[發(fā)明專利]具有室溫拓?fù)浠魻栃?yīng)的外延Pt/γ′-Fe4 有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011471090.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112680705B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-08-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 米文博;史曉慧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天津大學(xué) |
| 主分類號(hào): | C23C14/35 | 分類號(hào): | C23C14/35;C23C14/06;C23C14/18;C30B23/02;C30B29/38 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責(zé)任專利代理事務(wù)所 12201 | 代理人: | 王麗 |
| 地址: | 300350 天津市津南區(qū)海*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 室溫 拓?fù)?/a> 霍爾 效應(yīng) 外延 pt fe base sub | ||
1.一種具有室溫拓?fù)浠魻栃?yīng)的外延Pt/γ′-Fe4N/MgO異質(zhì)結(jié)構(gòu);其特征是γ′-Fe4N薄膜在MgO(001)單晶基底上沿[001]方向外延生長(zhǎng),Pt在外延γ′-Fe4N/MgO結(jié)構(gòu)上沿[111]方向取向生長(zhǎng);其中γ′-Fe4N薄膜厚度為3-5nm,Pt厚度為2-3nm。
2.如權(quán)利要求1所述的結(jié)構(gòu),其特征是,所述的Pt/γ′-Fe4N/MgO從下到上依次為MgO(001)基片、γ′-Fe4N層和Pt層;其中,MgO(001)為單晶基片,γ′-Fe4N為鐵磁層,Pt為非磁性重金屬層。
3.權(quán)利要求1所述 的具有室溫拓?fù)浠魻栃?yīng)的外延Pt/γ′-Fe4N/MgO異質(zhì)結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征包括如下步驟:
1)采用對(duì)向靶磁控濺射鍍膜機(jī),基底材料為單面拋光的MgO(001)單晶片;使用兩塊純度為99.99%的Fe靶,安裝在對(duì)靶頭上,其中一頭作為磁力線的N極,另一頭為S極;靶材厚度為2-4mm,直徑為60mm;兩個(gè)靶之間的距離為60-90mm,靶的軸線與放有MgO(001)單晶片的基片架之間的距離為60-90mm;
2)將覆蓋有通道寬度為10-90μm的掩膜板的MgO(001)單晶片固定在基片架上,放到擋板后面,關(guān)閉真空室;
3)開(kāi)啟對(duì)向靶磁控濺射鍍膜機(jī)真空系統(tǒng),抽真空,直至濺射室的背底真空度小于等于2×10–5Pa,此時(shí)真空度便達(dá)到了制備樣品的真空度的要求,可以開(kāi)始鍍膜實(shí)驗(yàn);
4)開(kāi)始實(shí)驗(yàn),同時(shí)向真空室通入純度為99.999%的濺射氣體Ar氣和反應(yīng)氣體N2氣,Ar氣和N2氣的流量比為5:1-4:1,將真空度保持在0.5-1.0Pa;
5)將基底均勻升溫至400-500℃,升溫速率為10-20℃/min;
6)待基底溫度穩(wěn)定在目標(biāo)溫度后,開(kāi)啟濺射電源進(jìn)行預(yù)濺射,在一對(duì)Fe靶上施加0.30-0.50A的預(yù)濺射電流和800-1000V的預(yù)濺射電壓,預(yù)濺射5-10分鐘,待預(yù)濺射電流和電壓示數(shù)保持不變后停止預(yù)濺射;
7)待步驟6中的預(yù)濺射結(jié)束后,開(kāi)始濺射實(shí)驗(yàn);在一對(duì)Fe靶上施加0.05-0.10A的濺射電流和750-850V的濺射電壓,打開(kāi)基片架上的檔板開(kāi)始濺射,反應(yīng)濺射γ′-Fe4N薄膜過(guò)程中,MgO(001)單晶片位置固定;
8)濺射達(dá)到γ′-Fe4N薄膜的厚度為3-5nm;關(guān)閉基片架上的檔板,然后關(guān)閉濺射電源,停止通入Ar氣和N2氣,完全打開(kāi)閘板閥,繼續(xù)抽真空,利用控溫系統(tǒng)使基片勻速降至室溫,降溫速率為2-3℃/min;
9)將載有基片架的轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)至Pt對(duì)靶的位置;使用兩塊純度為99.99%的Pt靶,安裝在對(duì)靶頭上,其中一頭作為磁力線的N極,另一頭為S極;靶材厚度為2-4mm,直徑為60mm;兩個(gè)靶之間的距離為60-90mm,靶的軸線與鍍有外延的γ′-Fe4N薄膜的MgO(001)單晶片的基片架之間的距離為60-90mm;
10)關(guān)閉擋板,使γ′-Fe4N/MgO材料置于擋板后面;
11)同時(shí)向真空室通入純度為99.999%的濺射氣體Ar氣,將真空度保持在0.4-0.6Pa;
12)開(kāi)啟濺射電源,在一對(duì)Pt靶上施加0.02-0.03A的電流和850-950V的直流電壓,打開(kāi)基片架上的檔板開(kāi)始濺射,反應(yīng)濺射Pt薄膜過(guò)程中,鍍有外延γ′-Fe4N薄膜的MgO(001)單晶片位置固定;
13)濺射達(dá)到Pt薄膜的厚度為2-3nm;關(guān)閉基片架上的檔板,然后關(guān)閉濺射電源,停止通入Ar氣;
14)關(guān)閉真空系統(tǒng),打開(kāi)真空室,取出制備好的生長(zhǎng)在MgO(001)單晶片上的外延Pt/γ′-Fe4N薄膜。
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
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C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
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