[發(fā)明專利]微波輻射計(jì)頻譜細(xì)分接收機(jī)的通道耦合性能測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011507439.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112666636B | 公開(公告)日: | 2023-07-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王佳坤;李浩;李一楠;沈尚宇;宋廣南;何征;呂榮川 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安空間無(wú)線電技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01W1/18 | 分類號(hào): | G01W1/18 |
| 代理公司: | 中國(guó)航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 張輝 |
| 地址: | 710100 陜西省西*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微波 輻射計(jì) 頻譜 細(xì)分 接收機(jī) 通道 耦合 性能 測(cè)試 方法 | ||
1.微波輻射計(jì)頻譜細(xì)分接收機(jī)的通道耦合性能測(cè)試方法,其特征在于該方法的步驟包括:
(1)設(shè)頻譜細(xì)分接收機(jī)的采樣帶寬為fs,通道數(shù)為N,則頻譜細(xì)分接收機(jī)的頻譜分辨率為待測(cè)頻譜范圍為待測(cè)通道為正N/2個(gè)通道;
(2)將頻譜細(xì)分接收機(jī)前端接入點(diǎn)頻信號(hào)源,后端連接上位機(jī);
(3)令i的初值為1;
(4)設(shè)置點(diǎn)頻信號(hào)源頻率為第i個(gè)通道的中心頻率;
(5)點(diǎn)頻信號(hào)源所產(chǎn)生的信號(hào)進(jìn)入頻譜細(xì)分接收機(jī)后,通過上位機(jī)得到頻譜范圍在的個(gè)通道的輸出功率,其中第j個(gè)通道的輸出功率為Pj,
(6)利用如下公式計(jì)算第j個(gè)通道關(guān)于第i個(gè)通道的耦合值xij:
式中,Pmax為所有通道最大輸出功率;然后進(jìn)入步驟(7);
(7)i的值加1,判斷i是否大于若是,則測(cè)試結(jié)束,否則重復(fù)步驟(4)—(6)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微波輻射計(jì)頻譜細(xì)分接收機(jī)的通道耦合性能測(cè)試方法,其特征在于:所述步驟(2)中,點(diǎn)頻信號(hào)源的頻譜輸出范圍能夠覆蓋
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微波輻射計(jì)頻譜細(xì)分接收機(jī)的通道耦合性能測(cè)試方法,其特征在于:所述步驟(4)中,第i個(gè)通道的中心頻率為
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微波輻射計(jì)頻譜細(xì)分接收機(jī)的通道耦合性能測(cè)試方法,其特征在于:所述步驟(6)中,Pmax為第i個(gè)通道的輸出功率。
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