[發明專利]一種非金屬件貯存壽命計算方法

有效

• 申請號: 202011471204.5
• 申請日: 2020-12-14
• 公開（公告）號: CN112668156B
• 公開（公告）日: 2023-06-20
• 發明（設計）人: 呂瑛;張偉;岳曉加
• 申請（專利權）人: 北京遙感設備研究所
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F119/04
• 代理公司: 中國航天科工集團公司專利中心 11024
• 代理人: 姜中英

本發明提供一種非金屬件貯存壽命計算方法。其包括：第一步、選定表征非金屬件退化的指標，將非金屬件硬化層厚度作為非金屬件新的退化指標；第二步、試驗過程中定期檢測非金屬件硬化層厚度，包括：使用掃描電子顯微對非金屬件進行微觀組織分子觀測，測量硬度測試壓痕處的硬化層厚度，按照一定時間間隔測試硬化層厚度，將測試數值按照時間點進行詳細記錄。第三步、擬合非金屬件硬化層厚度?時間退化模型，評估貯存壽命，包括：根據上述測得的非金屬件硬化層厚度?時間退化數據，得到非金屬件硬化層厚度隨時間的退化模型。本發明解決以往某些非金屬件在進行貯存試驗時，主要參數和硬度等指標未出現趨勢性變化，不能評估貯存壽命的問題。

技術領域

本發明涉及非金屬件技術領域，特別是一種貯存試驗過程中性能沒有明顯變化情況下的非金屬件貯存壽命計算方法。

背景技術

某些非金屬件在進行貯存試驗時，主要參數和硬度等指標未出現趨勢性變化，不能給出常規的性能退化模型，無法有效評估貯存壽命，導致試驗失敗。需要尋找另外一種能夠表征非金屬件退化的新指標，通過試驗過程中定時測量，擬合出新的退化模型，從而對非金屬件貯存壽命進行預測。

發明內容

本發明目的在于提供一種非金屬件貯存壽命計算方法，解決以往某些非金屬件在進行貯存試驗時，主要參數和硬度等指標未出現趨勢性變化，不能評估貯存壽命的問題。

對此，本發明提出一種非金屬件貯存壽命計算方法，其包括：第一步、選定表征非金屬件退化的指標，將非金屬件硬化層厚度作為非金屬件新的退化指標；第二步、試驗過程中定期檢測非金屬件硬化層厚度，包括：使用掃描電子顯微對非金屬件進行微觀組織分子觀測，測量硬度測試壓痕處的硬化層厚度，按照一定時間間隔測試硬化層厚度，一般按照每1000h進行一次測試，將測試數值按照時間點進行詳細記錄。第三步、擬合非金屬件硬化層厚度-時間退化模型，評估貯存壽命，包括：根據上述測得的非金屬件硬化層厚度-時間退化數據，得到非金屬件硬化層厚度隨時間的退化模型。

本發明解決以往某些非金屬件在進行貯存試驗時，主要參數和硬度等指標未出現趨勢性變化，不能評估貯存壽命的問題。在不顯著增加試驗時間和成本的條件下，解決了傳統方法不能評估非金屬件貯存壽命的問題，具有較高的推廣價值。

具體實施方式

本發明提出一種非金屬件貯存壽命計算方法，其包括：

第一步、選定表征非金屬件退化的指標

用掃描電子顯微鏡對非金屬件進行微觀組織分析，觀測到非金屬件表面出現了硬化現象，硬化層越厚表明非金屬件退化越嚴重，因此將非金屬件硬化層厚度作為非金屬件新的退化指標。

第二步、試驗過程中定期檢測非金屬件硬化層厚度

使用掃描電子顯微對非金屬件進行微觀組織分子觀測，主要觀察和測量硬度測試壓痕處的硬化層厚度，按照一定時間間隔測試硬化層厚度，一般按照每1000h間隔進行一次測試，將測試數值按照時間點進行詳細記錄。通過對非金屬件表面進行微觀組織觀察與測量，量化非金屬試件表面硬化層厚度隨時間變化。

第三步、擬合非金屬件硬化層厚度-時間退化模型，評估貯存壽命

根據上述測得的非金屬件硬化層厚度-時間退化數據，通過數學方法按照公式(1)進行擬合，求出待定系數A、B，得到非金屬件硬化層厚度隨時間的退化模型。

H(t)＝A·exp(B·t)????????????????????????(1)

其中：

H(t)——非金屬件硬化層厚度；

t——貯存試驗時間；

A、B——待定系數，一般情況下A＞0，0＜B＜1。