[發(fā)明專利]具有波導的半導體裝置及其方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011503662.2 | 申請日: | 2020-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN112992802A | 公開(公告)日: | 2021-06-18 |
| 發(fā)明(設計)人: | M·B·文森特;G·卡路奇歐;M·斯佩拉;S·M·海耶斯 | 申請(專利權(quán))人: | 恩智浦美國有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/31 | 分類號: | H01L23/31;H01L23/66;H01P3/12;H01Q1/22;H01Q1/50 |
| 代理公司: | 中國貿(mào)促會專利商標事務所有限公司 11038 | 代理人: | 張小穩(wěn) |
| 地址: | 美國得*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 波導 半導體 裝置 及其 方法 | ||
1.一種制造半導體裝置的方法,其特征在于,所述方法包括:
形成組件,包括:
將半導體管芯和發(fā)射器結(jié)構(gòu)放置在載體襯底上,所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)包括天線發(fā)射器;
包封所述半導體管芯和所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)的至少一部分;
在所述半導體管芯的第一主表面和所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)的第一主表面上施加再分布層,所述半導體管芯的接合墊通過所述再分布層連接到所述天線發(fā)射器;
將所述組件附接到襯底;以及
將波導結(jié)構(gòu)附接到所述襯底,所述波導結(jié)構(gòu)與所述組件重疊并且與所述組件在物理上分離。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)形成為具有空腔,所述天線發(fā)射器位于所述空腔的底部表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,另外包括形成基本上包圍所述天線發(fā)射器的導電環(huán)結(jié)構(gòu),所述導電環(huán)結(jié)構(gòu)的外側(cè)壁與所述空腔的側(cè)壁間隔開以在所述導電環(huán)結(jié)構(gòu)與所述空腔的側(cè)壁之間形成通道。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,另外包括:
對所述組件進行背面研磨,以暴露基本上包圍所述天線發(fā)射器的導電路徑;以及
將導電環(huán)結(jié)構(gòu)附接到暴露的導電路徑上。
5.一種半導體裝置,其特征在于,包括:
印刷電路板(PCB),所述PCB具有頂側(cè)表面;
在所述頂側(cè)表面處將封裝組件附接到所述PCB,所述封裝組件包括:
封裝襯底,所述封裝襯底具有第一主表面和第二主表面;
半導體管芯,所述半導體管芯具有有源表面和背側(cè)表面,所述半導體管芯在所述第一主表面處附接到所述封裝襯底;
發(fā)射器結(jié)構(gòu),所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)在所述第一主表面處附接到所述封裝襯底,所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)包括通過所述封裝襯底耦合到所述半導體管芯的天線發(fā)射器;以及
環(huán)氧材料,所述環(huán)氧材料包封所述半導體管芯和所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)的至少一部分;以及
波導結(jié)構(gòu),所述波導結(jié)構(gòu)在所述頂側(cè)表面處附接到所述PCB,所述波導結(jié)構(gòu)與所述封裝組件重疊并且與所述封裝組件在物理上分離。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導體裝置,其特征在于,所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)形成為具有空腔,所述天線發(fā)射器位于所述空腔的底部表面。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導體裝置,其特征在于,所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)另外包括基本上包圍所述天線發(fā)射器的導電環(huán)結(jié)構(gòu),所述導電環(huán)結(jié)構(gòu)的外側(cè)壁與所述空腔的側(cè)壁間隔開,以在所述導電環(huán)結(jié)構(gòu)與所述空腔的側(cè)壁之間形成通道。
8.一種半導體裝置,其特征在于,包括:
印刷電路板(PCB),所述PCB具有頂側(cè)表面;
封裝半導體裝置,所述封裝半導體裝置在所述頂側(cè)表面處附接到所述PCB,所述封裝半導體裝置包括:
封裝襯底,所述封裝襯底具有第一主表面和第二主表面;
半導體管芯,所述半導體管芯具有有源表面和背側(cè)表面,所述半導體管芯在所述第一主表面處附接到所述封裝襯底;
發(fā)射器結(jié)構(gòu),所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)在所述第一主表面處附接到所述封裝襯底,所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)包括通過所述封裝襯底的導電饋源耦合到所述半導體管芯的天線發(fā)射器;以及
環(huán)氧材料,所述環(huán)氧材料包封所述半導體管芯和所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)的至少一部分;以及
波導結(jié)構(gòu),所述波導結(jié)構(gòu)在所述頂側(cè)表面處附接到所述PCB,所述波導結(jié)構(gòu)與所述封裝半導體裝置重疊,所述波導結(jié)構(gòu)的波導開口具有基本上包圍所述天線發(fā)射器的側(cè)壁,所述波導結(jié)構(gòu)與所述封裝半導體裝置在物理上分離。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導體裝置,其特征在于,所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)形成為具有空腔,所述天線發(fā)射器位于所述空腔的底部表面。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的半導體裝置,其特征在于,所述發(fā)射器結(jié)構(gòu)另外包括導電環(huán)結(jié)構(gòu),所述導電環(huán)結(jié)構(gòu)基本上包圍所述天線發(fā)射器并且與所述空腔的側(cè)壁間隔開,以在所述導電環(huán)結(jié)構(gòu)與所述空腔的側(cè)壁之間形成通道,所述波導開口的側(cè)壁部分延伸到形成于所述導電環(huán)結(jié)構(gòu)與所述空腔的所述側(cè)壁之間的所述通道中。
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