[發(fā)明專利]點燈機臺破片抽檢方法以及破片抽檢的點燈機臺

在審

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• 申請日: 2020-12-15
• 公開（公告）號: CN112508426A
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發(fā)明（設計）人: 王定力
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06Q50/04
• 代理公司: 深圳紫藤知識產(chǎn)權代理有限公司 44570
• 代理人: 裴磊磊

1.一種點燈機臺破片抽檢方法，其特征在于，包含以下步驟：

提供面板初始資料；

根據(jù)第一抽檢訊號檢測所述面板初始資料，并產(chǎn)生第一抽檢資料；

判別所述第一抽檢資料，并產(chǎn)生面板檢測資料；

根據(jù)第二抽檢訊號檢測所述面板檢測資料，并產(chǎn)生第二抽檢資料；以及

判別所述第二抽檢資料，并合成所述第二抽檢資料和缺陷碼，以產(chǎn)生面板最終資料。

2.如權利要求1所述的點燈機臺破片抽檢方法，其特征在于，包含上傳所述第一抽檢資料和所述第二抽檢資料至網(wǎng)路附屬儲存網(wǎng)盤。

3.如權利要求1所述的點燈機臺破片抽檢方法，其特征在于，包含上傳所述面板所述面板最終資料至資訊串接系統(tǒng)，以利產(chǎn)品履歷查詢系統(tǒng)運作。

4.如權利要求1所述的點燈機臺破片抽檢方法，其特征在于，所述第一抽檢資料和第二抽檢資料為面板的修補等級，且所述修補等級包含不用修補、需修補的點、需修補的線。

5.如權利要求1所述的點燈機臺破片抽檢方法，其特征在于，所述缺陷碼包含優(yōu)、良、尚可、次等。

6.一種破片抽檢的點燈機臺，其特征在于，所述破片抽檢的點燈機臺包含裝貨端、點燈裝置和卸貨端，且所述點燈裝置包含偵測裝置和第一抽檢模塊；

所述裝貨端傳輸面板初始資料至所述點燈裝置，且所述裝貨端遞送面板至所述點燈裝置；

所述點燈裝置傳輸所述面板初始資料至所述偵測裝置，所述第一抽檢模塊發(fā)送第一抽檢訊號至所述偵測裝置，且所述偵測裝置根據(jù)所述第一抽檢訊號檢測所述面板初始資料，并產(chǎn)生第一抽檢資料；

所述點燈裝置遞送所述面板至卸貨端；

所述卸貨端包含第二抽檢模塊，所述點燈裝置輸入第二抽檢訊號至所述第二抽檢模塊，所述第二抽檢模塊根據(jù)所述第二抽檢訊號遞送所述面板至點燈，且所述偵測裝置根據(jù)所述第二抽檢訊號檢測所述第一抽檢資料，并產(chǎn)生第二抽檢資料；

所述偵測裝置合成所述第二抽檢資料與缺陷碼以產(chǎn)生面板最終資料；以及

所述點燈裝置遞送所述面板至所述卸貨端。

7.如權利要求6所述的破片抽檢的點燈機臺，其特征在于，所述偵測裝置傳輸所述第一抽檢資料和所述面板最終資料至所述點燈裝置。

8.如權利要求6所述的破片抽檢的點燈機臺，其特征在于，當所述裝貨端遞送面板至所述點燈裝置，所述點燈裝置會計數(shù)所述面板，并同時發(fā)送所述第一抽檢訊號給所述偵測裝置，使偵測裝置檢測每片面板。

9.如權利要求6所述的破片抽檢的點燈機臺，其特征在于，當所述裝貨端遞送面板至所述點燈裝置，所述點燈裝置會計數(shù)所述面板，并同時發(fā)送所述第一抽檢訊號給所述偵測裝置，使偵測裝置抽檢N片所述面板中的其中一片面板。

10.如權利要求9所述的破片抽檢的點燈機臺，其特征在于，N為正整數(shù)且大于1。