[發(fā)明專利]一種基于中斷向量的固件檢測方法與裝置

在審

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• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112597503A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設計）人: 趙克安;胡孟杰;黃萍;俞利明
• 申請（專利權）人: 浙江中控技術股份有限公司;浙江中控自動化儀表有限公司
• 主分類號: G06F21/57
• 分類號: G06F21/57;G06F21/51
• 代理公司: 上海漢聲知識產(chǎn)權代理有限公司 31236
• 代理人: 胡晶

1.一種基于中斷向量的固件檢測方法，其特征在于，應用燒錄于嵌入式系統(tǒng)的優(yōu)化bin固件進行固件檢測，所述優(yōu)化bin固件包括用于實現(xiàn)固件自檢的檢測單元，包括如下步驟：

S1：啟動所述嵌入式系統(tǒng)，進而運行所述校驗單元對所述優(yōu)化bin固件進行校驗，獲取所述優(yōu)化bin固件的總字節(jié)數(shù)量記為N；

S2：將所述優(yōu)化bin固件的N字節(jié)按每4字節(jié)組成一個無符號整形數(shù)據(jù)，將若干無符號整形數(shù)據(jù)進行累加得到累加和校驗值記為V；

S3：判斷所述累加和校驗值V是否為0，若V等于0，則校驗通過，若V不等于0，則判定所述ARM芯片存在異常。

2.根據(jù)權利要求1所述的基于中斷向量的固件檢測方法，其特征在于，在所述步驟S1之前還包括構(gòu)建所述優(yōu)化bin固件，具體包括以下步驟：

A1：構(gòu)建所述優(yōu)化bin固件的所述校驗單元和功能單元，所述校驗單元用于實現(xiàn)固件檢測，所述功能單元用于實現(xiàn)所述嵌入式系統(tǒng)正常運行；

A2：將所述檢驗單元和所述功能單元通過交叉編譯得到bin固件；

A3：修改所述bin固件的中斷向量，得到所述優(yōu)化bin固件；

A4：將所述優(yōu)化bin固件燒錄至所述嵌入式系統(tǒng)中ARM芯片的ROM。

3.根據(jù)權利要求2所述的基于中斷向量的固件檢測方法，其特征在于，在所述步驟A3中，所述修改所述bin固件的中斷向量得到所述優(yōu)化bin固件具體包括如下步驟：

B1：獲取所述bin固件的總字節(jié)數(shù)量記為M，若M能被4整除，則令I＝M，若M不能被4整除，則基于M通過計算公式得到I，其中，I為能被4整除的整數(shù)值；

所述計算公式為I＝(M/4+1)×4，其中，/為相除取整符號；

B2：將所述bin固件基于補0方式將總字節(jié)數(shù)量M增加到I；

B3：獲取所述ARM芯片中斷向量地址m和n，將整數(shù)值I寫入所述bin固件m字節(jié)處；

B4：將所述bin固件每4字節(jié)組成一個無符號整形數(shù)據(jù)，并將若干無符號整形數(shù)據(jù)累加得到數(shù)值O，將所述數(shù)值O按位取反并加上數(shù)值1獲得數(shù)值P，將所述數(shù)值P寫入所述所述bin固件n字節(jié)處，得到所述優(yōu)化bin固件。

4.一種基于中斷向量的固件檢測的固件檢測裝置，其特征在于，包括：

數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取優(yōu)化bin固件的總字節(jié)數(shù)量及數(shù)據(jù)；

數(shù)據(jù)處理模塊，用于對獲取的所述總字節(jié)數(shù)量進行數(shù)據(jù)處理，得到累加和校驗值；

校驗判斷模塊，用于判斷累加和校驗值是否為0，若為0，則校驗通過，若不為0，則校驗不通過。

5.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器中存儲有計算機可讀指令，所述計算機可讀指令被所述處理器執(zhí)行時，使得所述處理器執(zhí)行如權利要求1至3中任一項所述的基于中斷向量的固件檢測方法。

6.一種存儲有計算機可讀指令的存儲介質(zhì)，所述計算機可讀指令被一個或多個處理器執(zhí)行時，使得一個或多個處理器執(zhí)行如權利要求1至3中任一項所述的基于中斷向量的固件檢測方法。