[發明專利]一種礦物純度檢測方法有效
| 申請號： | 202011508520.5 | 申請日： | 2020-12-18 |
| 公開（公告）號： | CN112730476B | 公開（公告）日： | 2023-04-07 |
| 發明（設計）人： | 李伯平;郭冬發;何升;馮碩;李黎 | 申請（專利權）人： | 核工業北京地質研究院 |
| 主分類號： | G01N23/046 | 分類號： | G01N23/046;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人： | 王愛濤 |
| 地址： | 100029 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 礦物 純度 檢測 方法 | ||
1.一種礦物純度檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
在載玻片上粘貼雙面膠；
將礦物原料均勻散布在所述載玻片上粘有雙面膠的一面；
將所述載玻片置于X射線源與能量檢測器之間；
通過所述能量檢測器獲得所述X射線源發出的X射線經過礦物原料后的灰度圖；
根據所述灰度圖確定所述礦物原料中預設成分的占比；
所述根據所述灰度圖確定所述礦物原料中預設成分的占比，具體包括：
確定所述礦物原料中各成分對應的灰度值區間；
根據各成分對應的灰度值區間確定各成分在所述灰度圖中所占面積；
根據各成分所占面積確定預設成分的占比；
所述將礦物原料均勻散布在所述載玻片上粘有雙面膠的一面，具體包括：
將礦物原料顆粒均勻散布在所述載玻片上粘有雙面膠的一面；
抖落未粘牢的礦物原料顆粒；
所述礦物原料顆粒粘在所述載玻片上的面積大于或等于2cm2；
所述能量檢測器為平板檢測器；所述平板檢測器為16位A/D轉換的平板檢測器。
2.根據權利要求1所述的礦物純度檢測方法，其特征在于，所述根據各成分對應的灰度值區間確定各成分在所述灰度圖中所占面積，具體包括：
根據各成分對應的灰度值區間，采用歸一法確定各成分在所述灰度圖中所占面積。
3.根據權利要求1所述的礦物純度檢測方法，其特征在于，所述通過所述能量檢測器獲得所述X射線源發出的X射線經過礦物原料后的灰度圖之前，所述方法還包括：
打開所述X射線源，設置所述X射線源的工作參數，所述工作參數包括電壓、電流和曝光時間。
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