[發(fā)明專利]人工晶體生長的溫場調(diào)控裝置和溫場動態(tài)調(diào)控方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011521644.7 | 申請日: | 2020-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN112795980B | 公開(公告)日: | 2022-05-20 |
| 發(fā)明(設計)人: | 龍思衛(wèi);王彪;王文佳;林少鵬;朱允中;劉秩樺 | 申請(專利權)人: | 中山大學 |
| 主分類號: | C30B15/20 | 分類號: | C30B15/20 |
| 代理公司: | 廣州駿思知識產(chǎn)權代理有限公司 44425 | 代理人: | 吳靜芝 |
| 地址: | 510275 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 人工 晶體生長 調(diào)控 裝置 動態(tài) 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種人工晶體生長的溫場調(diào)控裝置。所述人工晶體生長的溫場調(diào)控裝置包括溫場調(diào)節(jié)單元、控制單元以及電磁屏蔽結構。所述溫場調(diào)節(jié)單元包括蓋設在晶體溶液容器上方的保溫蓋,所述保溫蓋的側壁上設置有垂直距離不同的散熱窗,每個散熱窗上都設有可改變散熱窗孔洞大小的調(diào)節(jié)板;所述控制單元根據(jù)當前溫度信息、電源功率信息以及晶體直徑信息,實時調(diào)整各調(diào)節(jié)板的開合方向及速度,實現(xiàn)晶體生長溫場的動態(tài)調(diào)整;所述電磁屏蔽結構消除電磁場對裝置的負面影響。本發(fā)明保證了高品質(zhì)大尺寸人工光電單晶的穩(wěn)定生長,并顯著降低單晶生長的電能消耗,具有很強的應用價值。
技術領域
本發(fā)明涉及人工晶體生長技術領域,特別是涉及一種用于優(yōu)化晶體生長各個階段的溫場的溫場調(diào)控裝置和方法。
背景技術
人工光電晶體具有極高的科研和商業(yè)價值,是高功率激光器、光電通訊、激光醫(yī)療、遙感等多個領域的基礎材料。垂直提拉法(Czochralski法)是當前制備大尺寸光電單晶,包括石榴石(GGG、YAG、LuAG等)、鈣鈦礦(YAP、LiNbO3、LiTaO3等)、藍寶石等晶體的最主要的方法之一。制備晶體時,首先需要用加熱線圈把坩堝中多晶料熔化,然后將籽晶緩慢下降至其末端浸潤在熔體中,接著一定的旋轉速度和提拉速度向上提拉,經(jīng)由縮頸、放肩、等徑、收尾、拉脫幾個步驟使熔體重新凝固為單晶。晶體制備過程中,有兩個重要的難點:(1)電能消耗高:光電晶體的熔點普遍極高,維持高溫熔體狀態(tài)需使用高功率電源作為輸入;足夠的溫度梯度是晶體順利生長的前提,常用的增大散熱孔增加溫度梯度的方案進一步提高電能消耗,提高了晶體的制備成本。(2)溫場控制難:溫場分布隨著晶體生長自行發(fā)生變化,該變化不利于晶體持續(xù)穩(wěn)定生長。晶體生長的不同階段需要分別提供不同的合適的溫度梯度,保證高品質(zhì)單晶順利持續(xù)生長。
當前,絕大部分情況下,使用密封在爐膛內(nèi)部的固定保溫結構進行晶體制備。在整個晶體生長過程中,保溫結構無法調(diào)整改變;只能被動接受隨著晶體生長和液面下降帶來的溫場改變;逐漸惡化的溫場導致晶體生長界面發(fā)生顯著變化,降低晶棒兩端光學性質(zhì)的一致性,甚至導致晶體生長中斷或晶體開裂。
發(fā)明專利《一種動態(tài)調(diào)整溫場中溫度梯度的裝置》(CN201822068289.7)公開了一種動態(tài)調(diào)整溫度梯度的方法,通過設置和調(diào)整保溫結構頂部的溫場上蓋,改變位于保溫結構頂部的籽晶桿經(jīng)過的散熱孔的大小,實現(xiàn)溫度梯度的逐漸減小,提高晶體完整率,降低晶體成本。該發(fā)明專利調(diào)節(jié)保溫結構頂部的籽晶桿經(jīng)過的垂直方向的散熱孔,對溫場調(diào)節(jié)的幅度較小;本發(fā)明專利調(diào)節(jié)保溫蓋的側壁上不同高度的多個側向的散熱孔,從氣流方式散熱與輻射方式散熱兩種途徑大幅度調(diào)控溫場;兩種發(fā)明專利在原理和設計上存在本質(zhì)區(qū)別。
發(fā)明專利《一種利用溫度梯度可調(diào)節(jié)的溫場裝置生長近化學計量比鈮酸鋰晶體的方法》(CN201510400519.3)公開了一種用于近化學計量比鈮酸鋰晶體生長的溫度梯度可調(diào)節(jié)的溫場裝置,通過升降保溫結構頂部的可移動保溫帽,增加或減小溫度梯度,實現(xiàn)高品質(zhì)化學計量比鈮酸鋰晶體的生長。該發(fā)明專利基于保溫帽與固定保溫套之間的相對位置的變化,并不涉及散熱孔面積或數(shù)量的增加,與本發(fā)明專利在原理和設計上存在本質(zhì)區(qū)別。
現(xiàn)有的固定保溫結構由于可調(diào)整的范圍非常有限,因此不能為晶體生長各個階段提供合適的溫場分布。隨著晶體生長和液面下降而持續(xù)惡化的溫場不利于高品質(zhì)晶體的持續(xù)穩(wěn)定生長。同時,使用強散熱效果的固定保溫結構也不利于節(jié)能和降低成本。
此外,應用于晶體生長裝置的保溫材料具有高反射率,液面和晶體以輻射光方式散射的熱量會被保溫材料反射回來,從而實現(xiàn)保溫;但在晶體生長需要較大溫度梯度時,被反射的輻射光的熱量不利于溫度梯度的形成。
如何同時對保溫系統(tǒng)中部側面和頂部的散熱效果同時進行大幅度的調(diào)整,即同時運用輻射方式散熱與氣流方式散熱,實現(xiàn)一種可以大幅度、平穩(wěn)且自動地調(diào)節(jié)溫場的溫場控制裝置,仍然是大尺寸高品質(zhì)光電單晶生長中極為重要、亟需解決的一個問題。
發(fā)明內(nèi)容
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