[發明專利]一種同軸熱電偶傳感器絕緣性檢測方法

在審

• 申請號: 202011519752.0
• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112485092A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 沙心國;陳星;師軍;李夏輝;熊春芳;霸艷春;張建鄉
• 申請（專利權）人: 中國航天空氣動力技術研究院
• 主分類號: G01N1/32
• 分類號: G01N1/32;G01N21/95;G01B11/06;G01R27/02;G01R31/52
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 茹阿昌

一種同軸熱電偶傳感器絕緣性檢測方法，1)對同軸熱電偶傳感器的端面進行粗打磨，去掉大尺寸毛刺；2)對同軸熱電偶傳感器的端面進行精細打磨，使內電極、絕緣層和外電極的輪廓清晰區分；3)對同軸熱電偶傳感器的端面進行拍照，提取同軸熱電偶傳感器絕緣層的輪廓，測量同軸熱電偶傳感器絕緣層的厚度和均勻性；4)采用萬用表測量同軸熱電偶傳感器兩根導線之間的電阻值，判斷同軸熱電偶傳感器內電極和外電極的絕緣性。本發明是一種針對同軸熱電偶傳感器，開展內外電極絕緣性、絕緣層厚度和絕緣層厚度分布均勻性的的檢測方法，該方法具有原理簡單，操作方便和數據處理快捷的優點。

技術領域

本發明涉及一種同軸熱電偶傳感器絕緣性檢測方法，屬于試驗測量技術領域。

背景技術

同軸熱電偶傳感器具有尺寸小、響應快和測量精度高的優點，廣泛應用于高超聲速風洞測溫和測熱試驗中。同軸熱電偶傳感器的絕緣層參數直接影響傳感器的響應性能，因此需要對傳感器的絕緣性能進行檢測，具體包括傳感器的絕緣層厚度、絕緣層分布均勻性和絕緣電阻等。由于傳感器尺寸小，絕緣層夾在內外電極之間，為絕緣層的檢測帶來巨大困難。

發明內容

本發明解決的技術問題為：提供一種同軸熱電偶傳感器絕緣性檢測方法，采用金屬研磨機對傳感器端部進行粗打磨和精細打磨，使得傳感器端面內電極、絕緣層和外電極的輪廓清晰區分，采用顯微鏡進行傳感器端面放大拍照，利用圖像識別和圖像處理技術測量獲得傳感器端面絕緣層厚度值和絕緣層分布均勻性數值，采用萬用變測量獲得傳感器內外電極的絕緣電阻，實現傳感器的絕緣性檢測。

本發明解決的技術方案為：

一種同軸熱電偶傳感器絕緣性檢測方法，包括步驟如下：

1)采用金屬研磨機上的砂輪對同軸熱電偶傳感器的端面進行粗打磨，去掉同軸熱電偶傳感器加工過程中產生的大尺寸毛刺；

2)采用金屬研磨機上的尼龍布輪對同軸熱電偶傳感器的端面進行精細打磨，使得同軸熱電偶傳感器端面上的內電極、絕緣層和外電極的輪廓清晰區分；

3)采用顯微鏡測量打磨后的同軸熱電偶傳感器的端面，對同軸熱電偶傳感器的端面進行拍照，采用圖像識別和圖像處理的方法，根據圖像灰度變化，提取同軸熱電偶傳感器絕緣層的輪廓，測量同軸熱電偶傳感器絕緣層的厚度和均勻性；

4)采用萬用表測量同軸熱電偶傳感器兩根導線之間的電阻值，判斷同軸熱電偶傳感器內電極和外電極的絕緣性。

本發明與現有技術相比的優點在于：

1)本發明采用金屬研磨機對傳感器端面進行精細打磨，使得傳感器的絕緣層清晰可見，采用顯微鏡放大進行端面拍照，可獲得傳感器絕緣層厚度參數和絕緣層厚度分布均勻性參數；

2)本發明采用圖像識別和圖像處理的方法可對傳感器絕緣層厚度和絕緣層的分布均勻性進行定量刻畫。

附圖說明

圖1同軸熱電偶傳感器結構示意圖；

圖2同軸熱電偶傳感器絕緣性檢測流程圖；

圖3同軸熱電偶傳感器端面示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明做進一步詳細描述。

如圖1所示，同軸熱電偶傳感器由內電極、絕緣層、外電極和導線組成，內電極為圓柱狀，外電極為圓管狀，內電極和外電極之間有絕緣層，內電極和絕緣層、絕緣層和外電極兩兩之間過盈配合。本發明一種同軸熱電偶傳感器絕緣性檢測方法，如圖2所示，包括步驟如下：