[發明專利]圖形篩選方法及裝置、服務器和存儲介質有效

申請號：	202011502781.6	申請日：	2020-12-18
公開（公告）號：	CN112632893B	公開（公告）日：	2022-07-22
發明（設計）人：	李翡;高云鋒	申請（專利權）人：	南京華大九天科技有限公司
主分類號：	G06F30/367	分類號：	G06F30/367
代理公司：	北京成創同維知識產權代理有限公司 11449	代理人：	蔡純;李鎮江
地址：	211800 江蘇省南京市中國（江蘇）自由***	國省代碼：	江蘇;32
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摘要：
搜索關鍵詞：	圖形篩選方法裝置服務器存儲介質
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【說明書】：

本公開涉及微電子器件建模領域，提供了一種用于器件建模工具的圖形篩選方法及裝置、服務器和存儲介質，首先獲取包括有數條預先配置的圖形篩選規則的圖形篩選規則集合；其次根據前述的圖形篩選規則集合中的一條圖形篩選規則，從原始圖形集合中篩選出目標圖形集合；最后根據預先配置的圖形排序規則將前述目標圖形集合進行分組排序。由此可通過不同的篩選語句遍歷原始圖形集合的樹形結構節點，進行包含有原始圖形存儲名稱的關鍵詞查詢，快速準確地選取所要調用的目標圖形集合，并根據預設有目標圖形參數閾值的判斷語句和排序語句對目標圖形集合進行分組排序，以此有效提高器件建模中圖形數據分析的效率和準確性。

技術領域

本公開涉及微電子器件建模領域，具體涉及一種用于器件建模工具的圖形篩選方法及裝置、服務器和存儲介質。

背景技術

半導體器件設計極大地受益于模擬和模型的使用，仿真可以部分取代耗費成本的硅片實驗，可以降低成本，縮短開發周期和提高成品率。也就是說，仿真可以虛擬生產并指導實際生產。從中節省開發新的或擴展現有技術的時間與費用。但技術發展需要的遠不止是一種基本的模擬能力，相反，用于幫助實現和優化設計的建模與優化工具和方法變得越來越重要了。

尤其像電子IT行業里面的仿真軟件按用途分是多種多樣的。僅僅是集成電路這個行業來講，就分為電路仿真、器件仿真、工藝仿真等。在實際應用中，器件仿真可以通過提取器件模型的電學參數來實現電學特性仿真，既有利于設計新型器件，也可以用于舊器件改良，驗證器件的電學特性。

集成電路通用模擬程序(Simulation program with integrated circuitemphasis，SPICE)是最為普遍的電路級模擬程序，可以設定不同的激勵，得到設計電路在此條件下的響應結果。針對半導體器件的進行SPICE仿真，使得仿真結果與器件實際測試結果匹配。根據相關技術，在仿真過程中，半導體器件建模需要同時使用很多帶有數據的圖形進行分析，現有的圖形篩選中主要是通過手動查找和排序，這就需要耗費較長的時間，而如果在功能更為復雜的器件仿真中，圖形選擇和排序的過程就變得更為繁瑣，耗時長的同時也易造成錯誤。

發明內容

為了解決上述技術問題，本公開提供了一種用于器件建模工具的圖形篩選方法及裝置、服務器和存儲介質，可有效提高器件建模中圖形數據分析的效率和準確性。

一方面本公開提供了一種用于器件建模工具的圖形篩選方法，包括：

獲取預先配置的圖形篩選規則集合，該圖形篩選規則集合中包括數條預先配置的圖形篩選規則；

根據前述圖形篩選規則集合中的一條圖形篩選規則，從原始圖形集合中篩選出目標圖形集合；

根據預先配置的圖形排序規則將前述目標圖形集合進行分組排序。

優選地，前述圖形篩選規則包括具有遍歷前述原始圖形集合中樹形結構節點的篩選語句，該篩選語句包括表征前述目標圖形的特征信息，

且該特征信息包括前述原始圖形在對應層級節點下的存儲名稱中的關鍵詞。

優選地，前述圖形篩選規則用于執行：

分級查找存儲在前述原始圖形集合的樹形結構節點的圖形特征信息，篩選出匹配前述關鍵詞的目標圖形集合。

優選地，前述預先配置的圖形篩選規則集合存儲于前述器件建模工具的指定配置文件中，

且啟動該器件建模工具時，自動讀取前述的指定配置文件。