[發明專利]一種適用于微波雷達的通用測試系統

在審

• 申請號: 202011502563.2
• 申請日: 2020-12-17
• 公開（公告）號: CN112540359A
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: 劉乃強;丁慶海;張少甫;趙毅寰;戴宗武
• 申請（專利權）人: 航天恒星科技有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40;G06F13/38
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 陳鵬

1.一種適用于微波雷達的通用測試系統，其特征在于，包括：測試設備和硬件子系統；其中，

所述測試設備，用于接收操作人員輸入的測試信息，以及將所述測試信息封裝為標準測試文件，根據所述標準測試文件對預設測試軟件進行重新配置，執行重新配置后的測試軟件輸出所述測試信息，其中，所述測試信息包括測試需求信息和被測雷達產品的測試接口信息，所述測試文件的描述語言為預設標準描述語言；

所述硬件子系統，用于接收所述測試設備輸出的測試信息，并根據所述測試信息從被測雷達產品中獲取被測參數以及調整與所述被測雷達產品連接的接口適配器，并根據調整后的接口適配器與所述被測雷達產品連接。

2.如權利要求1所述的系統，其特征在于，所述測試設備，包括：輸入設備、測試文件描述模塊、測試文件封裝模塊以及測試系統配置模塊；其中，

所述輸入設備，用于接收操作人員輸入的所述測試信息；

所述測試文件描述模塊，用于確定所述測試信息的描述語言，將所述描述語言轉換為預設描述語言；

所述測試文件封裝模塊，用于將所述預設描述語言描述的測試信息進行封裝得到所述標準測試文件；

所述測試系統配置模塊，用于根據標準測試文件對所述預設測試軟件進行重新配置得到所述重新配置后的測試軟件，執行重新配置后的測試軟件輸出所述測試信息。

3.如權利要求2所述的系統，其特征在于，所述測試文件描述模塊，包括：測試描述組件和適配器組件；其中，

所述測試描述組件，用于通過所述預設描述語言對所述測試需求信息進行描述，并通過預設的Test Description.xsd文件承載所述測試需求信息的內容及測試需求信息承載方式；

所述適配器組件，用于通過所述預設描述語言對所述測試接口信息進行描述，并通過預設的Test Adapter.xsd文件承載所述測試接口信息的內容和測試接口信息承載方式。

4.如權利要求3所述的系統，其特征在于，所述測試文件封裝模塊，具體用于：

確定所述測試需求信息和所述測試接口信息在所述標準測試文件中的位置和屬性；

根據所述位置、所述屬性以及預設標準文件模板生成所述標準測試文件。

5.如權利要求1～4任一項所述的系統，其特征在于，所述預設描述語言為自動測試標記語言ATML；所述標準測試文件為XML文件。

6.如權利要求5所述的系統，其特征在于，所述測試系統配置模塊，包括解析子模塊以及配置子模塊；其中，

所述解析子模塊，用于對所述標準測試文件進行解析得到解析后的測試文件；

所述配置子模塊，用于根據所述解析后的測試文件對所述預設測試軟件進行重新配置，并執行所述重新配置后的測試軟件輸出所述測試信息。

7.如權利要求1～4任一項所述的系統，其特征在于，所述硬件子系統，包括：雷達測量儀器以及接口適配器開關矩陣；其中，

所述雷達測量儀器，用于加載所述測試設備輸出的測試信息，根據所述測試信息從被測雷達產品中獲取被測參數；

所述接口適配器開關矩陣，用于根據所述測試信息調整與所述被測雷達產品連接的接口適配器，并根據調整后的接口適配器與所述被測雷達產品連接。