述全鏈接層,以得到所述兩個漏洞的語義相似度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的漏洞匹配方法,其特征在于,所述兩個漏洞來源于不同的漏洞庫,不同的所述漏洞庫中描述信息的語言不同,計算所述描述信息中詞語對應(yīng)的詞向量的步驟包括:
在來源漏洞庫對應(yīng)的詞庫字典中,查找所述詞語對應(yīng)的標(biāo)識,其中,對所述漏洞庫中漏洞的描述信息,采用對應(yīng)語種的分詞方法進行分詞,以得到詞集,根據(jù)所述詞集構(gòu)建所述漏洞庫對應(yīng)的所述詞庫字典;
將所述詞語對應(yīng)的標(biāo)識轉(zhuǎn)化為所述詞語的詞向量。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的漏洞匹配方法,其特征在于,相互匹配的漏洞樣本為正樣本,不匹配的所述漏洞樣本為負(fù)樣本,采用以下步驟得到所述機器學(xué)習(xí)模型:
隨機獲取多個所述負(fù)樣本作為第一負(fù)樣本;
通過多個正樣本和多個所述第一負(fù)樣本構(gòu)建第一訓(xùn)練集;
通過所述第一訓(xùn)練集進行訓(xùn)練,以得到中間機器學(xué)習(xí)模型;
通過所述中間機器學(xué)習(xí)模型計算多個所述負(fù)樣本的語義相似度,以得到多個第一相似度;
根據(jù)所述第一相似度選取負(fù)樣本作為第二負(fù)樣本,其中,負(fù)樣本的所述第一相似度越大,被選取為所述第二負(fù)樣本的概率越大;
通過多個所述正樣本、多個所述第一負(fù)樣本和多個所述第二負(fù)樣本構(gòu)建第二訓(xùn)練集;
通過所述第二訓(xùn)練集進行訓(xùn)練,以得到所述機器學(xué)習(xí)模型。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的漏洞匹配方法,其特征在于,在所述第二訓(xùn)練集中,正負(fù)樣本的比例為預(yù)設(shè)比例值,其中,所述預(yù)設(shè)比例值小于1。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于網(wǎng)神信息技術(shù)(北京)股份有限公司;奇安信科技集團股份有限公司,未經(jīng)網(wǎng)神信息技術(shù)(北京)股份有限公司;奇安信科技集團股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011521687.5/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





