[發(fā)明專利]一種集成激光測量與超聲探傷的測頭裝置及其測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011519574.1 | 申請日: | 2020-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN112748113B | 公開(公告)日: | 2022-08-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧科青;秦鑫晨;王文;王傳勇;居冰峰 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 杭州君度專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 黃前澤 |
| 地址: | 310018 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 集成 激光 測量 超聲 探傷 裝置 及其 測量方法 | ||
1.一種集成激光測量與超聲探傷的測頭裝置,包括前面板、后面板、固定座和激光位移傳感器,所述的前面板和后面板固定;其特征在于:還包括步進(jìn)電機(jī)、主動齒輪、第一傳動齒輪、第二傳動齒輪、第一組件、激光發(fā)射器、第二組件和激光超聲波接收器;所述的第一組件包括第一軸、第一固持架A和第一固持架B;所述的第一軸通過軸承支承在前面板和后面板上,第一固持架A固定在第一軸一端;所述的第一傳動齒輪固定在第一軸上,且位于前面板與后面板之間;所述的第一固持架A與第一固持架B通過螺栓和螺母連接,并夾緊激光發(fā)射器;所述的第二組件包括第二軸、第二固持架A和第二固持架B;所述的第二軸通過軸承支承在前面板和后面板上,第二固持架A固定在第二軸一端;所述的第二傳動齒輪固定在第二軸上,且位于前面板與后面板之間;第二傳動齒輪與第一傳動齒輪嚙合,且第一傳動齒輪與第二傳動齒輪的傳動比為1:1;所述的第二固持架A與第二固持架B通過螺栓和螺母連接,并夾緊激光超聲波接收器;所述的固定座由一體成型的固定座翼板和固定座底板組成;所述的固定座底板與前面板通過第二螺栓和第二螺母連接,激光位移傳感器通過第一螺釘固定在固定座翼板上;所述的激光發(fā)射器為脈沖激光發(fā)射器;步進(jìn)電機(jī)的殼體與后面板通過第二螺釘固定連接;步進(jìn)電機(jī)的輸出軸上固定有主動齒輪;所述的主動齒輪與第一傳動齒輪嚙合;主動齒輪與第一傳動齒輪的傳動比為大于1;所述的步進(jìn)電機(jī)由控制器控制;激光位移傳感器和激光超聲波接收器的信號輸出端均接控制器;激光位移傳感器的激光束平行于前面板,且激光位移傳感器的激光束與激光發(fā)射器的激光束共面;激光發(fā)射器的激光束和與激光發(fā)射器的激光束共面的激光超聲波接收器的中心軸線的交點(diǎn)位于激光位移傳感器的激光束所在直線上;第一軸的中心軸線與激光位移傳感器的激光束垂直,激光位移傳感器的投光透鏡中心位于經(jīng)過第一軸的中心軸線和第二軸中心軸線的平面上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種集成激光測量與超聲探傷的測頭裝置,其特征在于:連接座與前面板和后面板通過第三螺釘連接;所述的連接座設(shè)有一體成型的圓柱桿。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種集成激光測量與超聲探傷的測頭裝置,其特征在于:所述的主動齒輪與第一傳動齒輪的傳動比為Z2/Z1=4,其中,Z1為主動齒輪的齒數(shù),Z2為第一傳動齒輪的齒數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種集成激光測量與超聲探傷的測頭裝置,其特征在于:所述的前面板與后面板之間通過四個(gè)雙頭螺柱連接,所述雙頭螺柱的兩端分別連接有壓緊前面板和后面板的第三螺母。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述一種集成激光測量與超聲探傷的測頭裝置,其特征在于:所述雙頭螺柱的中間無螺紋段直徑大于兩端有螺紋段的螺紋大徑。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種集成激光測量與超聲探傷的測頭裝置,其特征在于:所述的激光位移傳感器為點(diǎn)式激光位移傳感器。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州電子科技大學(xué),未經(jīng)杭州電子科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011519574.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





