[發(fā)明專利]多核計算芯片

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011493560.7
• 申請日: 2020-12-16
• 公開（公告）號: CN112527581A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐淑曉;王瑋;胡水海
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳致星科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市力道知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44507
• 代理人: 賀小旺

本申請公開了一種多核計算芯片，所述多核計算芯片包括多個用于并行計算的計算引擎，還包括：存儲部件，用于存儲測試向量和所述測試向量對應(yīng)的預期結(jié)果；控制與測試部件，用于控制所述計算引擎根據(jù)所述存儲部件中存儲的測試向量對自身進行測試得到所述計算引擎的所述測試向量對應(yīng)的測試結(jié)果，結(jié)合所述存儲部件中存儲的所述測試向量對應(yīng)的預期結(jié)果，確定所述多個計算引擎中是否存在異常計算引擎。通過這種方式，能夠?qū)Χ嗪诵酒〞r或?qū)崟r檢測，該多核計算芯片特別適用于隱私計算領(lǐng)域。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及芯片技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種多核計算芯片。

背景技術(shù)

芯片內(nèi)部由大量的晶體管單元組成，在生產(chǎn)加工過程中容易不可避免的引入一些制造缺陷，導致一些單元不能正常工作，導致整個芯片無法正常工作。因此必須對芯片進行測試，識別出有瑕疵的芯片。

隨著工藝節(jié)點的降低，芯片面積的增大，單芯片內(nèi)部發(fā)生制造缺陷的概率也隨之增加。現(xiàn)有的芯片測試方式一般是在芯片被集成到終端產(chǎn)品之前用測試機臺將有瑕疵的芯片檢測出來，并將有瑕疵的芯片丟棄掉。

但是，現(xiàn)有技術(shù)無法對多核芯片(即多個計算引擎)進行定時或?qū)崟r檢測；當只有個別核心(即計算引擎)有制造缺陷而采取丟棄的方式會大幅降低芯片的良率并增加芯片的成本；對于在使用過程中出現(xiàn)的功能性錯誤，只能采取更換芯片的方式修復，增加維修成本。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，本申請?zhí)峁┮环N多核計算芯片，能夠?qū)Χ嗪诵酒〞r或?qū)崟r檢測，能夠?qū)Ξ惓：诵倪M行處理，從而為降低芯片成本和維修成本提供技術(shù)支持。

第一方面，本申請?zhí)峁┮环N多核計算芯片，所述多核計算芯片包括多個用于并行計算的計算引擎，所述多核計算芯片還包括：

存儲部件，用于存儲測試向量和所述測試向量對應(yīng)的預期結(jié)果；

控制與測試部件，用于控制所述計算引擎根據(jù)所述存儲部件中存儲的測試向量對自身進行測試得到所述計算引擎的所述測試向量對應(yīng)的測試結(jié)果，結(jié)合所述存儲部件中存儲的所述測試向量對應(yīng)的預期結(jié)果，確定所述多個計算引擎中是否存在異常計算引擎。

第二方面，本申請?zhí)峁┝硪环N多核計算芯片，所述多核計算芯片包括多個用于并行計算的計算引擎，所述多核計算芯片還包括：

異常核心處理部件，用于在多個計算引擎中存在異常計算引擎時，在控制指令下對所述異常計算引擎進行處理；

對所述異常計算引擎進行處理包括：對所述異常計算引擎進行標記處理和/或在處于工作模式時對所述異常計算引擎進行屏蔽處理。

本申請實施例提供了一種多核計算芯片，所述多核計算芯片包括多個用于并行計算的計算引擎，還包括：存儲部件，用于存儲測試向量和所述測試向量對應(yīng)的預期結(jié)果；控制與測試部件，用于控制所述計算引擎根據(jù)所述存儲部件中存儲的測試向量對自身進行測試得到所述計算引擎的所述測試向量對應(yīng)的測試結(jié)果，結(jié)合所述存儲部件中存儲的所述測試向量對應(yīng)的預期結(jié)果，確定所述多個計算引擎中是否存在異常計算引擎。由于存儲測試向量和所述測試向量對應(yīng)的預期結(jié)果的存儲部件和控制所述計算引擎對自身進行測試的控制與測試部件和計算引擎集成在一起，屬于芯片不可分割的部件，通過這種方式，能夠?qū)Χ嗪擞嬎阈酒械亩鄠€計算引擎進行定時或?qū)崟r檢測。