[發明專利]一種利用SH波測量套管井固井膠結質量的方法及系統

在審

• 申請號: 202011456530.9
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN112593926A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 沈永進;汪文潔
• 申請（專利權）人: 北京華暉探測科技股份有限公司
• 主分類號: E21B47/005
• 分類號: E21B47/005
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種利用SH波測量套管井固井膠結質量的方法，其特征在于，包括：

在套管井中將發射探頭推靠到井壁，通過所述發射探頭在套管內壁上激發沿圓周方向振動，各個方位角的振動幅度一致的SH波；

在設定的源距位置處將接收探頭推靠到井壁，通過所述接收探頭接收套管中沿圓周方向振動、沿z方向傳播的SH波；

判斷接收到的所述SH波的幅度是否大于設定幅度閾值；

若接收到的SH波的波形幅度大于設定幅度閾值，則說明所述I界面或所述II界面膠結質量差；

若接收到的SH波的波形幅度小于或等于設定幅度閾值，則說明所述I界面和所述II界面的膠結質量都好；

當I界面或II界面膠結質量差時，用多個不同源距接收到的波形通過相位法處理獲取頻散曲線；

根據所述頻散曲線的形狀和個數，確定界面膠結質量結果，所述界面膠結質量結果為I界面膠結質量差和II界面膠結質量差。

2.根據權利要求1所述的利用SH波測量套管井固井膠結質量的方法，其特征在于，所述根據所述頻散曲線的形狀和個數，確定界面膠結質量結果，所述界面膠結質量結果為I界面膠結質量差和II界面膠結質量差，具體包括：

當所述頻散曲線只有一條過原點的直線和一條雙曲線時，所述I界面膠結質量差；

當所述頻散曲線有多條時，確定所述II界面膠結質量差。

3.根據權利要求1所述的利用SH波測量套管井固井膠結質量的方法，其特征在于，所述在套管井中將發射探頭推靠到井壁，通過所述發射探頭在套管內壁上激發沿圓周方向振動，各個方位角的振動幅度一致的SH波，SH波為軸對稱結構，具體包括：

在同一深度位置用多個推靠臂將多個沿圓周均勻分布的發射探頭的發射振子推靠到套管內壁，同時激發得到多個振動位移相同的沿圓周方向均勻分布的軸對稱振動，所述軸對稱振動為SH波，各所述發射探頭包含多個用于同時激發相同振動位移的發射振子。

4.根據權利要求1所述的利用SH波測量套管井固井膠結質量的方法，其特征在于，所述接收探頭分布在沿井軸不同的深度位置。

5.一種利用SH波測量套管井固井膠結質量的系統，其特征在于，包括：

SH波發射模塊，用于在套管井中將發射探頭推靠到井壁，通過所述發射探頭在套管內壁上激發沿圓周方向振動，各個方位角的振動幅度一致的SH波；

SH波接收模塊，用于在設定的源距位置處將接收探頭推靠到井壁，通過所述接收探頭接收套管中沿圓周方向振動、沿z方向傳播的SH波；

判斷模塊，用于判斷接收到的所述SH波的幅度是否大于設定幅度閾值；

第一判斷結果確定模塊，用于當接收到的SH波的波形幅度大于設定幅度閾值時，確定I界面或II界面膠結質量差；

第二判斷結果確定模塊，用于當接收到的SH波的波形幅度小于或等于設定幅度閾值時，確定I界面和II界面的膠結質量都好；

頻散曲線獲取模塊，用于當I界面或II界面膠結質量差時，用多個不同源距接收到的波形通過相位法處理獲取頻散曲線；

界面膠結質量結果確定模塊，用于根據所述頻散曲線的形狀和個數，確定界面膠結質量結果，所述界面膠結質量結果為I界面膠結質量差和II界面膠結質量差。

6.根據權利要求5所述的利用SH波測量套管井固井膠結質量的系統，其特征在于，所述界面膠結質量結果確定模塊，具體包括：

I界面膠結質量差確定單元，用于當所述頻散曲線只有一條過原點的直線和一條雙曲線時，確定所述I界面膠結質量差；

II界面膠結質量差確定單元，用于當所述頻散曲線有多條時，確定所述II界面膠結質量差。

7.根據權利要求5所述的利用SH波測量套管井固井膠結質量的系統，其特征在于，所述SH波發射模塊，具體包括：

SH波發射單元，在同一深度位置用多個推靠臂將多個沿圓周均勻分布的發射探頭的發射振子推靠到套管內壁，同時激發得到多個振動位移相同的沿圓周方向均勻分布的軸對稱振動，所述軸對稱振動為SH波，各所述發射探頭包含多個用于同時激發相同振動位移的發射振子。

8.根據權利要求5所述的利用SH波測量套管井固井膠結質量的系統，其特征在于，所述接收探頭分布在沿井軸不同的深度位置。