[發明專利]一種基因芯片、包括其的試劑盒及其應用在審
| 申請號: | 202011485147.6 | 申請日: | 2020-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN112626191A | 公開(公告)日: | 2021-04-09 |
| 發明(設計)人: | 雷博;郝冰濤;李亞;朱青 | 申請(專利權)人: | 雷博 |
| 主分類號: | C12Q1/6883 | 分類號: | C12Q1/6883;C12Q1/6874;C12N15/11 |
| 代理公司: | 北京匯知杰知識產權代理有限公司 11587 | 代理人: | 楊巍;柴春玲 |
| 地址: | 河南省鄭*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基因芯片 包括 試劑盒 及其 應用 | ||
本發明提供了一種用于識別和篩查近視高危人群的基因芯片,其中,所述基因芯片包括特異性針對表1所示的基因的基因探針。通過設計針對近視高危人群的已知致病基因和突變的探針來對該類疾病的分子基因進行識別和篩查,并且通過目的區域的靶向測序來對已知的致病基因進行檢測,具有針對性強、正確性高、測序深度深、費用較低、以及功能位點的信息較全的優點。相對于全基因組測序,大大節約了所需要的測序數據量。此外,實現了一次性檢測疾病相關致病基因的大多數突變,平衡了性價比,為疾病的治療和干預提供保障。此外,本發明還提供了一種包括所述基因芯片的用于識別和篩查近視高危人群的試劑盒,以及一種利用基因芯片篩查受試者基因突變的方法。
技術領域
本發明涉及遺傳病檢測領域,具體地,涉及用于識別和篩查近視高危人群的基因芯片,包括所述基因芯片的試劑盒,及利用所述基因芯片篩查受試者基因突變的方法。
背景技術
近視(Myopia)通常是指在調節放松狀態下,平行光線經眼球屈光系統后聚焦在視網膜之前。近視在全球特別是亞洲人群中的患病率較高,是致盲的主要因素之一。在我國近視的發病率逐年增高,近視人數約占全國總人數的50%,由高度近視導致的盲目也逐年增加,已成為影響眼健康的首位眼病。
近視具有不可逆性和不可治療性,一旦發生近視不但會影響視覺質量,隨著近視的不斷進展會形成高度近視或者病理性近視,并伴有后鞏膜葡萄腫、近視性黃斑病變(如眼底萎縮、脈絡膜新生血管、近視性黃斑劈裂等)、視網膜周邊部變性等一系列眼底改變,同時也可合并其他的眼部癥狀如白內障、青光眼、視網膜脫離等。近視的病因較為復雜,其中遺傳因素和環境因素都起到了至關重要的作用。目前認為近視是單基因和(或)多基因遺傳病,其遺傳方式可分為常染色體顯性遺傳、常染色體隱性遺傳和性連鎖隱性遺傳等。由于近視有較強的臨床和遺傳異質性,基因型與表型之間的關系多變、復雜,相同的致病基因可以引起不同的臨床表現,而同一表型也可由不同的突變所引起,同時又存在外顯不完全、多基因、單個基因效應微弱以及受到環境因子交互作用的影響等特點,為尋找致病基因及篩查識別近視高危人群帶來了極大的限制。因此迫切需要更加精準、高效、低成本的輔助方法來提高近視高位人群診斷和篩查的準確性。
近視的傳統遺傳學分析方法有連鎖分析、關聯研究等,但由于近視發病機制的復雜性和局限性,難以開展大規模的高效精確檢測。隨著分子生物學的迅速發展,二代測序技術(NGS)已成為遺傳病致病基因篩查檢測的重要工具廣并且泛應用到高度近視的基因診斷和研究中。二代測序技術主要分為三種:全基因組測序(WGS)、全基因組外顯子測序(WES)和目的區域測序。全基因組測序能夠檢測整個基因組的基因突變、CNV和結構變異,幾乎涵蓋了整個人類基因組(98%),但它也有局限性,如成本高、對DNA質量的要求較高、測序深度相對較低、海量數據的生物信息學分析等等。目的區域測序是對已知的致病基因進行檢測,具有針對性強,樣品量大,費用較低并且功能位點信息較全的優點。對于近視高危人群的識別和篩查而言,高深度、高準確性以及低成本尤為重要。而全基因組測序由于產生大量的測序數據,測序成本較高而且測序深度相對較低,無法實現對重要功能基因篩查的全覆蓋、零遺漏和高準確度,在近視致病高危人群的基因篩查和識別中存在極大的限制。
因此,開發一款準確性高、成本低廉的針對近視高危人群的已知致病基因和突變的測序產品對近視高危人群的識別和篩查尤為重要。
發明內容
有鑒于此,本申請設計了一組針對近視高危人群的已知致病基因和突變的基因探針,并由此提供了一種包括該基因探針的基因芯片,包括該基因芯片的試劑盒,以及利用所述基因芯片篩查受試者基因突變的方法。
根據本發明的第一方面,本發明提供了一種用于識別和篩查近視高危人群的基因芯片,其中,所述基因芯片包括特異性針對表1所示的基因的基因探針。
根據本發明的第二方面,本發明提供了一種用于識別和篩查近視高危人群的試劑盒,其特征在于,所述試劑盒包括本發明的第一方面提供的基因芯片。
根據本發明的第三方面,本發明提供了一種了利用基因芯片篩查受試者基因突變的方法,所述方法包括:
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