[發明專利]一種光譜偏振雙向反射特性測量裝置

在審

• 申請號: 202011513662.0
• 申請日: 2020-12-21
• 公開（公告）號: CN112730332A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 申慧彥;張瑾;洪桂云;李衛華;王翔翔;王嶸
• 申請（專利權）人: 安徽建筑大學
• 主分類號: G01N21/47
• 分類號: G01N21/47;G01N21/01
• 代理公司: 合肥金律專利代理事務所(普通合伙) 34184
• 代理人: 段曉微

1.一種光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，包括：光源支架(3)、照射光源(1)、載物臺(9)、天頂弧形導軌(2)、光電探測器(4)、俯仰轉臂(6)、俯仰驅動機構；

載物臺(9)上設有樣品支撐位，俯仰轉臂(6)位于所述樣品支撐位一側，俯仰轉臂(6)上設有向遠離所述樣品支撐位方向布置的轉軸且通過上述轉軸可轉動安裝在載物臺(9)上，俯仰驅動機構與俯仰轉臂(6)連接用于驅動俯仰轉臂(6)轉動，光電探測器(4)位于所述樣品支撐位上方且安裝在俯仰轉臂(6)上，光電探測器(4)的前端安裝有偏振器件(5)；

光源支架(3)位于載物臺(9)一側，天頂弧形導軌(2)安裝在光源支架(3)上，且天頂弧形導軌(2)一端位于所述樣品安裝位一側且另一端向所述樣品安裝位上方延伸，照射光源(1)可滑動安裝在天頂弧形導軌(2)上且朝向所述樣品支撐位設置。

2.根據權利要求1所述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，載物臺(9)上設有方位轉臺(11)，方位轉臺(11)圍繞所述樣品支撐位可轉動安裝在載物臺(9)上，俯仰轉臂(6)可轉動安裝在方位轉臺(11)上。

3.根據權利要求2所述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，還包括方位驅動機構，方位驅動機構與方位轉臺(11)連接用于驅動方位轉臺(11)轉動。

4.根據權利要求3所述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，方位驅動機構包括方位步進電機(12)和轉動手柄(13)，方位步進電機(12)的輸出軸與方位轉臺(11)連接用于驅動方位轉臺(11)轉動，轉動手柄(13)與方位轉臺(11)連接。

5.根據權利要求1所述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，俯仰轉臂(6)上設有可升降安裝的調節架(7)，光電探測器(4)安裝在調節架(7)上。

6.根據權利要求1所述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，載物臺(9)底部設有轉向輪(15)。

7.根據權利要求6述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，還包括校準桿(10)，校準桿(10)兩端分別與光源支架(3)和載物臺(9)連接。

8.根據權利要求6所述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，載物臺(9)底部設有支撐調平結構(16)。

9.根據權利要求1所述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，照射光源(1)的出射端設有線偏振片。

10.根據權利要求1所述的光譜偏振雙向反射特性測量裝置，其特征在于，俯仰驅動機構包括俯仰步進電機(8)和蝸輪蝸桿減速箱，俯仰步進電機(8)的輸出軸通過蝸輪蝸桿減速箱與俯仰轉臂(6)的轉軸連接。