[發(fā)明專利]一種超快激光成絲對(duì)大氣組分的遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)探測(cè)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011512316.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112798574A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宋海英;汪鵬;劉世炳;張澤亮;李亞超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/73 | 分類號(hào): | G01N21/73;G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京思海天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
| 地址: | 100124 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 激光 大氣 組分 遠(yuǎn)程 實(shí)時(shí) 探測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種超快激光成絲對(duì)大氣組分的遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)探測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括:飛秒激光光源、光路系統(tǒng)、信號(hào)采集與發(fā)射系統(tǒng)、光電信號(hào)接收與光譜分析系統(tǒng);其中,
所述的飛秒激光光源用于產(chǎn)生飛秒脈沖激光;
所述的光路系統(tǒng)用于調(diào)整飛秒激光的空間位置,用于大氣組分檢測(cè);
所述的信號(hào)采集與發(fā)射系統(tǒng)用于對(duì)大氣中激光成絲的熒光光譜進(jìn)行探測(cè),實(shí)時(shí)將數(shù)據(jù)傳回光電信號(hào)接收與光譜分析系統(tǒng)中;
所述的光電信號(hào)接收與光譜分析系統(tǒng)用于接收來(lái)自信號(hào)采集與發(fā)射系統(tǒng)的數(shù)據(jù),同時(shí)對(duì)大氣組分進(jìn)行實(shí)時(shí)分析并顯示。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種超快激光成絲對(duì)大氣組分的遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)探測(cè)系統(tǒng),其特征在于,光路系統(tǒng)包括:用于固定光學(xué)元件的光學(xué)面包板、用于光束整形的空間光調(diào)制器、用于激光擴(kuò)束的擴(kuò)束鏡、用于激光聚焦的透鏡;飛秒脈沖激光經(jīng)過(guò)空間光調(diào)制器整形成高斯線性,經(jīng)過(guò)擴(kuò)束鏡擴(kuò)束以減少飛秒脈沖激光傳輸過(guò)程中可能存在的能量損耗,最后經(jīng)過(guò)長(zhǎng)焦距透鏡聚焦。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種超快激光成絲對(duì)大氣組分的遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)探測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所用的透鏡為一個(gè)聚焦透鏡或多個(gè)聚焦透鏡的組合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種超快激光成絲對(duì)大氣組分的遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)探測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述的光電信號(hào)采集與發(fā)射系統(tǒng)利用無(wú)人機(jī)攜帶熒光高光譜相機(jī)進(jìn)行探測(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種超快激光成絲對(duì)大氣組分的遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)探測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述的光電信號(hào)收集與光譜檢測(cè)系統(tǒng)利用激光大氣成絲光譜變化探測(cè)大氣組分和濃度,并通過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)實(shí)時(shí)顯示。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種超快激光成絲對(duì)大氣組分的遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)探測(cè)系統(tǒng),其特征在于,該系統(tǒng)的具體實(shí)現(xiàn)步驟如下:
S1:所述飛秒激光光源產(chǎn)生飛秒激光脈沖;
S2:所述的飛秒激光脈沖經(jīng)過(guò)光路系統(tǒng)中的空間光調(diào)制器、擴(kuò)束鏡、聚焦鏡之后,在空氣中電離氣體分子而產(chǎn)生一條光絲;
S31:當(dāng)聚焦光束光腰位置能量大于大氣分子的電離閾值,大氣被擊穿電離形成等離子體,激光脈沖作用后電子與母核發(fā)生復(fù)合,同時(shí)輻射出不同原子或分子特有的熒光光譜;
S32:所述的信號(hào)采集與發(fā)射系統(tǒng)對(duì)激光光絲位置進(jìn)行定位,對(duì)熒光光譜進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,并回傳到光電信號(hào)接收與光譜分析系統(tǒng);
S4:光電信號(hào)接收與光譜分析系統(tǒng)接收來(lái)自信號(hào)采集與發(fā)射系統(tǒng)數(shù)據(jù),對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)與分析。
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G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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