[發明專利]地質-地震綜合判別斷層地震反射空白帶成因的方法

在審

• 申請號: 202011470560.5
• 申請日: 2020-12-14
• 公開（公告）號: CN114624777A
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: 湯夢靜;束青林;蘇朝光;孫明江;馬玉歌;王永斌;谷國翠;王釗
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司勝利油田分公司物探研究院
• 主分類號: G01V1/50
• 分類號: G01V1/50
• 代理公司: 濟南日新專利代理事務所(普通合伙) 37224
• 代理人: 崔曉艷

本發明提供一種地質?地震綜合判別斷層地震反射空白帶成因的方法，包括：步驟1，對比分析研究區內不同時期、不同采集方式的地震資料；步驟2，進行斷層地震反射空白帶成因的理論分析；步驟3，進行斷層體結構及斷層膠結充填帶地質特征分析；步驟4，正演模擬論證斷層膠結充填帶對斷層反射特征的影響；步驟5，辯證法分析地質現象與斷層地震反射特征的關系；步驟6，根據以上分析，建立地質?地震模型，判別斷層地震反射空白帶成因，確定該類斷層解釋方案，指導井位部署。該地質?地震綜合判別斷層地震反射空白帶成因的方法對復雜斷塊窄油藏圈閉的精細刻畫提高了有利支撐，有利于油氣的進一步挖潛。

技術領域

本發明涉及地球物理勘探及綜合研究領域，特別是涉及到一種地質-地震綜合判別斷層地震反射空白帶成因的方法。

背景技術

隨著高密度地震體的應用，發現高密度地震資料斷面波比較豐富。與常規剖面對比，雖然斷層特征清楚了，但在中深層斷層雙軌及空白反射特征更明顯，極大地影響了復雜斷塊斷面的精細刻畫和鉆探成功率。主要體現在高密度地震資料中深層斷層處出現“反射空白帶”(一般有3-6道)，斷面較寬，影響斷塊高點的確定，需要準確刻畫斷面位置才能準確部署井位。特別是復雜斷塊油藏大多具有含油條帶窄、縱向油層多等特點，且開發后期沿斷層一線剩余油富集。

目前還沒有對斷層地震反射空白帶的研究，更缺乏判別其成因的方法。對這類斷層的形成機理不清，導致很難判斷這類斷層的解釋方案準確與否。前人都只是簡單的根據地震剖面上反射軸的位置進行確定，導致很多井未打到斷塊高點而失利。因此發明了一種地質-地震綜合判別斷層地震反射空白帶成因的方法，解決了以上技術問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種地質-地震綜合判別斷層地震反射空白帶成因的方法，為具有地震反射空白帶的斷層的識別和解釋提供可靠的依據及其指導作用。

本發明的目的可通過如下技術措施來實現：地質-地震綜合判別斷層地震反射空白帶成因的方法，該地質-地震綜合判別斷層地震反射空白帶成因的方法包括：步驟1，對比分析研究區內不同時期、不同采集方式的地震資料；步驟2，進行斷層地震反射空白帶成因的理論分析；步驟3，進行斷層體結構及斷層膠結充填帶地質特征分析；步驟4，正演模擬論證斷層膠結充填帶對斷層反射特征的影響；步驟5，辯證法分析地質現象與斷層地震反射特征的關系；步驟6，根據以上分析，建立地質-地震模型，判別斷層地震反射空白帶成因，確定該類斷層解釋方案，指導井位部署。

本發明的目的還可通過如下技術措施來實現：

在步驟1中，通過對研究區不同采集方式、不同時期地震資料斷層反射特征的對比分析，在判別地震剖面極性的基礎上，明晰斷層地震反射空白帶的發育規律，判別采集、處理因素是否是斷層地震反射空白帶成因。

在步驟2中，建立不同條件下的正演模型，進行斷層地震反射空白帶成因的理論分析，判別理論與實際是否一致。

在步驟3中，解剖斷層體結構，明確斷層膠結充填帶地質特征。

在步驟4中，在步驟3的基礎上，從實際地質特征出發，建立正演模型，模擬論證斷層膠結充填帶對斷層地震反射特征的影響。

在步驟5中，利用辯證法，進一步通過斷層膠結充填帶的地質現象與斷層地震反射特征相互印證；辯證分析斷層膠結充填帶的分布特征與斷層地震空白反射特征的關系，判別斷層膠結充填帶的地質分布特征是否可以解釋斷層地震反射空白帶在剖面上的展布特征。

在步驟6中，通過上述步驟分析，建立起地質-地震模型判別斷層地震反射空白帶的成因，并結合已鉆井，確定該類斷層解釋方案。