[發(fā)明專(zhuān)利]一種面陣掃頻測(cè)量裝置和方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011518547.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112684463A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 雷力;于龍;殷曉君;鄢淦威;陳哲鋒 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 武漢光目科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01S17/08 | 分類(lèi)號(hào): | G01S17/08;G01S7/481;G01B11/06 |
| 代理公司: | 武漢華之喻知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42267 | 代理人: | 李君;李歡 |
| 地址: | 430075 湖北省武漢市東湖高新*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 面陣掃頻 測(cè)量 裝置 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種面陣掃頻測(cè)量裝置和方法,屬于激光測(cè)距技術(shù)領(lǐng)域,其中,分束器將匯聚光束分解為反射光和透射光;使用時(shí)被測(cè)物體反射反射光,形成信號(hào)光;反射元件用于將透射光反射;第二二向色鏡用于將反射的透射光分解為參考光和寬譜光;光譜儀用于通過(guò)分解出的寬譜光,獲取光譜信息;相機(jī)用于采集信號(hào)光和參考光干涉形成的干涉圖像;采集控制單元可以根據(jù)干涉圖像和補(bǔ)償信息分析被測(cè)物體的表面形貌;且根據(jù)光譜信息獲取振動(dòng)信息,用以控制壓電陶瓷位移臺(tái)移動(dòng),獲取補(bǔ)償信息。本發(fā)明通過(guò)多個(gè)獨(dú)立散斑的疊加,實(shí)現(xiàn)了降低散斑對(duì)比度的效果;同時(shí)實(shí)現(xiàn)了光學(xué)防抖功能,提升了激光測(cè)距的準(zhǔn)確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于激光測(cè)距技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種面陣掃頻測(cè)量裝置及方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,零件加工的精密程度越來(lái)越成為高性能設(shè)備的關(guān)鍵,準(zhǔn)確且穩(wěn)定的生產(chǎn)出所需要的特定尺寸和形貌的零件非常重要。因此,對(duì)所生產(chǎn)的零件進(jìn)行精確的檢測(cè)是保證高質(zhì)量生產(chǎn)的重要環(huán)節(jié)。現(xiàn)有的技術(shù)中,大視場(chǎng)下的精確測(cè)距往往需要通過(guò)逐點(diǎn)掃描獲得零件的形貌,而且測(cè)量速度還會(huì)受限于掃描的速度,難以在高靈敏度的同時(shí)獲得高測(cè)量速度。因此,有需要開(kāi)發(fā)一種無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行掃描的大幅面、高精度、快速的測(cè)量物體厚度和距離的方法。
通過(guò)面陣掃頻的方法測(cè)量物體的表面形貌時(shí),會(huì)遇到激光散斑導(dǎo)致物體成像時(shí)有不規(guī)律的隨機(jī)漲落光斑的問(wèn)題,散斑會(huì)導(dǎo)致對(duì)物體表面同一點(diǎn)多次采樣時(shí)數(shù)據(jù)隨機(jī)漲落的問(wèn)題,將影響測(cè)量的精度,現(xiàn)有的技術(shù)是采用機(jī)械點(diǎn)(線)掃描的方式,這一方式不會(huì)有散斑的影響,但速度較面陣系統(tǒng)慢。
在實(shí)際生產(chǎn)過(guò)程中,振動(dòng)無(wú)法避免,振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致多次采樣得到的信號(hào)來(lái)自于物體表面的不同點(diǎn),對(duì)物體表面形貌等測(cè)量來(lái)講是需要盡量避免的。對(duì)于物體測(cè)量來(lái)說(shuō),防抖的目的是測(cè)量點(diǎn)和基準(zhǔn)點(diǎn)的相對(duì)位置不變,儀器本身的抖動(dòng)不需要平衡。現(xiàn)有技術(shù)主要注重于光學(xué)平臺(tái)或者儀器本身的防抖。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本發(fā)明的目的在于提供了一種面陣掃頻測(cè)量裝置和方法,旨在解決現(xiàn)有的面陣掃頻由于無(wú)法避免振動(dòng),導(dǎo)致激光測(cè)距精度較低的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,一方面,本發(fā)明提供了一種面陣掃頻測(cè)量裝置,包括:
用于提供寬譜光的寬帶光源;用于提供激光光束的可調(diào)諧激光器;在激光光束的透射方向上依次設(shè)置的第一準(zhǔn)直器、擴(kuò)束器、相位陣列、第一二向色鏡、透鏡陣列、第一透鏡、分束器、反射元件和壓電陶瓷位移臺(tái);在激光光束經(jīng)分束器反射的相反方向上依次設(shè)置的第二二向色鏡、鏡頭和相機(jī);在第一二向色散的另一輸入端設(shè)置的第二準(zhǔn)直器,且第二準(zhǔn)直器設(shè)置在寬譜光傳輸方向;在寬譜光出射方向設(shè)置的第三準(zhǔn)直器和光譜儀;可調(diào)諧激光器的輸出端連接相機(jī);光譜儀的輸出端連接采集控制單元的輸入端;采集控制單元的輸出端連接壓電陶瓷位移臺(tái);其中,寬譜光和激光光束的波長(zhǎng)不相等;
相位陣列用于對(duì)準(zhǔn)直和擴(kuò)束后的激光光束相位調(diào)制;所述第一二向色鏡用于將相位調(diào)制的激光光束與輸入的寬譜光匯聚;所述透鏡陣列用于對(duì)匯聚光束聚焦;
分束器將匯聚光束分解為反射光和透射光;使用時(shí)被測(cè)物體反射反射光,形成信號(hào)光;反射元件用于將透射光反射;第二二向色鏡用于將反射的透射光分解為參考光和寬譜光;光譜儀用于通過(guò)分解出的寬譜光,獲取光譜信息;
相機(jī)用于采集信號(hào)光和參考光干涉形成的干涉圖像;采集控制單元可以根據(jù)干涉圖像和補(bǔ)償信息分析被測(cè)物體的表面形貌;且根據(jù)光譜信息獲取振動(dòng)信息,用以控制壓電陶瓷位移臺(tái)移動(dòng),獲取補(bǔ)償信息。
優(yōu)選地,當(dāng)可調(diào)諧激光器發(fā)出等波數(shù)間隔的觸發(fā)信號(hào)時(shí),觸發(fā)信號(hào)用于控制相機(jī)采集干涉圖像。
優(yōu)選地,當(dāng)反射元件為分束平板或光學(xué)窗口時(shí),反射元件第一反射面的反射光中包含第一參考光,反射元件第二反射面的反射光中包含第二透射光;其中,信號(hào)光、第一參考光中的和第二參考光兩兩發(fā)生干涉。
優(yōu)選地,反射元件為傾斜反射元件。
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G01S 無(wú)線電定向;無(wú)線電導(dǎo)航;采用無(wú)線電波測(cè)距或測(cè)速;采用無(wú)線電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類(lèi)似裝置
G01S17-00 應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的反射或再輻射系統(tǒng),例如,激光雷達(dá)系統(tǒng)
G01S17-02 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波反射的系統(tǒng)
G01S17-66 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的跟蹤系統(tǒng)
G01S17-74 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的再輻射系統(tǒng),例如IFF,即敵我識(shí)別
G01S17-87 .應(yīng)用除無(wú)線電波外電磁波的系統(tǒng)的組合
G01S17-88 .專(zhuān)門(mén)適用于特定應(yīng)用的激光雷達(dá)系統(tǒng)
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