[發(fā)明專利]電子裝置以及數(shù)據完整性的檢驗方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011508336.0 | 申請日: | 2020-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN114647870A | 公開(公告)日: | 2022-06-21 |
| 發(fā)明(設計)人: | 謝宜璁;黃山益;陳佳佑;黃添壽 | 申請(專利權)人: | 技嘉科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F21/64 | 分類號: | G06F21/64 |
| 代理公司: | 隆天知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 謝強;黃艷 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子 裝置 以及 數(shù)據 完整性 檢驗 方法 | ||
一種電子裝置以及數(shù)據完整性的檢驗方法。電子裝置包括非易失性存儲器與安全處理器。非易失性存儲器包括固件映像檔、對應固件映像檔的電子式檢查簽章以及標定簽章標簽。安全處理器依據預設識別碼在非易失性存儲器中檢索標定簽章標簽,依據標定簽章標簽獲得位于非易失性存儲器中的預定區(qū)域。此預定區(qū)域包括配置表信息,且配置表信息包括電子式檢查簽章。以及,安全處理器依據電子式檢查簽章對固件映像檔進行數(shù)據完整性檢驗。
技術領域
本發(fā)明涉及一種數(shù)據完整性的檢驗技術,且特別涉及一種電子裝置以及數(shù)據完整性的檢驗方法。
背景技術
目前各廠商不希望讓使用者任意地調整電子裝置(如,個人電腦、筆記本電腦、服務器設備…等)中的固件或相關設定,從而避免電子裝置無法正常運行。為了確保這些電子裝置中固件文件(尤其是,特定元件如中央處理器(CPU)或是基板管理控制器(BMC)所需的固件映像檔)的數(shù)據完整性,通常會將對應此文件的數(shù)字簽章設置于非易失性存儲器的特定位置上,例如,位于文件的末尾處存儲對應的數(shù)字簽章,從而方便地對前述文件進行數(shù)據完整性檢驗。
然而,由于前述文件會經常性地通過更新等方式來調整文件中的內容與電子裝置的相關設定,導致前述文件經常會增加容量,從而使得數(shù)字簽章的存取位置有可能會被增加的文件容量所覆蓋。另一方面,由于數(shù)字簽章的存取位置已在電子裝置出廠時固定在硬件芯片中,幾乎難以通過其他方式重新調整或更改。
發(fā)明內容
本發(fā)明提供一種電子裝置以及數(shù)據完整性的檢驗方法,其在不變動數(shù)據完整性驗證的演算法的情況下自由調整固件映像檔所對應的數(shù)字簽章位于非易失性存儲器的存取位置,借此易于規(guī)劃非易失性存儲器的空間。
本發(fā)明的電子裝置包括第一非易失性存儲器以及安全處理器。第一非易失性存儲器包括第一固件映像檔、對應第一固件映像檔的第一電子式檢查簽章以及第一標定簽章標簽。安全處理器耦接第一非易失性存儲器。安全處理器依據預設識別碼在第一非易失性存儲器中檢索第一標定簽章標簽。安全處理器依據第一標定簽章標簽獲得位于第一非易失性存儲器中的預定區(qū)域。預定區(qū)域包括配置表信息,且配置表信息包括第一電子式檢查簽章。安全處理器依據第一電子式檢查簽章對第一固件映像檔進行數(shù)據完整性檢驗。
本發(fā)明的數(shù)據完整性的檢驗方法適用于包括第一非易失性存儲器以及安全處理器的電子裝置。第一非易失性存儲器包括固件映像檔以及對應第一固件映像檔的電子式檢查簽章。數(shù)據完整性的檢驗方法包括下列步驟。依據預設識別碼在第一非易失性存儲器中檢索標定簽章標簽;依據第一標定簽章標簽獲得位于第一非易失性存儲器中的預定區(qū)域,其中預定區(qū)域包括配置表信息,且配置表信息包括第一電子式檢查簽章;以及,依據第一電子式檢查簽章對第一固件映像檔進行數(shù)據完整性檢驗。
基于上述,本發(fā)明實施例所述的電子裝置以及數(shù)據完整性的檢驗方法會在具備固件映像檔的非易失性存儲器中檢索標定簽章標簽,讀取對應此標定簽章標簽的位址(例如,位于此標定簽章標簽后方的位址),并利用此位址查找用于執(zhí)行數(shù)據完整性檢驗所需的相關信息。因此,由于對應此標定簽章標簽的位址可通過更新等方式進行調整,因此可在不變動電子裝置中對于數(shù)據完整性驗證的演算法的情況下自由地調整固件映像檔所對應的數(shù)字簽章位于非易失性存儲器的存取位置,借此易于規(guī)劃非易失性存儲器的空間。另一方面,本發(fā)明實施例還將固件映像檔的非易失性存儲器區(qū)分為多個檢索區(qū)域,并通過在每個檢索區(qū)域中判斷預設位移量的待確認數(shù)據是否為標定簽章標簽,借此避免全域搜索,從而大幅降低搜索數(shù)字簽章所耗費的時間。
附圖說明
圖1是依照本實施例一實施例的一種電子裝置的方框圖。
圖2是依照本實施例一實施例的電子裝置中安全處理器與非易失性存儲器的示意圖。
圖3是依照本實施例一實施例中數(shù)據完整性的檢驗方法的流程圖。
圖4是說明圖3步驟S320的詳細流程圖。
附圖標記說明如下:
100:電子裝置
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