[發明專利]用于平板顯示器中的相移空白掩膜和光掩膜在審
| 申請號: | 202011485574.4 | 申請日: | 2020-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN113009774A | 公開(公告)日: | 2021-06-22 |
| 發明(設計)人: | 金東建;孔鐘奎 | 申請(專利權)人: | 思而施技術株式會社 |
| 主分類號: | G03F1/32 | 分類號: | G03F1/32 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 孫微;孫進華 |
| 地址: | 韓國大*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 平板 顯示器 中的 相移 空白 光掩膜 | ||
1.一種用于平板顯示器(FPD)中的相移空白掩膜,該相移空白掩膜包括:
位于透明襯底上的相移膜,
其中所述相移膜包括:
控制曝光光線的透射率的透射衰減層;以及
控制所述曝光光線的相移量的相移層。
2.根據權利要求1所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述透射衰減層由主要包含鉻(Cr)并且包含氮(N)和碳(C)中的一種或多種輕元素的材料制成。
3.根據權利要求2所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述透射衰減層的組成比為50原子%至100原子%的鉻(Cr)、0原子%至50原子%的氮(N)和0原子%至50原子%的碳(C)。
4.根據權利要求2所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述透射衰減層由進一步包含氟(F)、氫(H)和硼(B)中的一種或多種輕元素的材料制成。
5.根據權利要求1所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述透射衰減層的厚度為至
6.根據權利要求5所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中當將所述透射衰減層配置為多層時,各層的厚度為至
7.根據權利要求1所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述相移層由主要包含鉻(Cr)并且包含氧(O)、氮(N)和碳(C)中的一種或多種輕元素的材料制成。
8.根據權利要求7所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述相移層的組成比為10原子%至60原子%的鉻(Cr)、0原子%至60原子%的氮(N)、0原子%至60原子%的氧(O)和0原子%至40原子%的碳(C)。
9.根據權利要求1所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述相移層的厚度為至
10.根據權利要求9所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中當將所述相移層配置為兩層或更多層的多層時,各層的厚度為至
11.根據權利要求1所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述透射衰減層包括形成于所述透明襯底上的第一透射衰減層以及形成于所述第一透射衰減層上的第二透射衰減層。
12.根據權利要求11所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述第一透射衰減層由主要包含鉻(Cr)并且包含氮(N)和碳(C)中的一種或多種輕元素的材料制成,并且
所述第二透射衰減層由主要包含鉻(Cr)并且包含氧(O)、氮(N)和碳(C)中的一種或多種輕元素的材料制成。
13.根據權利要求12所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述第一透射衰減層的組成比為50原子%至100原子%的鉻(Cr)、0原子%至30原子%的氮(N)和0原子%至30原子%的碳(C),并且
所述第二透射衰減層的組成比為5原子%至50原子%的鉻(Cr)、0原子%至70原子%的氮(N)、0原子%至70原子%的氧(O)和0原子%至50原子%的碳(C)。
14.根據權利要求12所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述第一透射衰減層和所述第二透射衰減層中的至少任一者由進一步包含氟(F)、氫(H)和硼(B)中的一種或多種輕元素的材料制成。
15.根據權利要求11所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中所述第一透射衰減層的厚度為至并且所述第二透射衰減層的厚度為至
16.根據權利要求15所述的用于FPD中的相移空白掩膜,其中當將所述第一透射衰減層配置為多層時,各層的厚度為至并且
當將所述第二透射衰減層配置為多層時,各層的厚度為至
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于思而施技術株式會社,未經思而施技術株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011485574.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:用于形成纖維復合材料預成型件的方法
- 下一篇:配備有濕式清潔裝置的清潔頭
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學臨近校正(OPC)設計工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準或測試的特殊涂層或標記;其制備





