[發(fā)明專利]一種隔離開關(guān)觸指檢測系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011461124.1 | 申請日: | 2020-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN112378865A | 公開(公告)日: | 2021-02-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉源;彭友仙;胡怡;李瑞花;包衛(wèi)軍;江景祎;許淡明;陳俊坡;林希 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司;廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司惠州供電局 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
| 地址: | 510000 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 隔離 開關(guān) 檢測 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明屬于隔離開關(guān)觸指檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種隔離開關(guān)觸指檢測系統(tǒng),包括殼體、采光室、采光鏡、抬升機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、集成控制模塊和檢測機(jī)構(gòu),殼體上設(shè)置有通孔,通孔沿殼體軸向方向延伸;采光室滑動(dòng)安裝于殼體內(nèi);采光鏡與采光室固定連接,采光鏡的一端伸入采光室,另一端伸出通孔;抬升機(jī)構(gòu)安裝于殼體內(nèi)部,能夠帶動(dòng)采光室上下抬升;旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)安裝于殼體底部,能夠帶動(dòng)殼體和采光室同步轉(zhuǎn)動(dòng);集成控制模塊與抬升機(jī)構(gòu)和旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)通訊連接,能夠控制采光室移動(dòng)至設(shè)定位置;檢測機(jī)構(gòu)能夠?qū)Σ晒馐覂?nèi)的弧光進(jìn)行光譜分析并判斷觸指的狀態(tài)。本發(fā)明整體自動(dòng)化程度高,無需復(fù)雜項(xiàng)目操作,可完成遠(yuǎn)程檢測,大大的提高了檢測效率和準(zhǔn)確率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及隔離開關(guān)觸指檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種隔離開關(guān)觸指檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
由于隔離開關(guān)長期暴露于戶外環(huán)境,隔離開關(guān)上觸指表面的鍍銀層易因氧化、摩擦和電弧燒蝕,導(dǎo)致觸指表面的鍍銀層脫落進(jìn)而使觸指發(fā)熱。因此,對于常年使用的隔離開關(guān),有必要關(guān)注其觸指表面鍍銀層的狀態(tài)。目前常用的判斷鍍銀層狀態(tài)的手段主要是用厚度儀或人眼觀察,需要工作人員將觸指拆解后放置到特定環(huán)境下進(jìn)行測量,操作難度大,觸指拆裝過程復(fù)雜且極易造成損傷,檢修效率低下,消耗大量的人力物力;且上述方法只能用于有檢修計(jì)劃的隔離開關(guān),對于沒有檢修計(jì)劃的隔離開關(guān),工作人員不能隨意拆除觸指進(jìn)行測量,缺乏可以遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)檢測觸指鍍銀層狀態(tài)的手段。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種隔離開關(guān)觸指檢測系統(tǒng),突破人工觸頭檢測方法的局限性,自動(dòng)化程度高,無需復(fù)雜項(xiàng)目操作,拉動(dòng)刀閘產(chǎn)生弧光即可完成遠(yuǎn)程檢測,提高了檢測效率和準(zhǔn)確率。
為達(dá)此目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
一種隔離開關(guān)觸指檢測系統(tǒng),包括:
殼體,所述殼體上設(shè)置有通孔,所述通孔沿所述殼體軸向方向延伸;
采光室,滑動(dòng)安裝于所述殼體內(nèi);
采光鏡,與所述采光室固定連接,所述采光鏡的一端伸入所述采光室,另一端伸出所述通孔;
抬升機(jī)構(gòu),安裝于所述殼體內(nèi)部,所述抬升機(jī)構(gòu)能夠帶動(dòng)所述采光室上下抬升;
旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu),安裝于所述殼體底部,所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)能夠帶動(dòng)所述殼體和所述采光室同步轉(zhuǎn)動(dòng);
集成控制模塊,與所述抬升機(jī)構(gòu)和所述旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)通訊連接,所述集成控制模塊能夠控制所述采光室移動(dòng)至設(shè)定位置,使得弧光通過所述采光鏡進(jìn)入所述采光室;以及
檢測機(jī)構(gòu),能夠?qū)λ霾晒馐覂?nèi)的弧光進(jìn)行光譜分析,并根據(jù)光譜分析結(jié)果判斷觸指的狀態(tài)。
進(jìn)一步地,所述抬升機(jī)構(gòu)包括:
蝸輪,轉(zhuǎn)動(dòng)安裝于所述殼體內(nèi);
蝸桿,與所述蝸輪嚙合,所述蝸桿與所述采光室底部固定連接;
抬升底座,置于所述殼體內(nèi),與所述殼體底部固定連接;以及
緩沖件,能夠沿軸向伸縮,所述緩沖件的兩端分別與所述蝸桿和所述抬升底座固定連接,所述蝸輪轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)能夠帶動(dòng)所述采光室在所述殼體內(nèi)上下抬升。
進(jìn)一步地,所述抬升機(jī)構(gòu)還包括有抬升驅(qū)動(dòng)組件,所述抬升驅(qū)動(dòng)組件能夠帶動(dòng)所述蝸輪轉(zhuǎn)動(dòng);
所述抬升驅(qū)動(dòng)組件包括抬升驅(qū)動(dòng)裝置和抬升控制模塊,所述抬升驅(qū)動(dòng)裝置的輸出端與所述蝸輪固定連接;所述抬升控制模塊內(nèi)設(shè)置有高度存儲器,所述高度存儲器內(nèi)設(shè)置有高度位置數(shù)據(jù)庫,所述集成控制模塊發(fā)出控制指令后,所述抬升控制模塊接收所述控制指令,從所述高度位置數(shù)據(jù)庫內(nèi)調(diào)出高度位置數(shù)據(jù),并控制所述抬升驅(qū)動(dòng)裝置轉(zhuǎn)動(dòng),將所述采光鏡抬升至指定高度。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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