[發明專利]測量設備點檢方法及運行控制裝置、計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202011463864.9
• 申請日: 2020-12-14
• 公開（公告）號: CN112577456B
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發明（設計）人: 周雪斌;萬海林;方掙掙
• 申請（專利權）人: 欣旺達電子股份有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 黃廣龍

本發明公開了一種測量設備點檢方法，其特征在于，包括以下步驟：獲取若干級判定物料組；獲取判定物料組的每一判定物料的測量值；將每一測量值與初測值數據庫進行匹配，獲取每一判定物料的單點偏差率；根據每一判定物料的單點偏差率，獲取第一平均偏差率；根據第一平均偏差率，確定測量設備的準確性；若第一平均偏差率不在預設范圍，獲取下一級判定物料組的第二平均偏差率；根據第二平均偏差率，確定測量設備的準確性。通過本發明的測量設備點檢方法無需制作仿形標定塊，直接采用判定物料組進行點檢，減少標定塊的制作成本與工時，同時能快速準確地得到點檢結果；同時測量多個判定物料進行點檢，節省時間，提升點檢效率。

技術領域

本發明涉及電池PACK制造領域，特別涉及一種測量設備點檢方法及運行控制裝置、計算機可讀存儲介質。

背景技術

傳統的判定方式是定做一個完全模仿鋰離子電池的外形尺寸來加工制作的標定塊，尺寸精準，經專業檢測機構鑒定，具備尺寸標準值，測量設備在測量標定塊之后，比較測量值與標定值之間的差異，從而判定測量設備的穩定性。

但是在實際情況中，由于產品的結構形狀、光澤度等因素，制作標定塊的難度非常大，成本極高，甚至無法制作；仿形標定塊極其難以加工，耗費大量人力，時間和資金去驗證，實際結果不理想，不能實現測量設備的準確點檢。

發明內容

本發明的目的在于至少解決現有技術中存在的技術問題之一，提供一種測量設備點檢方法，直接對實際產品進行點檢，無需定制標定塊，減少成本，同時能夠符合點檢要求。

根據本發明第一方面實施例的測量設備點檢方法，包括以下步驟：

獲取若干級判定物料組，其中，所述判定物料組的等級序列根據判定物料的使用頻次確定；

獲取判定物料使用頻次最高對應的所述判定物料組的每一判定物料的測量值；

將每一所述測量值與初測值數據庫進行匹配，獲取每一所述判定物料的單點偏差率；

根據每一所述判定物料的單點偏差率，獲取第一平均偏差率；

根據所述第一平均偏差率，確定測量設備的準確性；

若所述第一平均偏差率不在預設范圍，則獲取下一級判定物料組的第二平均偏差率，其中該下一級判定物料組的判定物料使用頻次相較前一次使用的判定物料組的使用頻次低；

根據所述第二平均偏差率，確定所述測量設備的準確性。

根據本發明實施例的測量設備準確性判定方法，至少具有如下技術效果：通過本發明的測量設備準確性判定方法無需制作仿形標定塊，直接采用判定物料組進行點檢，減少標定塊的制作成本與工時，同時能快速準確地得到點檢結果；同時測量多個判定物料進行點檢，節省時間，提升點檢效率。

根據本發明的一些實施例，在所述獲取每一所述判定物料的單點偏差率之后，所述測量設備點檢方法包括以下步驟：

若所述單點偏差率小于第一預設值，則判定為合格，進行下一個單點偏差率的判定；或，

若所述單點偏差率大于所述第一預設值，則判定為不合格，重新獲取當前所述單點偏差率，再次對重新獲取的單點偏差率進行判定。

根據本發明的一些實施例，所述根據所述第一平均偏差率，確定測量設備的準確性，包括：

若所述第一平均偏差率小于第二預設值，則確定測量設備準確性合格。

根據本發明的一些實施例，所述若所述第一平均偏差率不在預設范圍，獲取下一級判定物料組的第二平均偏差率，還包括：

若所述第一平均偏差率大于第二預設值，則重新獲取當前所述第一平均偏差率；

將重新獲取的第一平均偏差率與所述第二預設值進行比較；