[發明專利]一種巖礦檢測裝置

在審

• 申請號: 202011495314.5
• 申請日: 2020-12-17
• 公開（公告）號: CN112683903A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 周杰強;張廣輝;陳興華;嚴育紅
• 申請（專利權）人: 河南資環檢測科技有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N21/01
• 代理公司: 北京酷愛智慧知識產權代理有限公司 11514
• 代理人: 胡林

本發明公開了一種巖礦檢測裝置，包括立柱以及轉動設于所述立柱上端的第一轉盤，所述第一轉盤的上端轉動設置有第二轉盤，所述第一轉盤和所述第二轉盤之間可相對轉動，第一轉盤上設置有檢測設備，所述第二轉盤上沿周向設置有多個巖礦切片放置部，所述巖礦切片放置部與所述檢測設備的檢測端對應。本申請解決了相關技術中對巖礦切片的檢測需要多次更換巖礦切片，導致檢測速度慢，檢測效率低的問題。

技術領域

本發明涉及巖礦檢測技術領域，具體涉及一種巖礦檢測裝置。

背景技術

巖石中各類礦物的成分分析以及含量的確定對于巖石的命名和明確導致其形成的地質條件均有重要的意義。例如，在沉積巖中，重礦物的含量可以反映母巖特征以及物源的遠近；在巖漿巖中，副礦物的含量則可以用來進行巖漿巖的時代對比以及分析巖漿演化。目前對礦物成分分析的方法主要為利用顯微鏡的圖版估測法，即把巖礦薄片樣品放置在顯微鏡下，然后由觀察者對巖礦薄片內的各類礦物的成分進行分析以及含量的確定。每次分析需要擺放大量的不同層段的巖礦薄片，但在顯微鏡下一次只能放置2-3片，在檢測完后需要更換新的樣片，導致檢測時間過長，不便于快速的對巖礦進行檢測。

發明內容

針對現有技術中的缺陷，本發明提供一種巖礦檢測裝置，包括立柱以及轉動設于所述立柱上端的第一轉盤，所述第一轉盤的上端轉動設置有第二轉盤，所述第一轉盤和所述第二轉盤之間可相對轉動，第一轉盤上設置有檢測設備，所述第二轉盤上沿周向設置有多個巖礦切片放置部，所述巖礦切片放置部與所述檢測設備的檢測端對應。

優選地，巖礦切片放置部包括多個開設在所述第二轉盤上表面的凹槽，所述凹槽用于放置巖礦切片。

優選地，凹槽的底面開設有通孔，所述通孔的直徑小于所述凹槽的直徑，所述凹槽內活動設置有呈T形的頂板，所述頂板的下端位于所述通孔內，上端位于所述凹槽內。

優選地，凹槽內設置有透光有機玻璃，所述透光有機玻璃活動置于所述頂板上端。

優選地，檢測設備設置為光學顯微鏡，所述透光有機玻璃上設置有網格線。

優選地，第一轉盤的上端設置有套管，所述套管內套設有第一連接柱，所述第一連接柱與所述套管轉動連接，所述第二轉盤固設在所述第一連接柱上端。

優選地，第一連接柱套設在所述套管內的一端沿徑向開設有第一滑槽，所述套管內側開設有多個第一球形卡槽，所述第一球形卡槽與所述凹槽一一對應；所述第一滑槽內設置有第一彈簧和第一卡珠，所述第一卡珠的第一端位于所述第一滑槽內并套設在所述第一彈簧內，第二端延伸出所述第一滑槽并卡設在所述第一球形卡槽內，所述第一卡珠與所述第一滑槽滑動連接。

優選地，立柱的上端呈中空設置，所述第一轉盤的下端設置有第二連接柱，所述第二連接柱插設在所述立柱的上端并轉動連接。

優選地，第二連接柱套設在所述立柱內的一端沿徑向開設有第二滑槽，所述立柱內側開設有多個第而球形卡槽，所述第二球形卡槽與所述凹槽一一對應；所述第二滑槽內設置有第二彈簧和第二卡珠，所述第二卡珠的第一端位于所述第二滑槽內并套設在所述第二彈簧內，第二端延伸出所述第二滑槽并卡設在所述第二球形卡槽內，所述第二卡珠與所述第二滑槽滑動連接。

優選地，第一轉盤的直徑小于所述第二轉盤的直徑。

本發明的有益效果體現在：

可將不同的巖礦切片逐一放置在位于第二轉盤上的各個巖礦切片放置部上，檢測裝置固定在第一轉盤上，檢測人員可轉動第二轉盤實現對不同巖礦切片放置部的巖礦切片進行檢測，從而提高了單位時間內的檢測量，提高了檢測效率，繼而解決了相關技術中對巖礦切片的檢測需要多次更換巖礦切片，導致檢測速度慢，檢測效率低的問題。

附圖說明