[發(fā)明專利]利用銫原子Ramsey躍遷模型評估銫原子鐘頻移因素偏差的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011484193.4 | 申請日: | 2020-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN112613168A | 公開(公告)日: | 2021-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳海軍;閆雨菲;麻力;馮進(jìn)軍 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第十二研究所 |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 張雪梅 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 原子 ramsey 躍遷 模型 評估 原子鐘 因素 偏差 方法 | ||
1.一種利用銫原子Ramsey躍遷模型評估銫原子鐘頻移因素偏差的方法,其特征在于,該方法包括以下步驟
獲取銫原子超精細(xì)Ramsey躍遷檢測曲線;
根據(jù)檢測曲線中相鄰兩個π躍遷線之間的間距計算靜磁場強(qiáng)度的值;
利用所述靜磁場強(qiáng)度的值,繪制理想情況Ramsey躍遷仿真曲線;
基于理想情況Ramsey躍遷仿真曲線與所述躍遷檢測曲線,確定影響銫原子Ramsey躍遷的多個影響因素的取值范圍;
在確定的各影響因素取值范圍內(nèi),改變各影響因素的取值并繪制Ramsey躍遷仿真曲線,以使繪制的Ramsey躍遷仿真曲線逼近所述躍遷檢測曲線;
確定可表征所述躍遷檢測曲線的各影響因素值,作為該銫原子鐘頻移因素的偏差。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于理想情況Ramsey躍遷仿真曲線與所述躍遷檢測曲線確定影響銫原子Ramsey躍遷的多個影響因素的取值范圍,包括
根據(jù)檢測曲線中每個超精細(xì)Ramsey躍遷關(guān)于中心躍遷頻率的不對稱,確定腔相差的取值范圍;
根據(jù)檢測曲線中每個超精細(xì)Ramsey躍遷的中心頻率的偏移,確定平均磁場差值的取值范圍;
根據(jù)檢測曲線中的相鄰σ躍遷,確定微波磁場與C場夾角的取值范圍。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,利用如下公式根據(jù)Ramsey躍遷檢測曲線中相鄰兩個π躍遷線之間的間距計算靜磁場強(qiáng)度HC的值:
其中,Δv為每兩個相鄰π躍遷中心峰之間的頻率間距,ΔW0是靜磁場強(qiáng)度為零時兩個基態(tài)能級的能量差,μB是玻爾磁子,gJ和gI分別是銫原子中電子和原子核的g因子。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,繪制Ramsey躍遷仿真曲線的步驟包括
確定微波掃描頻率的頻率范圍;
確定原子速率范圍;
計算每個速率的原子在每個頻率點(diǎn)的躍遷幾率;
對所有速率的原子在每個頻率點(diǎn)的躍遷幾率進(jìn)行加權(quán)并歸一化處理,繪制Ramsey躍遷仿真曲線。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,
根據(jù)如下公式計算每個速率的原子在每個頻率點(diǎn)的躍遷幾率
其中,T是原子渡越漂移區(qū)的時間;τ是原子渡越每個相互作用區(qū)的時間;Ω0是微波角頻率與有磁場擾動時的0-0躍遷線角頻率之差,b是拉比角頻率。
對所有速率的原子在每個頻率點(diǎn)的躍遷幾率進(jìn)行加權(quán)并歸一化處理的表達(dá)式如下
其中,f(υ)是原子的速率分布。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,理想情況下,僅存在π躍遷時,
其中,Hπ是平行于C場的微波磁場分量,是約化普朗克常數(shù),I是核自旋數(shù),mF是總角動量F的磁量子數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述確定腔相差取值范圍的步驟包括
根據(jù)所述檢測曲線中心峰兩側(cè)谷底的電平高低,確定腔相差的正負(fù);
根據(jù)所述檢測曲線中心峰兩側(cè)谷底的電平差值大小,確定腔相差的取值范圍。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述確定相互作用區(qū)平均磁場與漂移區(qū)平均磁場差值的取值范圍的步驟包括
根據(jù)所述檢測曲線任一非0-0躍遷Ramsey峰相對所在Rabi臺的偏移方向,確定互作用區(qū)平均磁場強(qiáng)度與漂移區(qū)平均磁場強(qiáng)度差值的正負(fù);
根據(jù)所述檢測曲線任一非0-0躍遷Ramsey峰相對所在Rabi臺的頻偏大小,確定差值范圍。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國電子科技集團(tuán)公司第十二研究所,未經(jīng)中國電子科技集團(tuán)公司第十二研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011484193.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 一種基于DNA計算模型的拉蒙賽圖的獲取方法和系統(tǒng)
- 一種微波周期性O(shè)n-Off調(diào)制VCSEL實(shí)現(xiàn)Ramsey-CPT原子頻標(biāo)的方法及裝置
- 一種TE<sub>01P</sub>模同軸Ramsey腔
- 一種切換微波頻率實(shí)現(xiàn)Ramsey-CPT原子鐘的裝置及方法
- 一種獲得Ramsey-CPT譜的方法及裝置
- 一種量子光共振裝置
- 基于Ramsey干涉實(shí)驗(yàn)進(jìn)行量子比特頻率校準(zhǔn)方法
- 一種應(yīng)用量子線路計算超圖Ramsey數(shù)的方法
- 一種基于絕熱量子算法求解超圖Ramsey數(shù)方法
- 利用銫原子Ramsey躍遷模型評估銫原子鐘頻移因素偏差的方法





