[發明專利]摳圖模型的訓練、摳圖方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202011504662.4
• 申請日: 2020-12-18
• 公開（公告）號: CN112541927A
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: 劉鈺安
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G06T7/11
• 分類號: G06T7/11;G06T7/12;G06T7/194;G06T5/30;G06N3/08
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 邢惠童

1.一種摳圖模型的訓練方法，其特征在于，所述方法包括：

將樣本圖像輸入第一圖像分割模型和第二圖像分割模型，分別得到所述樣本圖像對應的初始樣本掩膜Mask圖和初始樣本三層分割Trimap圖，所述初始樣本Mask圖被劃分為前景區域和背景區域，所述初始樣本Trimap圖被劃分為前景區域、背景區域和待定區域；

利用所述初始樣本Mask圖對所述初始樣本Trimap圖進行優化，得到目標樣本Trimap圖；

將所述目標樣本Trimap圖和所述樣本圖像輸入摳圖模型，得到所述樣本圖像對應的樣本透明通道Alpha圖，所述樣本Alpha圖中包含各個像素點對應的預測透明通道值；

基于所述樣本Alpha圖和所述樣本圖像對應的標注Alpha圖，對所述摳圖模型進行訓練，所述標注Alpha圖中標注有各個像素點的樣本透明通道值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述初始樣本Mask圖對所述初始樣本Trimap圖進行優化，得到目標樣本Trimap圖，包括：

利用所述初始樣本Mask圖對所述初始樣本Trimap圖中的待定區域進行優化，得到候選樣本Trimap圖；

利用腐蝕樣本Mask圖對所述候選樣本Trimap圖中的前景區域進行優化，得到所述目標樣本Trimap圖，所述腐蝕樣本Mask圖由所述初始樣本Mask圖經過腐蝕處理得到。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，前景區域中的像素點對應第一像素值，待定區域中的像素點對應第二像素值，背景區域中的像素點對應第三像素值，所述第一像素值大于所述第二像素值，且所述第二像素值大于所述第三像素值；

所述利用所述初始樣本Mask圖對所述初始樣本Trimap圖中的待定區域進行優化，得到候選樣本Trimap圖，包括：

確定所述初始樣本Trimap圖和所述初始樣本Mask圖中像素點的對應關系；

對于所述初始樣本Trimap圖中任一像素點，響應于所述像素點在所述初始樣本Trimap圖中對應的像素值為所述第三像素值，且所述像素點在所述初始樣本Mask圖中對應的像素值為所述第一像素值，將所述初始樣本Trimap圖中所述像素點的像素值更新為所述第二像素值，得到所述候選樣本Trimap圖。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述利用腐蝕樣本Mask圖對所述候選樣本Trimap圖中的前景區域進行優化，得到所述目標樣本Trimap圖，包括：

對所述腐蝕樣本Mask圖和所述候選樣本Trimap圖進行像素級疊加，得到樣本疊加圖像；

對于所述樣本疊加圖像中的任一像素點，響應于像素值大于所述第一像素值，將所述像素點在所述樣本疊加圖像中的像素值更新為所述第一像素值，得到所述目標樣本Trimap圖。

5.根據權利要求1至4任一所述的方法，其特征在于，所述基于所述樣本Alpha圖和所述樣本圖像對應的標注Alpha圖，對所述摳圖模型進行訓練，包括：

計算所述樣本Alpha圖中各個像素點對應預測透明通道值與所述樣本透明通道值的歐氏距離；

基于所述歐氏距離確定所述摳圖模型的摳圖損失，所述摳圖損失為各個所述像素點對應的所述歐氏距離之和；

基于所述摳圖損失，利用梯度下降算法對所述圖像處理模型進行反向傳播訓練。

6.根據權利要求2至4任一所述的方法，其特征在于，所述利用腐蝕樣本Mask圖對所述候選樣本Trimap圖中的所述前景區域進行優化，得到所述目標樣本Trimap圖之前，所述方法包括：

利用開源計算機視覺庫OpenCV中的圖像腐蝕函數，對所述初始樣本Mask圖進行腐蝕處理，得到所述腐蝕樣本Mask圖，所述腐蝕樣本Mask圖中的前景區域小于所述初始樣本Mask圖中的前景區域。