[發(fā)明專利]一種理化試樣自動(dòng)排樣的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011472371.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112613139B | 公開(公告)日: | 2022-05-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王少陽(yáng);彭富華;謝林杉;王園;聶海平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都飛機(jī)工業(yè)(集團(tuán))有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G06F30/17 | 分類號(hào): | G06F30/17;G06F30/20 |
| 代理公司: | 成都天嘉專利事務(wù)所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 彭紅艷 |
| 地址: | 610092 四川*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 理化 試樣 自動(dòng) 方法 | ||
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種理化試樣自動(dòng)排樣的方法,包括將三維實(shí)體離散化、邊界搜索、邊界距離計(jì)算和試樣擺放。通過(guò)本自動(dòng)排樣的方法,在三維數(shù)模中代替人工給定理化試樣位置,同時(shí)本方法具有一定穩(wěn)定性并易于實(shí)現(xiàn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種理化試樣自動(dòng)排樣的方法。
背景技術(shù)
為檢測(cè)鍛件力學(xué)性能、化學(xué)成分、冶金組織等,需在鍛件三維數(shù)模中根據(jù)試樣大小、鍛件尺寸排布理化試樣的位置。目前,理化試樣排布完全依靠人工進(jìn)行,CAD軟件操作復(fù)雜、重復(fù)性勞動(dòng)量大,隨著鍛件數(shù)量不斷增加,人工排樣已不能滿足業(yè)務(wù)發(fā)展需求。同時(shí),目前常見的排樣算法僅適用于二維平面圖,如板料、皮革的排料,這種算法不能應(yīng)用于三維模型表達(dá)的鍛件理化試樣排布中。此外,不同于鈑金零件等規(guī)則結(jié)構(gòu)件,鍛件的CAD模型曲面特征豐富、建模過(guò)程繁雜,其特征結(jié)構(gòu)包含多個(gè)層級(jí)的倒角、圓角、拔模、曲面橋接等,難以直接采用CAD圖形特征識(shí)別進(jìn)行理化試樣的自動(dòng)排布。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提出了一種理化試樣自動(dòng)排樣的方法,在三維數(shù)模中代替人工給定理化試樣位置,同時(shí)本方法具有一定穩(wěn)定性并易于實(shí)現(xiàn)。
本發(fā)明是通過(guò)采用下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種理化試樣自動(dòng)排樣的方法,其特征在于:包括以下步驟:
a.三維實(shí)體離散化:將三維實(shí)體模型分割、離散,以單元體積或高度代替三維實(shí)體高度方向幾何信息,實(shí)現(xiàn)三維實(shí)體圖形二維化,建立對(duì)應(yīng)的體積參數(shù)表;
b.邊界搜索:利用濾鏡搜索并記錄體積參數(shù)表中的邊界單元;
c.邊界距離計(jì)算:建立行列數(shù)與體積參數(shù)表一致的邊界距離表,重復(fù)利用濾鏡,計(jì)算被掃描單元至其周邊特定單元的距離;
d.試樣擺放:利用體積參數(shù)表和邊界距離表,結(jié)合理化試樣尺寸,計(jì)算理化試樣三維坐標(biāo)和旋轉(zhuǎn)角度,生成鍛件理化試樣三維數(shù)模。
所述步驟a中的三維實(shí)體離散化具體包括:沿三維實(shí)體長(zhǎng)度、寬度方向建立二維坐標(biāo)系x-y,以Δa為間距,將三維實(shí)體離散為若干個(gè)面積為Δa2的離散單元;沿x方向?yàn)殡x散單元編號(hào)為i,沿y方向離散單元編號(hào)為j,將i作為列號(hào),j作為行號(hào),測(cè)量相應(yīng)腳標(biāo)(i,j)的離散單元的體積vi,j或高度hi,j,并填入相應(yīng)行列的表格單元中,形成體積參數(shù)表,其中
測(cè)量離散單元的體積包括:構(gòu)建兩層循環(huán)程序結(jié)構(gòu),分別以i、j作循環(huán),通過(guò)CAD軟件二次開發(fā)接口測(cè)量坐標(biāo)為(i,j)的單元體積為vi,j。
測(cè)量離散單元的高度具體指:在兩層循環(huán)程序結(jié)構(gòu)上再增加一層循環(huán),沿三維實(shí)體的厚度方向進(jìn)行若干層的切片,逐層累計(jì)各單元格高度。
所述步驟b中的邊界搜索具體包括:
b1.構(gòu)建濾鏡,濾鏡掃描體積參數(shù)表中的任意一個(gè)單元X,以單元X為中心,根據(jù)距離單元X的不同距離,將單元X周邊的單元格分為多層,分別給予濾鏡層號(hào)η,濾鏡層號(hào)η=1表示離單元X越近;
b2.構(gòu)建兩層循環(huán)程序結(jié)構(gòu)分別以i、j作循環(huán),遍歷體積參數(shù)表中的單元X;判斷是否遍歷完所有的單元,若是,進(jìn)入步驟b6,若否,進(jìn)入步驟b3;
b3.使用濾鏡觀測(cè)單元X,判斷是否存在任一η=1的濾鏡單元的Vi',j'=0,若不存在,則進(jìn)入步驟b2,若存在,則該單元X為邊界單元,進(jìn)入步驟b4;
b4.查詢?cè)撨吔鐔卧猉是否被記錄過(guò),若是,進(jìn)入步驟b2,若否,進(jìn)入步驟b5;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于成都飛機(jī)工業(yè)(集團(tuán))有限責(zé)任公司,未經(jīng)成都飛機(jī)工業(yè)(集團(tuán))有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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