[發明專利]用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測方法

在審

• 申請號: 202011519278.1
• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112489044A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 陳文戈
• 申請（專利權）人: 南京美漾網絡科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測方法，其特征在于，包括：

訓練階段，包括：

獲取訓練圖像，所述訓練圖像為已知石墨烯電熱膜的接觸狀態下的、在外力作用下所述加熱裝置的保護層的截面圖像；

將所述訓練圖像通過卷積神經網絡獲得訓練特征圖；

將所述訓練特征圖通過分類器以獲得分類損失函數值；

計算所述外力的數值的標簽向量與所述訓練特征圖之間的交叉熵損失函數值；以及

基于所述分類損失函數值和所述交叉熵損失函數值的加權和訓練所述卷積神經網絡；以及

推斷階段，包括：

獲取待檢測圖像，所述待檢測圖像是待檢測的加熱裝置在外力作用下的保護層的截面圖像；

將所述待檢測圖像通過所述卷積神經網絡獲得檢測特征圖；以及

將所述檢測特征圖通過所述分類器以獲得分類結果，所述分類結果表示在所述外力作用下，所述石墨烯電熱膜是否與所述保護層的內腔壁發生接觸。

2.根據權利要求1所述的用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測方法，其中，在獲取訓練圖像的過程中，外力垂直作用于所述加熱裝置的保護層。

3.根據權利要求1所述的用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測方法，其中，將所述訓練圖像通過卷積神經網絡獲得訓練特征圖，包括：

從所述卷積神經網絡的第N層提取出紋理特征圖作為所述訓練特征圖，N為大于等于4且小于等于6的正整數。

4.根據權利要求1所述的用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測方法，其中，所述卷積神經網絡為ResNet 50。

5.根據權利要求1所述的用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測方法，其中，將所述訓練特征圖通過分類器以獲得分類損失函數值，包括：

將所述訓練特征圖通過一個或多個全連接層以獲得分類特征向量；以及

將所述分類特征向量輸入分類函數以獲得所述分類損失函數值。

6.根據權利要求1所述的用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測方法，其中，計算所述外力的數值的標簽向量與所述訓練特征圖之間的交叉熵損失函數值，包括：

對所述外力的數值進行歸一化處理；以及

將經歸一化處理的所述外力的數值按特定順序進行排列，以獲得所述標簽向量。

7.一種用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測系統，其特征在于，包括：

訓練模塊，包括：

訓練圖像獲取單元，用于獲取訓練圖像，所述訓練圖像為已知石墨烯電熱膜的接觸狀態下的、在外力作用下所述加熱裝置的保護層的截面圖像；

訓練特征圖生成單元，用于將所述訓練圖像獲取單元獲得的所述訓練圖像通過卷積神經網絡獲得訓練特征圖；

分類損失函數值計算單元，用于將所述訓練特征圖生成單元獲得的所述訓練特征圖通過分類器以獲得分類損失函數值；

交叉熵損失函數值計算單元，用于計算所述外力的數值的標簽向量與所述訓練特征圖之間的交叉熵損失函數值；以及

參數更新單元，用于基于所述分類損失函數值計算單元獲得的所述分類損失函數值和所述交叉熵損失函數值計算單元獲得的所述交叉熵損失函數值的加權和訓練所述卷積神經網絡；以及

推斷模塊，包括：

待檢測圖像獲取單元，用于獲取待檢測圖像，所述待檢測圖像是待檢測的加熱裝置在外力作用下的保護層的截面圖像；

檢測特征圖生成單元，用于將所述待檢測圖像獲取單元獲得的所述待檢測圖像通過所述卷積神經網絡獲得檢測特征圖；以及

分類結果生成單元，用于將所述檢測特征圖生成單元獲得的所述檢測特征圖通過所述分類器以獲得分類結果，所述分類結果表示在所述外力作用下，所述石墨烯電熱膜是否與所述保護層的內腔壁發生接觸。

8.根據權利要求7所述的用于加熱裝置的石墨烯電熱膜接觸檢測系統，其中，所述訓練特征圖生成單元，進一步用于：從所述卷積神經網絡的第N層提取出紋理特征圖作為所述訓練特征圖，N為大于等于4且小于等于6的正整數。