[發(fā)明專利]一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011464132.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112724444A | 公開(公告)日: | 2021-04-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 秦麗麗;王小軍;馮煜東;何丹;董茂進(jìn);王毅;王冠;蔡宇宏;夏成明;韓仙虎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘭州空間技術(shù)物理研究所 |
| 主分類號(hào): | C08J7/06 | 分類號(hào): | C08J7/06;C08J7/048;C08L67/02;C08L69/00;C08L33/14 |
| 代理公司: | 北京理工大學(xué)專利中心 11120 | 代理人: | 田亞琪 |
| 地址: | 730000 甘*** | 國(guó)省代碼: | 甘肅;62 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 工業(yè) 封裝 超高 阻隔 薄膜 及其 制備 方法 | ||
1.一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述薄膜以聚酯類柔性襯底為基底層,在基底層上沉積有若干層丙烯酸酯層、若干層金屬納米層和若干層陶瓷阻隔層;所述若干層丙烯酸酯層、若干層金屬納米層和若干層陶瓷阻隔層為交替層疊;所述丙烯酸酯層是通過濕法涂布制備而成;所述金屬納米層是通過磁控濺射制備而成;所述陶瓷阻隔層通過PECVD技術(shù)制備而成。
2.如權(quán)利要求1所述的一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述薄膜從基底層向上依次為第一陶瓷阻隔層、第一金屬納米層、第一丙烯酸酯層、第二陶瓷阻隔層、第二金屬納米層、第二丙烯酸酯層。
3.如權(quán)利要求1或2所述的一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述的基底層為PET、PC、PMMA、PEN中的一種。
4.如權(quán)利要求1或2所述的一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述基底層厚度介于6um~125um之間,更優(yōu)為介于12um~125um之間,最優(yōu)為介于50um~125um之間。
5.如權(quán)利要求1或2所述的一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述的丙烯酸酯層厚度為1um~3um之間。
6.如權(quán)利要求1或2所述的一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述金屬納米層金屬材料選自Ag、Cu、Cr、Ti、NiCr中的一種。
7.如權(quán)利要求1或2所述的一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述金屬納米層厚度為2~8nm,優(yōu)選為2~6nm。
8.如權(quán)利要求1或2所述的一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述陶瓷阻隔層的材料選自氮化鋁、氧化硅、氮化硅、氮氧化硅中的一種。
9.如權(quán)利要求1或2所述的一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜,其特征在于,所述陶瓷阻隔層的厚度10~65nm,優(yōu)選為15~60nm。
10.一種工業(yè)封裝用超高阻隔薄膜的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一、提供一基膜;
步驟二、于基膜上采用等離子化學(xué)氣相沉積法形成一層陶瓷阻隔層;
步驟三、于陶瓷阻隔層上采用磁控濺射法形成一層金屬納米層;
步驟四、于金屬納米層上采用濕法涂布技術(shù)形成一層丙烯酸酯層;
步驟五、于丙烯酸酯層上將步驟二~步驟四的操作重復(fù)一次,最終得到的薄膜自基底層向上依次為第一陶瓷阻隔層、第一金屬納米層、第一丙烯酸酯層、第二陶瓷阻隔層、第二金屬納米層、第二丙烯酸酯層。
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