[發(fā)明專利]一種芯片測(cè)試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011481315.4
• 申請(qǐng)日: 2020-12-15
• 公開（公告）號(hào): CN112612659B
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊國(guó)文;何驍偉;吳義桂
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 海光信息技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22;G06F11/263
• 代理公司: 北京市廣友專利事務(wù)所有限責(zé)任公司 11237
• 代理人: 張仲波

1.一種芯片測(cè)試方法，其特征在于，包括：

從被測(cè)芯片中的預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊，獲取當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息；其中，所述預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊為非易失性可重復(fù)讀寫擦除存儲(chǔ)模塊；

根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息，確定在當(dāng)前測(cè)試站別對(duì)所述被測(cè)芯片進(jìn)行的操作；所述測(cè)試信息包括對(duì)所述被測(cè)芯片執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目所得到的測(cè)試數(shù)據(jù)；所述根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息，確定在當(dāng)前測(cè)試站別對(duì)所述被測(cè)芯片進(jìn)行的操作，包括：根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)，對(duì)所述被測(cè)芯片執(zhí)行當(dāng)前測(cè)試站別的測(cè)試項(xiàng)目，得到所述當(dāng)前測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)；根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)，以及所述當(dāng)前測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)，確定所述被測(cè)芯片中的待關(guān)閉模塊；若所述當(dāng)前測(cè)試站別非最后的測(cè)試站別，則將所述待關(guān)閉模塊的信息寫入所述預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊；若所述當(dāng)前測(cè)試站別為最后的測(cè)試站別，則將所述待關(guān)閉模塊關(guān)閉。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在從被測(cè)芯片中的預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊，獲取當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息之前，包括：

在進(jìn)行當(dāng)前測(cè)試站別前的任一測(cè)試站別的測(cè)試時(shí)，將各個(gè)測(cè)試站別的測(cè)試信息寫入預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊中的不同存儲(chǔ)區(qū)域。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試信息包括產(chǎn)品等級(jí)信息；所述根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息，確定在當(dāng)前測(cè)試站別對(duì)所述被測(cè)芯片進(jìn)行的操作，包括：

檢查所述產(chǎn)品等級(jí)信息中是否包括不良品信息；

如果包括不良品信息，則不進(jìn)行當(dāng)前測(cè)試站別的測(cè)試項(xiàng)目，結(jié)束測(cè)試流程。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試信息包括對(duì)所述被測(cè)芯片執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目所得到的測(cè)試數(shù)據(jù)；所述根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息，確定在當(dāng)前測(cè)試站別對(duì)所述被測(cè)芯片進(jìn)行的操作，包括：

根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)，在當(dāng)前測(cè)試站別，調(diào)整對(duì)所述被測(cè)芯片進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試參數(shù)和/或測(cè)試方法。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試信息包括對(duì)所述被測(cè)芯片執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目所得到的測(cè)試數(shù)據(jù)；

所述根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息，確定在當(dāng)前測(cè)試站別對(duì)所述被測(cè)芯片進(jìn)行的操作，包括：

根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)，對(duì)所述被測(cè)芯片執(zhí)行當(dāng)前測(cè)試站別的測(cè)試項(xiàng)目，得到所述當(dāng)前測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)，以及所述當(dāng)前測(cè)試站別的測(cè)試數(shù)據(jù)，確定待寫入可熔斷矩陣式存儲(chǔ)電路內(nèi)的信息；

若所述當(dāng)前測(cè)試站別非最后的測(cè)試站別，則將所述待寫入可熔斷矩陣式存儲(chǔ)電路內(nèi)的信息寫入所述預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊；

若所述當(dāng)前測(cè)試站別為最后的測(cè)試站別，則將所述待寫入可熔斷矩陣式存儲(chǔ)電路內(nèi)的信息寫入可熔斷矩陣式存儲(chǔ)電路中。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在根據(jù)所述當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息，確定在當(dāng)前測(cè)試站別對(duì)所述被測(cè)芯片進(jìn)行的操作之后，還包括：

判斷所述當(dāng)前測(cè)試站別是否為所述被測(cè)芯片的最后測(cè)試站別；

若所述當(dāng)前測(cè)試站別非最后的測(cè)試站別，則將所述當(dāng)前測(cè)試站別的測(cè)試信息寫入所述預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊；

若所述當(dāng)前測(cè)試站別為最后的測(cè)試站別，則擦除所述預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊中的信息。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在從被測(cè)芯片中的預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊，獲取當(dāng)前測(cè)試站別前的站別的測(cè)試信息之前，包括：

對(duì)預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊進(jìn)行讀寫測(cè)試；

如果所述預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊通過(guò)讀寫測(cè)試，則執(zhí)行從被測(cè)芯片中的預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊，獲取當(dāng)前測(cè)試站別前的測(cè)試站別的測(cè)試信息的步驟；

如果所述預(yù)設(shè)存儲(chǔ)模塊未通過(guò)讀寫測(cè)試，則結(jié)束流程。