[發(fā)明專利]激光加工裝置和加工痕的確認方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011473938.7
• 申請日: 2020-12-15
• 公開（公告）號: CN113042880A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 河野文彌
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社迪思科
• 主分類號: B23K26/00
• 分類號: B23K26/00;B23K26/03;B23K26/08
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 喬婉;于靖帥

1.一種激光加工裝置，其特征在于，

該激光加工裝置具有：

激光束照射單元，其照射具有被加工物所吸收的波長的激光束而對該被加工物進行加工；

拍攝單元，其用于拍攝該被加工物；以及

處理部，其對利用該拍攝單元對該被加工物進行拍攝而獲取的圖像進行處理，

該處理部具有：

直方圖制作部，其根據(jù)利用該拍攝單元對從該激光束照射單元向該被加工物的一個面?zhèn)日丈浼す馐纬傻亩鄠€加工痕進行拍攝而得到的圖像，制作該圖像的包含沿著第1方向的多個第1位置和各第1位置處的亮度的第1直方圖以及包含沿著與該第1方向垂直的第2方向的多個第2位置和各第2位置處的亮度的第2直方圖；以及

確定部，其根據(jù)該直方圖制作部所制作的該第1直方圖和該第2直方圖而確定形成有各加工痕的區(qū)域的邊界。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光加工裝置，其特征在于，

該直方圖制作部在各第1位置對表示位于通過第1位置且與該第2方向平行的直線上的多個像素的亮度的尺度的值進行累積而制作該第1直方圖，

在各第2位置對表示位于通過第2位置且與該第1方向平行的直線上的多個像素的亮度的尺度的值進行累積而制作該第2直方圖。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的激光加工裝置，其特征在于，

該處理部還包含輪廓檢測部，該輪廓檢測部針對該區(qū)域而制作表示分別位于該第2方向的不同位置且與該第1方向平行的多條直線的各直線上的多個像素的亮度的第3直方圖以及表示分別位于該第1方向的不同位置且與該第2方向平行的多條直線的各直線上的多個像素的亮度的第4直方圖，從而對加工痕的輪廓進行檢測。

4.一種加工痕的確認方法，在使用激光加工裝置對被加工物的一個面?zhèn)日丈浼す馐鴱亩纬啥鄠€加工痕之后，對形成有各加工痕的區(qū)域進行確認，其特征在于，

該加工痕的確認方法具有如下的步驟：

加工痕形成步驟，向該被加工物照射具有該被加工物所吸收的波長的該激光束而在該被加工物的該一個面?zhèn)刃纬稍摱鄠€加工痕；

拍攝步驟，對通過該加工痕形成步驟而形成的該多個加工痕進行拍攝而獲取圖像；

直方圖制作步驟，該激光加工裝置的處理部制作該圖像的包含沿著第1方向的多個第1位置和各第1位置處的亮度的第1直方圖以及沿著與該第1方向垂直的第2方向的多個第2位置和各第2位置處的亮度的第2直方圖；以及

確定步驟，該處理部根據(jù)通過該直方圖制作步驟而制作的該第1直方圖和該第2直方圖而確定形成有各加工痕的區(qū)域的邊界。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的加工痕的確認方法，其特征在于，

在該直方圖制作步驟中，

該處理部在各第1位置對表示位于通過第1位置且與該第2方向平行的直線上的多個像素的亮度的尺度的值進行累積而制作該第1直方圖，

在各第2位置對表示通過第2位置且與該第1方向平行的直線上的多個像素的亮度的尺度的值進行累積而制作該第2直方圖。

6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的加工痕的確認方法，其特征在于，

該加工痕的確認方法還具有如下的輪廓檢測步驟：針對該區(qū)域，該處理部制作表示分別位于該第2方向的不同位置且與該第1方向平行的多條直線的各直線上的多個像素的亮度的第3直方圖以及表示分別位于該第1方向的不同位置且與該第2方向平行的多條直線的各直線上的多個像素的亮度的第4直方圖，從而對各加工痕的輪廓進行檢測。