[發明專利]高分辨率圖像目標檢測方法及系統

有效

• 申請號: 202011455217.3
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN112541431B
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發明（設計）人: 楊明浩;黃雷
• 申請（專利權）人: 中國科學院自動化研究所
• 主分類號: G06V20/10
• 分類號: G06V20/10;G06V20/40;G06T7/10
• 代理公司: 北京市恒有知識產權代理事務所(普通合伙) 11576
• 代理人: 郭文浩;尹文會

1.一種高分辨率圖像目標檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括：

根據待檢高分辨率圖像的尺寸，確定所述待檢高分辨率圖像的分塊基準比例大小；

確定所述待檢高分辨率圖像的分塊基準比例大小α的公式為：

其中，M表示待檢高分辨率圖像的寬，N表示待檢高分辨率圖像的高；

根據所述待檢高分辨率圖像的尺寸、分塊基準比例大小，以及待檢目標的最大尺寸，對所述待檢高分辨率圖像進行分塊，得到多個基準塊圖像；具體包括：

根據所述待檢高分辨率圖像的尺寸、分塊基準比例大小，確定基準塊大小：

其中，w表示基準塊的寬度，h表示基準塊的高度，M表示待檢高分辨率圖像的寬度，N表示待檢高分辨率圖像的高度，α表示分塊基準比例大小，K表示橫向分塊個數，且橫向分塊個數與縱向分塊個數相同；

根據所述待檢目標的最大尺寸，確定重疊區域的寬度和高度；

確定所述待檢高分辨率圖像的實際切分數量m×n的公式為：

其中，O_w表示重疊區域的寬度，O_h表示重疊區域的高度，Δw表示設定填充寬度，Δh表示設定填充高度，W表示待檢高分辨率圖像的寬度，H表示待檢高分辨率圖像的高度；

根據所述實際切分數量，對所述待檢高分辨率圖像進行分塊，得到多個基準塊圖像；其中，第i個基準塊圖像的寬度為w_i＝i×w、高度為h_i＝i×h；

針對每一基準塊圖像，通過檢測設備檢測所述基準塊圖像中的目標，確定檢測時間；

根據各檢測時間及各基準塊圖像，確定分塊效率函數；

根據所述分塊效率函數，確定最優分塊比例；

根據所述最優分塊比例，對所述待檢高分辨率圖像進行二次分塊，得到多個子圖像；

通過檢測設備檢測各子圖像中的目標。

2.根據權利要求1所述的高分辨率圖像目標檢測方法，其特征在于，所述重疊區域的寬度為所述待檢目標的最大寬度的2～5倍。

3.根據權利要求1所述的高分辨率圖像目標檢測方法，其特征在于，所述重疊區域的高度為所述待檢目標的最大高度的2～5倍。

4.根據權利要求1所述的高分辨率圖像目標檢測方法，其特征在于，所述根據各檢測時間及各基準塊圖像，確定分塊效率函數，具體包括

對第i個基準塊圖像進行歸一化處理，獲得歸一化后的對應于i的時間效率t_i：

其中，τ_i表示檢測設備檢測第i個基準塊圖像中的目標所用時間；

通過二次函數曲線擬合得到歸一化后的分塊效率函數Y：

其中，a、b、c分別表示二次函數的關鍵參數。

5.根據權利要求4所述的高分辨率圖像目標檢測方法，其特征在于，所述根據所述分塊效率函數，確定最優分塊比例，具體包括：

針對分塊效率函數取Y_i的最小值ε_j，對j取整確定最優分塊比例(w_s,h_s)；a、b、c分別表示二次函數的關鍵參數，t_i表示歸一化后的對應于i的時間效率。