[發明專利]光學距離計算裝置和距離計算的方法

在審

• 申請號: 202011451898.6
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN112946671A
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發明（設計）人: A·奧特
• 申請（專利權）人: 邁來芯科技有限公司
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08;G01S7/481
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 何焜;黃嵩泉

1.一種光學距離計算裝置，包括：

光源，被配置為根據間接飛行時間測量技術發射光；

光子混合器單元，被配置為生成并存儲分別與根據所述間接飛行時間測量技術所施加的多個預定相位偏移值相對應的多個電輸出信號；

信號處理電路，被配置為根據所述間接飛行時間測量技術處理所述多個電輸出信號，以便計算測量向量和來自所述測量向量的所測量的相位角；其中

所述信號處理電路被配置為使用參考照明數據來計算相位角校正值并且施加所計算的相位角校正值，以便校正所述所測量的相位角；并且

所述信號處理電路被配置為使用經校正的所測量的相位角來計算距離。

2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述參考照明數據是由所述光源所發射的光的波形模型的先驗知識。

3.如權利要求2所述的裝置，進一步包括：

數據存儲，被配置為存儲多個輸入相位角和分別與所述多個輸入相位角相關聯的多個相位角校正值；其中

使用由所述光源所發射的所述光的所述波形模型來預計算所述多個相位角校正值；以及

所述信號處理電路被配置為訪問所述數據存儲并且提供與所述所測量的相位角相對應的所述相位角校正值，并且將所述相位角校正值施加到所述所測量的相位角以產生所述經校正的所測量的相位角。

4.如權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述數據存儲被配置為存儲查找表，所述查找表包括所述多個輸入相位角和所述多個相位角校正值。

5.如權利要求2或權利要求3或權利要求4所述的裝置，其特征在于，由所述光源所發射的所述光的所述波形模型被用于計算與預定相位角相對應的所估計的相位角，并且從所述所估計的相位角和與其相關聯的所述預定相位角來計算所述相位校正值。

6.如權利要求1所述的裝置，其特征在于

所述信號處理電路被配置為采用第一相位角計算技術和第二相位角計算技術，所述信號處理電路被配置為響應于根據所述間接飛行時間測量技術在時間幀中施加的所采用的所述多個預定相位偏移值的總數，選擇所述第一相位角計算技術來計算第一相位角校正作為相位角校正值，或者選擇所述第二相位角計算技術來計算第二相位角校正作為相位角校正值。

7.如權利要求2-4中任一項所述的裝置，其特征在于，所述信號處理電路被配置為測量所發射的光的循環的傾斜時間，并且使用所測量的斜率來配置所發射的所述光的所述波形模型。

8.如權利要求1或權利要求2所述的裝置，其特征在于

所述信號處理電路被配置為從計算所述所測量的相位角的測量向量計算所測量的振幅；以及

所述信號處理電路被配置為將振幅校正值施加到所述所測量的振幅以提供經校正的所測量的振幅。

9.如權利要求8所述的裝置，當從屬于權利要求2時，其特征在于

由所述光源所發射的所述光的所述波形模型被用于計算與預定相位角相對應的所估計的相位角；以及

由所述光源所發射的所述光的所述波形模型被用于計算所述測量向量的所估計的振幅值，所述振幅校正值由所估計的振幅值導出。

10.如權利要求8所述的裝置，其特征在于

所述信號處理電路被配置為采用第一振幅計算技術和第二振幅計算技術，所述信號處理電路被配置為響應于根據所述間接飛行時間測量技術在時間幀中施加的所采用的所述多個預定相位偏移值的總數，選擇所述第一振幅計算技術來提供第一振幅校正值作為振幅校正值，或者選擇所述第二振幅計算技術來提供第二振幅校正值作為振幅校正值。