[發明專利]單粒子翻轉數據的實時分類標記方法及系統、設備有效
| 申請號: | 202011465432.1 | 申請日: | 2020-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN112631544B | 公開(公告)日: | 2023-10-10 |
| 發明(設計)人: | 鄧玉良;蘇通;殷中云;唐越;楊彬;李昂陽;莊偉堅 | 申請(專利權)人: | 深圳市國微電子有限公司 |
| 主分類號: | G06F5/06 | 分類號: | G06F5/06 |
| 代理公司: | 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414 | 代理人: | 李艷麗 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 粒子 翻轉 數據 實時 分類 標記 方法 系統 設備 | ||
本發明提供了一種單粒子翻轉數據的實時分類標記方法及系統、設備及存儲介質,采用一級FIFO和二級FIFO,所述方法包括:判斷芯片地址范圍和一級FIFO的空滿狀態,對芯片對應地址的數據進行讀取,將數據生成待標記的包文并依次存入所述一級FIFO;判斷一級FIFO、二級FIFO的空滿狀態,將待標記的包文從一級FIFO搬移至二級FIFO;在搬移待標記的包文的過程中,若一級FIFO與二級FIFO的當前地址數據非同時正確或錯誤時,將二級FIFO中緩存的待標記的包文集中輸出并完成類型標記。該方法可以實現試驗數據的分類標記和統計,并完成對器件敏感電路模塊的分析和重復試驗確認,而無需試驗后對全片的大量數據逐地址分析、統計,從而節省試驗時間、提升單次試驗的有效數據產出。
技術領域
本發明屬于輻照測試技術領域,尤其涉及一種單粒子翻轉數據的實時分類標記方法及系統、設備及存儲介質。
背景技術
隨著人類航天事業的不斷進步,用于支撐航天器探測能力不斷提升的航天應用軟件也在不斷升級,也就對航天電子計算系統中的存儲器的容量和速率提出更高的要求,因此在地面設備電子計算系統中常用的DRAM動態存儲器被作為潛在可應用于航天電子計算系統的備選器件。
地面設備電子系統中采用的DRAM動態存儲器為1T1C(1晶體管、1電容)結構,能夠應用尺寸不斷縮小的芯片工藝進行制造,在容量和成本方面在各型存儲器中具備突出優勢。而存儲器作為數據存儲載體,是航天器電子系統的關鍵組成器件,在空間環境中,宇宙射線、太陽增強粒子、高能量的質子和中子都能對常規未加固的DRAM動態存儲器產生單粒子效應(SEE),這使存儲的數據產生錯誤甚至器件整體的功能失效,影響航天器既定探測任務的執行,嚴重時也會引發航天器故障甚至事故。
為了確定動態存儲器件對單粒子敏感的模塊分布,需要開展單粒子效應試驗,通過統計器件在單粒子試驗環境中產生的錯誤數據的地址分布模式來反推對應的電路模塊,再加固對應電路并迭代驗證。且單粒子效應試驗資源極其有限,因此需要實時高效地完成對器件加固前和加固后的單粒子翻轉錯誤類型的標記和統計,評估器件在航天系統中的適用程度。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是:針對現有技術的問題,本發明提供了一種在有限的試驗時間內實時標記并統計出各種翻轉錯誤類型的數量和分布的方法。
第一方面,本發明提供了一種單粒子翻轉數據的實時分類標記方法,采用一級FIFO存儲器和二級FIFO存儲器,所述方法包括:
判斷芯片地址范圍和一級FIFO存儲器的空滿狀態,對所述芯片對應地址的數據進行讀取,將所述數據生成待標記的包文并依次存入所述一級FIFO存儲器,所述待標記包文至少包括當前地址數據;
判斷所述一級FIFO存儲器和二級FIFO存儲器的空滿狀態,將所述待標記的包文從所述一級FIFO存儲器搬移至所述二級FIFO存儲器;
在搬移所述待標記的包文的過程中,若所述一級FIFO存儲器中待標記包文的當前地址數據與所述二級FIFO存儲器中的當前地址數據非同時正確或錯誤時,將所述二級FIFO存儲器中緩存的待標記的包文集中輸出并完成類型標記。
第二方面,本發明提供了一種單粒子翻轉數據的實時分類標記系統,所述系統包括:
生成模塊:用于判斷芯片地址范圍和一級FIFO存儲器的空滿狀態,對所述芯片對應地址的數據進行讀取,將所述數據生成待標記的包文并依次存入所述一級FIFO存儲器,所述待標記包文至少包括當前地址數據;
搬移模塊:用于判斷所述一級FIFO存儲器和二級FIFO存儲器的空滿狀態,將所述待標記的包文從所述一級FIFO存儲器搬移至所述二級FIFO存儲器;
標記模塊:用于在搬移所述待標記的包文的過程中,若所述一級FIFO存儲器中待標記包文的當前地址數據與所述二級FIFO存儲器中的當前地址數據非同時正確或錯誤時,將所述二級FIFO存儲器中緩存的待標記的包文集中輸出并完成類型標記。
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