[發(fā)明專利]一種用于高精度高表面底板的非接觸檢測載臺

有效

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• 申請日: 2020-12-18
• 公開（公告）號: CN112240755B
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發(fā)明（設計）人: 丁程
• 申請（專利權）人: 適新科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 蘇州拓云知識產權代理事務所(普通合伙) 32344
• 代理人: 王云峰

本發(fā)明公開了一種用于高精度高表面底板的非接觸檢測載臺，其包括機箱底座、外設機殼、左裝夾件、右裝夾件、平行光照射組件以及光感裝置，所述機箱底座的上端面右側垂直固定有右裝夾件，所述機箱底座的上端面左側垂直固定有左裝夾件，所述左裝夾件將高精度高表面底板左側沿豎直方向進行上下調節(jié)；所述右裝夾件將高精度高表面底板右側沿水平方向進行左右調節(jié)，所述暫存腔室內部下側安裝有平行光照射組件，所述平行光照射組件提供多數匯焦平行光線，并傾斜直射于高精度高表面底板的表面；所述機箱底座內靠近所述右裝夾件的一側豎直安裝有光感裝置。

技術領域

本發(fā)明涉及高精度底板檢測設備技術領域，具體為一種用于高精度高表面底板的非接觸檢測載臺。

背景技術

工件板材的表面制造精度對零件的涂裝性能、導熱性和接觸電阻、反射能力和輻射性能、液體和氣體流動的阻力、導體表面電流的流通等都會有不同程度的影響，因此成為了重點關注的指標之一。而尤其對于高精度高表面底板的檢測目前最常用為觸針式檢測方式，其中為確保結果的準確性，用于實驗室大批量生產檢驗的粗糙度設備多采用接觸式觸針探頭，但因試樣不固定以及存在高度差，造成測量頭觸針與試樣間存在滑動、接觸不良等問題，影響檢測結果的準確性，且，在接觸測量中易對試樣產生磨痕刮傷，影響材料測量質量，因此有必要提出一種用于高精度高表面底板的非接觸檢測載臺，以解決上述問題。

發(fā)明內容

為實現上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：一種用于高精度高表面底板的非接觸檢測載臺，其包括機箱底座、外設機殼、左裝夾件、右裝夾件、平行光照射組件以及光感裝置，其中，所述機箱底座的內部中側開始設有用于容納高精度高表面底板的暫存腔室，所述機箱底座的上端面安裝有外設機殼，所述機箱底座的上端面右側垂直固定有右裝夾件，所述右裝夾件對高精度高表面底板的右端邊沿位置進行定位裝夾；

所述機箱底座的上端面左側垂直固定有左裝夾件，所述左裝夾件對高精度高表面底板的左端邊沿位置進行定位裝夾，且，所述左裝夾件與所述右裝夾件分別獨立運作，并相互配合對高精度高表面底板兩側進行限位固定，所述左裝夾件將高精度高表面底板左側沿豎直方向進行上下調節(jié)；所述右裝夾件將高精度高表面底板右側沿水平方向進行左右調節(jié)，使得高精度高表面底板在暫存腔室內呈現空間旋轉調節(jié)狀態(tài)；

所述暫存腔室內部下側安裝有平行光照射組件，所述平行光照射組件提供多數匯焦平行光線，并傾斜直射于高精度高表面底板的表面；

所述機箱底座內靠近所述右裝夾件的一側豎直安裝有光感裝置，所述光感裝置對高精度高表面底板表面反射的局部光線進行測量感應，并將感應數據及時輸送至外設數據處理裝置進行處理。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案，所述左裝夾件包括主支撐件、連接件、滑動導軌、傳動鏈板、驅動輪座、主安裝座一以及夾持裝置一，其中，所述機箱底座的上端面豎直固定有主支撐件，所述主支撐件上通過橫向設置的連接件與所述滑動導軌相固定，所述滑動導軌的一端豎直伸入所述機箱底座的暫存腔室內；

所述滑動導軌上相對上下滑動的設置有驅動輪座，所述驅動輪座通過設置在其內部的多個驅動輪齒與所述滑動導軌嚙合傳動，所述滑動導軌上還平行設置有傳動鏈板，所述傳動鏈板的一端與所述驅動輪座連接固定，并輔助所述驅動輪座進行限位滑移；

所述驅動輪座遠離所述主支撐件的一端固定有主安裝座一，所述主安裝座一內相對轉動的設置有轉軸件一，所述轉軸件一上固定有夾持裝置一，并由所述夾持裝置一對高精度高表面底板的側面邊沿進行局部夾護。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選技術方案，所述右裝夾件包括連接支柱、中心螺桿、外固定架、旋轉電機、主安裝座二以及夾持裝置二，其中，所述機箱底座的上端面右側水平固定有外固定架，所述外固定架內兩側均采用軸承相對轉動的設置有中心螺桿，所述外固定架上相對左右滑動的豎直設置有連接支柱，所述連接支柱的下端通過螺紋嚙合作用與所述中心螺桿嚙合傳動，所述機箱底座的上端面安裝有旋轉電機，所述旋轉電機的輸出端與所述中心螺桿連接固定，并驅動所述中心螺桿作定向圓周旋轉運動；